本實(shí)用新型提供了IGBT壽命測(cè)試裝置，其包括：一個(gè)選擇模塊，其連接于復(fù)數(shù)個(gè)IGBT模塊，用于選通復(fù)數(shù)個(gè)IGBT模塊的其中一個(gè)或多個(gè)進(jìn)行測(cè)試；一個(gè)采樣模塊，其用于采集所述選擇模塊選取的一個(gè)或多個(gè)IGBT模塊的發(fā)射極集電極電壓；一個(gè)調(diào)理模塊，其用于接收來(lái)自所述采樣模塊的一個(gè)或多個(gè)IGBT模塊的發(fā)射極集電極電壓，并將發(fā)射極集電極電壓放大；一個(gè)比較模塊，其中預(yù)存有一閾值電壓，所述比較模塊用于接收所述調(diào)理模塊放大后的發(fā)射極集電極電壓與所述閾值電壓進(jìn)行比較，當(dāng)所述放大后的發(fā)射極集電極電壓小于所述閾值電壓時(shí)，則判斷該發(fā)射極集電極電壓對(duì)應(yīng)的IGBT模塊失效并觸發(fā)報(bào)警信號(hào)。本實(shí)用新型造價(jià)低、可靠性高，其算法簡(jiǎn)單可靠有效，并具有更高的響應(yīng)速度。