本發(fā)明提供一種實驗室設(shè)備使用壽命預測系統(tǒng)和方法,所述系統(tǒng)包括互感器組件、數(shù)據(jù)采集單元和數(shù)據(jù)處理單元,所述方法首先結(jié)合試驗室設(shè)備結(jié)構(gòu)、歷史運行數(shù)據(jù)和環(huán)境,建立試驗室設(shè)備故障樹,確定能表征試驗室設(shè)備性能退化的特征量以確定試驗室設(shè)備壽命的失效閾值,數(shù)據(jù)采集單元實時采集互感器組件轉(zhuǎn)換的電流信號,數(shù)據(jù)處理單元實現(xiàn)對于試驗室設(shè)備使用壽命的預測,使工作人員能夠及時排除故障,保證試驗室設(shè)備7*24小時的安全運行。
聲明:
“實驗室設(shè)備使用壽命預測系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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