本發(fā)明公開一種基于MooN架構獲取定期試驗周期的計算方法,將N個通道的正常狀態(tài)與失效狀態(tài)進行不同組合,以得到N個通道中N-M+1個通道失效的系統(tǒng)失效組合,其中,假設每個通道的失效率λ相同,針對安全系統(tǒng)的定期試驗周期為T,定期試驗帶來的風險降低為Q,利用上述設定通過對通道的組合方式分析得到的結果,與T進行比較,當兩者接近時即可得到待測系統(tǒng)的定期試驗周期。本發(fā)明根據(jù)通用可靠性理論和核電中關于定期試驗周期的計算方法,解決了在不同的試驗策略下,不同的符合邏輯情況下的通用邏輯符合結構進行初始試驗周期的確定方法,本發(fā)明思路方法明確,公式統(tǒng)一,能夠適用于所有的邏輯結構。
聲明:
“基于MooN架構獲取定期試驗周期的計算方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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