本發(fā)明涉及聲子晶體領(lǐng)域,公開了一種聲子晶體時(shí)變可靠性測(cè)試方法、計(jì)算設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),并包括步驟:根據(jù)聲子晶體的參數(shù)確定樣本空間;根據(jù)樣本空間和聲子晶體的失效條件構(gòu)建可靠性測(cè)試模型;根據(jù)可靠性測(cè)試模型構(gòu)建神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;根據(jù)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型和樣本空間預(yù)測(cè)聲子晶體在服役時(shí)間內(nèi)的失效率。本發(fā)明通過構(gòu)建聲子晶體的可靠性測(cè)試模型,在通過可靠性測(cè)試模型構(gòu)建神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,能夠預(yù)測(cè)聲子晶體在服役時(shí)間內(nèi)的失效率,避免了由于缺少聲子晶體的參數(shù),而無法判斷聲子晶體的性能,實(shí)現(xiàn)了對(duì)聲子晶體在服役時(shí)間內(nèi)性能表現(xiàn)的確定。
聲明:
“聲子晶體時(shí)變可靠性測(cè)試方法、計(jì)算設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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