本發(fā)明提供了批量實(shí)現(xiàn)電子延期模塊老化實(shí)驗(yàn)的測試系統(tǒng)及方法,其操作簡單方便,可批量對電子延期模塊進(jìn)行帶電老化測試,從而降低產(chǎn)品的早期失效率,減輕人力工作量,并可實(shí)時(shí)監(jiān)測工作狀態(tài);批量實(shí)現(xiàn)電子延期模塊老化實(shí)驗(yàn)的測試系統(tǒng)包括老化測試工裝,用于對至少一路待測樣品施加老化測試條件;采集裝置,與所述老化測試工裝之間相連接,用于對所述待測樣品進(jìn)行電流采樣,并將電流采樣測試數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)控制裝置;上位機(jī)控制裝置,與所述采集裝置之間通信連接,用于發(fā)送測試信號指令,接收所述采集裝置發(fā)送的電流采樣測試數(shù)據(jù),對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲分析,并對所述待測樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)狀態(tài)監(jiān)測。
聲明:
“批量實(shí)現(xiàn)電子延期模塊老化實(shí)驗(yàn)的測試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)