本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)提供一種存儲(chǔ)器失效地址的輸出方法及相關(guān)設(shè)備,用以解決現(xiàn)有的存儲(chǔ)器失效地址輸出過(guò)程效率較低的問(wèn)題。上述方法包括:獲取目標(biāo)存儲(chǔ)器的結(jié)構(gòu)信息;根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)記錄失效信息,測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試設(shè)備對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器測(cè)試后得到的失效地址,失效信息包含目標(biāo)存儲(chǔ)器中每個(gè)層級(jí)包含的失效地址數(shù)量;根據(jù)失效信息按照層級(jí)進(jìn)行分析,確定目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類型,其中,失效類型包括第一失效類型及第二失效類型,第一失效類型用于表征目標(biāo)存儲(chǔ)器中失效單元按照整個(gè)層級(jí)失效,第二失效類型用于表征失效單元呈散點(diǎn)分布;根據(jù)預(yù)設(shè)輸出策略,按照失效類型選取對(duì)應(yīng)的輸出方式進(jìn)行輸出,其中,預(yù)設(shè)輸出策略中包含有每個(gè)失效類型對(duì)應(yīng)的輸出方式。
聲明:
“存儲(chǔ)器失效地址的輸出方法及相關(guān)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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