本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品分數(shù)階神經(jīng)網(wǎng)絡性能退化模型及壽命預測方法，具體步驟為：(1)對受試電子產(chǎn)品進行恒定應力加速壽命試驗，獲得不同應力等級下的性能退化數(shù)據(jù)；(2)使用(1)步中得到的性能退化數(shù)據(jù)，利用灰色理論中的GM(1，1)模型計算得到待預測應力T0下的性能退化數(shù)據(jù)；(3)利用(2)步中得到的應力T0下的性能退化數(shù)據(jù)訓練分數(shù)階神經(jīng)網(wǎng)絡；(4)利用(3)步中訓練好的分數(shù)階神經(jīng)網(wǎng)絡進行滾動多步預測；(5)將(4)步中的預測值與電子產(chǎn)品的失效閾值相比較，預測失效時間，從而確定電子產(chǎn)品壽命。本發(fā)明的電子產(chǎn)品壽命預測方法，適用于在不同應力下建立性能退化模型，無需考慮電子產(chǎn)品的失效機理，實現(xiàn)簡單，預測精度高。
聲明：
“電子產(chǎn)品分數(shù)階神經(jīng)網(wǎng)絡性能退化模型及壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
782
編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
分享 0
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
中冶有色技術平臺
2025年03月21日 ~ 23日 
