本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N預(yù)驅(qū)采樣電路診斷方法、組件及可讀存儲(chǔ)介質(zhì),預(yù)驅(qū)采樣電路診斷方法包括:向預(yù)驅(qū)采樣電路的第一采樣端和第二采樣端輸入預(yù)設(shè)電壓;獲取并判斷所述預(yù)驅(qū)采樣電路的實(shí)際輸出電壓是否滿足所述預(yù)驅(qū)采樣電路的設(shè)計(jì)輸出電壓要求;在不滿足所述設(shè)計(jì)輸出電壓要求時(shí),生成預(yù)驅(qū)采樣電路失效信號(hào)。通過向預(yù)驅(qū)采樣電路的兩個(gè)采樣端注入預(yù)設(shè)的測試電平,從而判斷預(yù)驅(qū)采樣電路的輸出電平是否滿足要求的方式,能夠在采樣電路發(fā)生故障時(shí),及時(shí)識(shí)別并且上報(bào)故障,使主程序切斷電機(jī)助力,避免EPS控制器錯(cuò)亂助力。
聲明:
“預(yù)驅(qū)采樣電路診斷方法、組件及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)