本發(fā)明公開(kāi)了一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)的IGBT模塊狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)及方法,包括構(gòu)建BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);以集電極?發(fā)射極電壓VCE、集電極電流IC、感應(yīng)電壓VeE、開(kāi)關(guān)頻率fPWM、殼溫T參量作為系統(tǒng)輸入量,分別進(jìn)行歸一化處理;數(shù)據(jù)輸入步驟1得到的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),輸出IGBT模塊狀態(tài)。本發(fā)明揭示了IGBT器件失效演化規(guī)律,提出了基于IGBT結(jié)溫的IGBT器件健康狀態(tài)的三個(gè)等級(jí),分別為正常(N)、中度退化(M)和重度退化(S),從而更加精準(zhǔn)的反映IGBT老化程度。
聲明:
“基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)的IGBT模塊狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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