本發(fā)明提供一種基于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)，所述基于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法根據(jù)測(cè)試的每個(gè)管腳的實(shí)際輸出信號(hào)與期望輸出信號(hào)，得到失效的管腳的名稱、失效的管腳的失效數(shù)據(jù)、失效的信號(hào)周期位置以及失效的管腳的最大失效周期數(shù)，并將其以標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式記錄至固定數(shù)據(jù)格式文件中；通過(guò)分析所述固定數(shù)據(jù)格式文件來(lái)修改測(cè)試向量源文件，以得到新的測(cè)試向量源文件；通過(guò)所述新的測(cè)試向量源文件對(duì)所述芯片的管腳進(jìn)行測(cè)試。如此，通過(guò)測(cè)試結(jié)果可快速、準(zhǔn)確的定位失效的管腳，以及實(shí)現(xiàn)對(duì)失效的信號(hào)周期的統(tǒng)計(jì)，可方便有效的獲取失效的情況，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試向量源文件的修改，節(jié)省了時(shí)間以及縮短了項(xiàng)目周期。