本發(fā)明公開了一種機(jī)載電子信息裝備BIT虛警率預(yù)計(jì)的方法,涉及電路產(chǎn)品測(cè)試性設(shè)計(jì)領(lǐng)域,包括待分析的電子信息裝備及構(gòu)成所述電子信息裝備的元器件,該方法還包括以下步驟:獲取所述電子信息裝備的失效率記為λ
s及所述電子信息裝備內(nèi)BITE裝置及監(jiān)測(cè)電路總的失效率記為λ
n;獲取所述電子信息裝備的任務(wù)持續(xù)時(shí)間t
s;計(jì)算在所述任務(wù)持續(xù)時(shí)間內(nèi)發(fā)生虛警的概率P
A;計(jì)算在所述任務(wù)持續(xù)時(shí)間內(nèi)發(fā)生的BIT虛警率γ
FA;本發(fā)明提供了一種有效的方法,使電子設(shè)備在設(shè)計(jì)階段能對(duì)產(chǎn)品的BIT虛警率進(jìn)行量化評(píng)估,以提升電子信息裝備的測(cè)試性設(shè)計(jì)水平。
聲明:
“機(jī)載電子信息裝備BIT虛警率預(yù)計(jì)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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