一種非致冷半導體激光器的老化測試系統(tǒng)，所述測試接口板與控制板連接，所述控制板的輸出端與顯示器連接；所述控制板包括ADC
芯片，MCU控制器和為非制冷半導體激光器供電的可調(diào)驅(qū)動電路，所述測試接口板與所述可調(diào)驅(qū)動電路連接，所述ADC芯片采集所述可調(diào)驅(qū)動電路的電壓信號，并轉(zhuǎn)為數(shù)字信號傳遞到MCU控制器的輸入端，所述MCU控制器將所述數(shù)字信號進行處理并通過輸出端與顯示器連接。本實用新型是為了提高非制冷半導激光器的可靠性和穩(wěn)定性而設計的一種老化測試系統(tǒng)。在高100℃環(huán)境下，通過上電老化測試，給非制冷半導體激光器提供一個穩(wěn)定的受控電流，并實時監(jiān)測激光器的實際工作電流，以達到可靠性篩選的目的，將早期失效產(chǎn)品濾除。
聲明：
“非致冷半導體激光器的老化測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
959
編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
分享 0
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
中冶有色技術平臺
2025年03月21日 ~ 23日 
