本發(fā)明公開了一種防止探針卡燒針的方法,在對(duì)樣品進(jìn)行失效分析的測(cè)試過程中,進(jìn)行如下步驟:第1步,對(duì)樣品進(jìn)行開短路測(cè)量;第2步,進(jìn)行電源短路預(yù)測(cè)量,判斷電源短路預(yù)測(cè)量的失效情況;第3步,進(jìn)行電源短路測(cè)量,并判斷電源短路測(cè)量的失效情況;第4步,進(jìn)行上電功能測(cè)試。本發(fā)明所述的防止探針卡燒針的方法,在常規(guī)的失效分析方法中,增加電源短路預(yù)測(cè)量以及電源短路測(cè)量步驟,將有短路特征的
芯片首先篩選出來,后續(xù)測(cè)試避開這些短路的芯片,能有效防止探針卡燒針。
聲明:
“防止探針卡燒針的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)