本發(fā)明公開了一種X射線顯微鏡用高溫原位加載實驗裝置,涉及檢測領域。該裝置由拉伸模塊,半導體制冷,支撐框架,電極與隔熱夾具和外殼五部分構成。本發(fā)明X射線顯微鏡高溫原位加載裝置可以再高溫環(huán)境下服役材料的性能退化和失效過程,對于高溫結構部件的壽命和失效預測,提高了部件的服役安全性。
聲明:
“X射線顯微鏡用高溫原位加載實驗裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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