本發(fā)明公開了一種帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法，包括如下步驟：步驟一，通過讀取CP1通過標(biāo)記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP1測(cè)試；若通過則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；步驟二，通過讀取CP2通過標(biāo)記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測(cè)試；若通過則測(cè)試結(jié)束，返回通過結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行；步驟三，通過讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；步驟四，通過寫及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效。本發(fā)明能夠保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性并節(jié)省復(fù)測(cè)時(shí)間。