本申請(qǐng)涉及一種光電探測器壽命評(píng)估方法、裝置。通過確定光電探測器的擊穿電壓以及位于光電探測器的工作電壓與擊穿電壓之間的多個(gè)第一測試電壓，在多個(gè)第一測試電壓一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)光電探測器組中各光電探測器滿足預(yù)設(shè)環(huán)境條件下，對(duì)各光電探測器施加對(duì)應(yīng)的第一測試電壓，按照預(yù)設(shè)的時(shí)間間隔，獲取各光電探測器的暗信號(hào)值，進(jìn)一步根據(jù)暗信號(hào)值以及預(yù)設(shè)失效暗信號(hào)值，確定各光電探測器的有效使用時(shí)長，從而根據(jù)有效使用時(shí)長以及多個(gè)第一測試電壓，確定壽命評(píng)估模型，實(shí)現(xiàn)對(duì)待評(píng)估光電探測器的壽命評(píng)估。由于光電探測器在失效機(jī)理方面對(duì)電場更加敏感，可以加快光電探測器的失效退化，確定壽命評(píng)估模型，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)光電探測器壽命的快速評(píng)估。