一種進(jìn)行存儲器件的缺陷泄漏篩選測試的方法包括步驟:通過在測試的讀取操作期間改變存儲器件的p阱電壓表征由漏電流、結(jié)漏電流、或亞閾值漏電流造成的特定單個位失效;用測試碼初始程序裝入(IPL)改變p阱電壓。此外,附加的邏輯提供在存儲IC上以譯碼IPL邏輯信號;為了進(jìn)行p阱改變測試,存儲器件提供有:IPL譯碼邏輯;參考電壓發(fā)生器;IPL參考電壓多路轉(zhuǎn)換器;p阱電壓反饋電路;以及差分放大器電路。
聲明:
“進(jìn)行存儲器件的缺陷泄漏篩選試驗的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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