本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試系統(tǒng),用以測(cè)試待測(cè)裝置,測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試裝置以及雜訊產(chǎn)生模塊。測(cè)試裝置耦接于待測(cè)裝置,以形成耦接路徑,并用以通過(guò)耦接路徑輸出測(cè)試信號(hào)至待測(cè)裝置。雜訊產(chǎn)生模塊耦接于待測(cè)裝置與測(cè)試裝置之間的耦接路徑,并用以選擇性地干擾測(cè)試信號(hào)。本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)可在測(cè)試時(shí)率先篩選出會(huì)因?yàn)殡s訊干擾而運(yùn)作失效的待測(cè)裝置以避免待測(cè)裝置在實(shí)際應(yīng)用時(shí)因?yàn)殡s訊干擾失效,且還可根據(jù)待測(cè)裝置在不同產(chǎn)品中的應(yīng)用狀況進(jìn)行客制化的測(cè)試。
聲明:
“測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)