本發(fā)明公開了一種提高Serdes?IP晶圓測試效率的方法,包括以下步驟:S10:對晶圓測試的MAP圖進行實時讀取,記錄相應(yīng)坐標(biāo)、測試結(jié)果以及失效分類信息;S20:分析是否存在某個site測試明顯比其他site失效要多,或者某個site有連續(xù)的失效,若存在,則一旦site間差異失效數(shù)或連續(xù)失效數(shù)超出預(yù)設(shè)數(shù)量時進行該項目失效報警;S30:針對區(qū)域失效的特點,設(shè)計相應(yīng)的算法完成統(tǒng)計,通過該方法的實現(xiàn)可以自動快速的對測試結(jié)果進行分析,針對Serdes?IP對測試硬件較敏感的特性,能夠及早的發(fā)現(xiàn)并排除隱患,減少誤測,以及對區(qū)域失效能快速的提取分析,大大減少人工數(shù)據(jù)分析的工作量,提高Serdes?IP晶圓測試生產(chǎn)的效率。
聲明:
“提高Serdes IP晶圓測試效率的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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