本申請涉及存儲器的設計與制造領域,具體而言,涉及一種存儲器測試方法、設備及系統(tǒng)。本申請實施例提供的存儲器測試方法,包括:根據(jù)上位機發(fā)送的測試方式指示信息,生成目標存儲區(qū)域中每個存儲位對應的測試數(shù)據(jù),目標存儲區(qū)域位于被測存儲器中;針對目標存儲區(qū)域中的每個存儲位,將存儲位對應的測試數(shù)據(jù)寫入存儲位中;從目標存儲區(qū)域中的每個存儲位中讀取實際數(shù)據(jù);對目標存儲區(qū)域中每個存儲位對應的測試數(shù)據(jù)和實際數(shù)據(jù)進行對比,獲得地址失效測試結果。本申請實施例提供的存儲器測試方法能夠實現(xiàn)被測存儲器的地址失效測試,且能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。
聲明:
“存儲器測試方法、設備及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)