本發(fā)明公開了一種硬盤性能測試方法,預(yù)先將服務(wù)器系統(tǒng)內(nèi)各硬盤配置成滿足于順序?qū)?、隨機(jī)寫、順序讀、隨機(jī)讀四操作的硬盤;在對(duì)任一硬盤進(jìn)行預(yù)設(shè)測試時(shí)長的測試時(shí),將服務(wù)器系統(tǒng)內(nèi)的風(fēng)扇從最低轉(zhuǎn)速以固定增長速率增長至最高轉(zhuǎn)速,并分別獲取此硬盤在不同風(fēng)扇轉(zhuǎn)速下執(zhí)行任一操作時(shí)的吞吐率和傳感器溫度值;根據(jù)各硬盤對(duì)應(yīng)的吞吐率和傳感器溫度值分析各硬盤的性能??梢?,本申請(qǐng)模擬的測試環(huán)境結(jié)合了不同風(fēng)扇轉(zhuǎn)速測試場景,相當(dāng)于模擬了服務(wù)器系統(tǒng)內(nèi)風(fēng)扇轉(zhuǎn)數(shù)掉數(shù)、失效這一系統(tǒng)異常問題對(duì)硬盤性能的影響,從而提高了硬盤的性能測試結(jié)果。本發(fā)明還公開了一種硬盤性能測試系統(tǒng)及裝置,與上述硬盤性能測試方法具有相同的有益效果。
聲明:
“硬盤性能測試方法、系統(tǒng)及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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