動(dòng)密封磨損失效實(shí)時(shí)檢測(cè)方法 1096     

 0

本發(fā)明公開了一種動(dòng)密封磨損失效實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，包括以下步驟：(1)確定需要檢測(cè)的密封件安裝位置與尺寸、密封件的形狀尺寸；(2)制備含有導(dǎo)電填料的密封件(以下簡(jiǎn)稱導(dǎo)電件)，取足夠數(shù)量的導(dǎo)電件外包絕緣層(以下簡(jiǎn)稱絕緣件)；(3)安裝導(dǎo)電件，使用電信號(hào)檢測(cè)模塊測(cè)試由殼體?密封件?運(yùn)動(dòng)軸的回路的電阻值；(4)取出導(dǎo)電件，正確安裝絕緣件，測(cè)試上述回路電阻值；(5)安裝固定電信號(hào)檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)傳輸模塊，并設(shè)置報(bào)警閾值；(6)檢測(cè)信號(hào)經(jīng)數(shù)據(jù)傳輸模塊發(fā)送至后臺(tái)服務(wù)器。本發(fā)明提供一種動(dòng)密封磨損失效實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確、遠(yuǎn)程的密封磨損失效檢測(cè)。

檢測(cè)內(nèi)部服務(wù)器組成員失效的方法及網(wǎng)絡(luò)地址轉(zhuǎn)換設(shè)備 988     

 0

本發(fā)明公開了檢測(cè)內(nèi)部服務(wù)器組成員失效的方法及網(wǎng)絡(luò)地址轉(zhuǎn)換設(shè)備。方法包括:若NAT設(shè)備接收到一內(nèi)網(wǎng)設(shè)備發(fā)來的ICMP目的不可達(dá)報(bào)文,根據(jù)該報(bào)文確定不可達(dá)的服務(wù)器,將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為探測(cè),探測(cè)該服務(wù)器是否三層可達(dá),若否,則將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為失效;若是,將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為stale,當(dāng)有業(yè)務(wù)流被分擔(dān)到該服務(wù)器上時(shí),在該業(yè)務(wù)流對(duì)應(yīng)會(huì)話上加S標(biāo)記,將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為delay,為該服務(wù)器設(shè)置第一定時(shí)器,當(dāng)?shù)谝欢〞r(shí)器超時(shí)前,若該帶S標(biāo)記的會(huì)話從open狀態(tài)切換為ready狀態(tài),或者針對(duì)該帶S標(biāo)記的會(huì)話的TCP三次握手成功,則將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為有效;否則,將該服務(wù)器的狀態(tài)切換為失效。本發(fā)明能夠檢測(cè)出內(nèi)部服務(wù)器組成員失效。

高壓斷路器的快速失效檢測(cè)方法 712     

 0

本發(fā)明公開了本發(fā)明提供了一種高壓斷路器的快速檢測(cè)方法，包括如下步驟：確定失效檢測(cè)參量和失效模式，失效檢測(cè)參量中包含多個(gè)失效檢測(cè)參量，所述失效模式集中包含多個(gè)失效模式；根據(jù)失效檢測(cè)參量和失效模式，建立智能機(jī)器學(xué)習(xí)模型；訓(xùn)練智能機(jī)器學(xué)習(xí)算法；測(cè)量多個(gè)失效檢測(cè)參量，將多個(gè)失效模式作為檢測(cè)的數(shù)據(jù)源；將所述數(shù)據(jù)源輸入到智能機(jī)器學(xué)習(xí)模型中，得出斷路器失效檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)高壓斷路器快速、準(zhǔn)確的失效檢測(cè)，能夠顯著提高電力系統(tǒng)檢修的針對(duì)性、可靠性和經(jīng)濟(jì)性。

原狀砂膠結(jié)失效的檢測(cè)方法 785     

 0

本發(fā)明屬于巖土工程研究領(lǐng)域，尤其涉及一種原狀砂膠結(jié)失效的檢測(cè)方法，包括如下步驟：通過顆粒集合體的三軸試樣計(jì)算應(yīng)力比和體應(yīng)變、軸向應(yīng)變，計(jì)算相應(yīng)參數(shù)，無需與膠結(jié)原狀砂以及膠結(jié)失效的砂分別比較應(yīng)力應(yīng)變特性或強(qiáng)度特性，而只用一個(gè)三軸試樣快速判斷膠結(jié)是否失效，也無需在細(xì)觀上做顆粒膠結(jié)分析。

熱管散熱器中熱管失效判斷的檢測(cè)方法 773     

 0

本發(fā)明公開了一種熱管散熱器中熱管失效判斷的檢測(cè)方法，包括以下步驟：利用仿真技術(shù)設(shè)置條件及工況構(gòu)建理論溫度云圖；安裝設(shè)置熱成像設(shè)備采集散熱器實(shí)際工作狀態(tài)生成實(shí)際溫度云圖；調(diào)取理論溫度云圖和實(shí)際溫度云圖實(shí)現(xiàn)熱管失效判斷；根據(jù)溫度云圖獲取溫度數(shù)據(jù)；分析溫度數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)故障熱管失效范圍判斷。上述技術(shù)方案利用仿真技術(shù)設(shè)置各種條件在計(jì)算機(jī)中模擬散熱器的工作環(huán)境，通過計(jì)算機(jī)設(shè)置熱管有效或失效的工況，仿真預(yù)先得出理論溫度云圖，存檔，然后用熱成像設(shè)備正對(duì)于散熱器上安裝熱源的一面工作，生成實(shí)際溫度云圖，對(duì)比理論溫度云圖和實(shí)際溫度云圖，快速找出失效的熱管，大大簡(jiǎn)化了判斷方式，降低了工作人員的判斷經(jīng)驗(yàn)要求。

動(dòng)態(tài)檢測(cè)失效流量的網(wǎng)絡(luò)爬蟲方法 868     

 0

本發(fā)明涉及一種動(dòng)態(tài)檢測(cè)失效流量的網(wǎng)絡(luò)爬蟲方法，包括以下步驟，首先通過分析網(wǎng)絡(luò)請(qǐng)求信息構(gòu)建動(dòng)態(tài)檢測(cè)失效流量模型的數(shù)據(jù)集，然后設(shè)計(jì)出動(dòng)態(tài)檢測(cè)失效流量的方法，接著對(duì)URL隊(duì)列中的信息進(jìn)行讀取并且對(duì)Cookie等信息進(jìn)行封裝后發(fā)送請(qǐng)求，提取返回?cái)?shù)據(jù)信息，并對(duì)返回?cái)?shù)據(jù)信息進(jìn)行失效流量檢測(cè)，最后對(duì)重復(fù)返回?cái)?shù)據(jù)信息進(jìn)行處理，如是有效數(shù)據(jù)則持久化存儲(chǔ)。本發(fā)明彌補(bǔ)了現(xiàn)有聚焦爬蟲和增量爬蟲在Cookie失效問題的處理上和數(shù)據(jù)重復(fù)處理上的不足之處，降低了爬取數(shù)據(jù)的失效和重復(fù)概率，對(duì)爬蟲系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供了可借鑒的方案，提高了爬蟲系統(tǒng)的整體性能。

鉛酸電池失效原因檢測(cè)方法 1128     

 0

本發(fā)明涉及一種鉛酸電池失效原因檢測(cè)方法，包括：步驟一，對(duì)失效的成組電池進(jìn)行檢查；步驟二，如果是因干涸導(dǎo)致失效則注入純水，進(jìn)行全充全放檢測(cè)容量；步驟三，成組電池進(jìn)行電池全充全放檢測(cè)選出落單電池；步驟四，在落單電池上設(shè)置落單單格檢測(cè)導(dǎo)體；步驟五，落單電池進(jìn)行單格全充全放檢測(cè)選出落單單格；步驟六，解剖落單單格，觀察正負(fù)極板排除因單格虛焊、貧液、注酸不足導(dǎo)致單格失效；步驟七，用正常的化成后的正極板代替落單單格的正極板，或用正常的化成后的負(fù)極板代替落單單格的負(fù)極板，檢測(cè)落單單格是正極失效還是負(fù)極失效；步驟八，步驟九，觀察檢測(cè)正負(fù)極板，判斷分析失效原因。

針對(duì)碳分子篩進(jìn)行失效檢測(cè)的檢測(cè)裝置及使用方法 1102     

 0

本發(fā)明公開了一種針對(duì)碳分子篩進(jìn)行失效檢測(cè)的檢測(cè)裝置及使用方法，包括：馬弗爐本體，馬弗爐本體的前表面轉(zhuǎn)動(dòng)連接有箱門，且馬弗爐本體的內(nèi)表壁固定連接有加熱管，通過固定電機(jī)使兩個(gè)螺紋桿轉(zhuǎn)動(dòng)使移動(dòng)板帶動(dòng)儲(chǔ)存框移動(dòng)，通過安裝電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)可以使轉(zhuǎn)動(dòng)管，同時(shí)帶動(dòng)連接管轉(zhuǎn)動(dòng)和連接桿移動(dòng)，通過齒輪的嚙合傳動(dòng)，使攪拌桿旋轉(zhuǎn)，通過鼓風(fēng)機(jī)和加熱箱，對(duì)碳分子篩充分加熱，關(guān)閉加熱箱可以加速對(duì)碳分子篩的冷卻，實(shí)現(xiàn)對(duì)碳分子篩充分加熱乎或者冷卻，通過轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)可以帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)板轉(zhuǎn)動(dòng)，然后安裝電機(jī)可以使轉(zhuǎn)動(dòng)管帶動(dòng)推動(dòng)板轉(zhuǎn)動(dòng)，推動(dòng)碳分子篩從出料口落入到箱門上，通過箱門進(jìn)入到收集框內(nèi)收集，可以快速收集碳分子篩。

催化燃燒式傳感器失效與否的檢測(cè)方法及所用檢測(cè)裝置 1099     

 0

本發(fā)明公開了一種催化燃燒式傳感器失效與否的檢測(cè)裝置,包括溫度傳感器I(1)、溫度傳感器II(2)和控制組件(3),控制組件(3)包括分別與電源模塊(30)相連的采集模塊I(31)、采集模塊II(32)、中心控制器(34)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(35);溫度傳感器I(1)與采集模塊I(31)相連,溫度傳感器II(2)與采集模塊II(32)相連。本發(fā)明還同時(shí)公開了一種催化燃燒式傳感器失效與否的檢測(cè)方法:利用溫度傳感器I(1)和溫度傳感器II(2)分別感知工作狀態(tài)中的待測(cè)催化燃燒式傳感器的體表溫度T1和所處的環(huán)境溫度T2;根據(jù)公式λ=ΔT/Δt得知待測(cè)催化燃燒式傳感器的失效與否。采用本發(fā)明能有效檢測(cè)出傳感器是否失效。

進(jìn)水閥的失效檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置及蒸箱 781     

 0

本發(fā)明公開了一種進(jìn)水閥的失效檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置及蒸箱，檢測(cè)方法包括：設(shè)備運(yùn)行，進(jìn)水閥啟動(dòng)；采樣，按照采樣周期對(duì)進(jìn)水閥的工作電流采樣；初步判斷，判斷進(jìn)水閥的工作電流是否超出閾值區(qū)間；持續(xù)判斷，若進(jìn)水閥的工作電流超出閾值區(qū)間，則在持續(xù)時(shí)間內(nèi)持續(xù)判斷進(jìn)水閥的工作電流是否仍超出閾值區(qū)間。通過對(duì)進(jìn)水閥的工作電流在持續(xù)時(shí)間內(nèi)進(jìn)行采樣，進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析判斷進(jìn)水閥的工作電流是否正常，從而確定并檢測(cè)出進(jìn)水閥是否運(yùn)行正常。相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)中單純水位檢測(cè)或溫度檢測(cè)等方式，電流檢測(cè)的響應(yīng)速度更快，敏感度更高，能夠在即將發(fā)生干燒時(shí)或在發(fā)生干燒之前檢測(cè)判斷出進(jìn)水閥故障，避免發(fā)生干燒現(xiàn)象。

用于芯片失效性分析的分離裝置 823     

 0

本實(shí)用新型公開了一種用于芯片失效性分析的分離裝置，包括支撐基板、刀片、用于帶動(dòng)刀片升降的升降調(diào)節(jié)器和芯片支撐架，所述芯片支撐架與支撐基板固定，芯片支撐架上設(shè)有至少一個(gè)用于放置芯片的芯片槽，刀片固定在升降調(diào)節(jié)器上，刀片的刃口朝向芯片槽，所述升降調(diào)節(jié)器與支撐基板滑動(dòng)連接，以使升降調(diào)節(jié)器遠(yuǎn)離或靠近芯片槽。本實(shí)用新型提供了一種用于芯片失效性分析的分離裝置，可以對(duì)芯片本體和基板進(jìn)行快速分離，且操作簡(jiǎn)單方便，操作過程安全可靠。

采用打線工藝封裝的芯片的開封方法、應(yīng)用和失效分析方法 884     

 0

本發(fā)明提供了一種采用打線工藝封裝的芯片的開封方法、應(yīng)用和失效分析方法，涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，具體包括：先對(duì)封裝芯片樣品進(jìn)行晶粒定位，并對(duì)晶粒對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行封裝體減薄，然后通過預(yù)設(shè)配比的配置酸去除減薄后的所述封裝芯片樣品表面的環(huán)氧樹脂，然后對(duì)晶粒進(jìn)行表面清洗并晾干。這樣，采用激光減薄封裝體和的配置酸對(duì)采用打線工藝封裝的芯片進(jìn)行開封，通過一種配置酸即可開封目前市場(chǎng)上常見封裝芯片樣品，避免了因判斷打線材質(zhì)失誤導(dǎo)致打線被腐蝕的問題，為后續(xù)有源區(qū)的失效分析提供了前提條件。

暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法、應(yīng)用和失效分析方法 1044     

 0

本發(fā)明提供了一種暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法、應(yīng)用和失效分析方法，涉及有源區(qū)失效分析技術(shù)領(lǐng)域。該暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法，針對(duì)有源區(qū)下方深埋有氧化層的這種具有特定結(jié)構(gòu)的絕緣體上硅器件，先去除金屬層之后采用特定組成的第一腐蝕液于特定時(shí)間內(nèi)去除多晶硅層，然后將接觸孔層去除，最后再將氮化硅層和絕緣氧化硅層去除，從而使得有源區(qū)完全暴露。上述方法避免了采用現(xiàn)有去層方法導(dǎo)致深埋氧化層與硅襯底產(chǎn)生分離的問題，打破了目前絕緣體上硅器件無法去層至有源區(qū)的空白，使得有源區(qū)可以完全且完好的暴露，對(duì)后續(xù)于有源區(qū)的失效分析提供了前提條件。本發(fā)明還提供了上述暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法的應(yīng)用和失效分析方法。

元器件封膠溶解液以及元器件的開封方法和失效分析方法 1014     

 0

本發(fā)明涉及電子元器件失效分析技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種元器件封膠溶解液以及元器件的開封方法和失效分析方法。該元器件封膠溶解液包括：溶二氯甲烷、DY711硅膠溶解劑或二甲苯，以及有機(jī)溶劑。該元器件的開封方法包括：用元器件封膠溶解液浸泡元器件，元器件為凡立水或黑膠固定的元器件，將浸泡后的元器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)剝離取出。元器件的失效分析方法包括：在對(duì)元器件進(jìn)行開封后觀察取出的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的形貌。通過二氯甲烷或DY711硅膠溶解劑作為溶解劑和有機(jī)溶劑進(jìn)行稀釋后能夠有效地對(duì)凡立水和黑膠進(jìn)行溶解，進(jìn)而能夠?qū)⒃骷?nèi)部結(jié)構(gòu)(例如線圈)取出而不對(duì)元器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成損傷，從而為元器件失效根因的分析以及改善提供更好的幫助。

輪胎失效點(diǎn)仿真分析方法、應(yīng)用、設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品 660     

 0

本發(fā)明涉及輪胎計(jì)算機(jī)仿真設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種輪胎失效點(diǎn)仿真分析方法、應(yīng)用、設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。一種輪胎失效點(diǎn)仿真分析方法，該方法包括以下的步驟：1）利用建模軟件和仿真軟件對(duì)輪胎進(jìn)行建模，為模型材料分布圖進(jìn)行網(wǎng)格劃分，賦予材料屬性，施加氣壓與載荷，進(jìn)行負(fù)荷分析；對(duì)模型設(shè)定角速度，進(jìn)行滾動(dòng)分析；得到該模型所有橡膠材料單元的應(yīng)力、應(yīng)變、應(yīng)變能值；2）利用程序?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算處理，讀取仿真模型數(shù)據(jù)信息，將模型可視化并提供交互功能供使用者選取所需分析單元，得到輪胎失效評(píng)價(jià)參數(shù)。本發(fā)明只需進(jìn)行虛擬仿真建模運(yùn)算，相較于實(shí)物測(cè)試更簡(jiǎn)便低碳環(huán)保。對(duì)輪胎產(chǎn)品設(shè)計(jì)優(yōu)化改進(jìn)起到指導(dǎo)作用。

基于TODIM法電磁鐵潛在失效模式與效果分析方法 912     

 0

本發(fā)明公開了一種基于TODIM法電磁鐵潛在失效模式與效果分析方法，涉及包裝機(jī)領(lǐng)域，其步驟包括：A、確定電磁鐵產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)分析的目標(biāo)及風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別，收集產(chǎn)品潛在的失效模式，逐一確定失效模式所對(duì)應(yīng)的后果及影響因素，評(píng)價(jià)團(tuán)隊(duì)使用直覺模糊數(shù)對(duì)失效模式進(jìn)行評(píng)價(jià)；B、對(duì)失效的影響因素，評(píng)價(jià)成員使用直覺模糊數(shù)進(jìn)行對(duì)比評(píng)價(jià)，形成對(duì)比矩陣，為了找到影響因素的最優(yōu)解，從對(duì)比矩陣的偏好關(guān)系中導(dǎo)出影響因素的精確權(quán)重；C、此時(shí)FMEA中的權(quán)重信息得到確定，計(jì)算失效模式TODIM方法的相對(duì)優(yōu)勢(shì)度，其中計(jì)算相對(duì)優(yōu)勢(shì)度包括直覺模糊距離以及評(píng)價(jià)準(zhǔn)測(cè)的相對(duì)權(quán)重；D、根據(jù)失效模式的相對(duì)優(yōu)勢(shì)度，根據(jù)TODIM計(jì)算失效模式的全局優(yōu)勢(shì)度以及綜合排序值，對(duì)失效模式與效果進(jìn)行排序。本發(fā)明具有強(qiáng)邏輯性，更加客觀的優(yōu)點(diǎn)。

分布式SRAM失效分析方法及系統(tǒng) 1108     

 0

本發(fā)明涉及一種分布式SRAM失效分析方法及其系統(tǒng)。一種分布式SRAM失效分析方法，該方法包括以下步驟：A、獲取SRAM測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果作為原始數(shù)據(jù)并對(duì)其進(jìn)行失效分析，得到失效分析結(jié)果數(shù)據(jù)；B、對(duì)分析結(jié)果數(shù)據(jù)按預(yù)設(shè)的二進(jìn)制編碼規(guī)則進(jìn)行二進(jìn)制編碼壓縮，并將壓縮后的分析結(jié)果數(shù)據(jù)注入分布式數(shù)據(jù)庫中；C、從分布式數(shù)據(jù)庫中提取要進(jìn)行展示的分析結(jié)果數(shù)據(jù)，根據(jù)預(yù)設(shè)的二進(jìn)制解碼規(guī)則對(duì)提取的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，根據(jù)繪制時(shí)的分辨率要求，對(duì)解碼后的分析結(jié)果數(shù)據(jù)按預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)采樣規(guī)則進(jìn)行采樣后，在前端繪制展示。本發(fā)明能有效壓縮一片Wafer原有的占用空間，提高SRAM失效分析的效率。

芯片失效分析方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì) 868     

 0

本申請(qǐng)公開了一種芯片失效分析方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，從待測(cè)芯片的記憶模塊中獲取所述待測(cè)芯片的唯一識(shí)別碼，根據(jù)所述唯一識(shí)別碼獲取預(yù)先存儲(chǔ)的所述待測(cè)芯片的生產(chǎn)信息，根據(jù)所述生產(chǎn)信息對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行失效分析。本方案中，由于保存在芯片記憶模塊內(nèi)的唯一識(shí)別碼不易丟失和混淆，從而使得芯片失效分析可以順利進(jìn)行，滿足了客戶要求，降低了成本。

晶硅太陽能電池的失效分析方法 993     

 0

本申請(qǐng)公開了一種晶硅太陽能電池的失效分析方法，包括測(cè)試失效的晶硅太陽能電池的第一性能；去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的金屬，露出減反射膜層和鈍化層，測(cè)量此時(shí)電池的第二性能，包括光學(xué)性能、電學(xué)性能和所述減反射膜層的厚度；去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的減反射膜層和鈍化層，露出擴(kuò)散層，測(cè)量此時(shí)的第三性能；去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的擴(kuò)散層，測(cè)量此時(shí)電池的第四性能；根據(jù)所述第一性能、所述第二性能、所述第三性能和所述第四性能分析出電池失效原因。上述方法能夠?qū)﹄姵剡M(jìn)行層層剖析，細(xì)節(jié)到針對(duì)每環(huán)工序去查找電池片低效的原因，達(dá)到量產(chǎn)增效的目的。

帶有提示功能的汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng) 814     

 0

本發(fā)明公開了一種帶有提示功能的汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng)，包括：位于汽車懸架系統(tǒng)上的主減震器和備用減震器，以及運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊、距離記錄模塊、溫度檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和控制模塊；運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊用于感測(cè)汽車是否運(yùn)動(dòng)，并在汽車運(yùn)動(dòng)時(shí)將運(yùn)動(dòng)信號(hào)傳送至距離記錄模塊，當(dāng)距離記錄模塊接收到運(yùn)動(dòng)信號(hào)時(shí)自動(dòng)清零并開始記錄，當(dāng)距離記錄模塊連續(xù)記錄的距離值高于距離閾值時(shí)，距離記錄模塊向控制模塊傳送開啟信號(hào)；控制模塊在接收到開啟信號(hào)后，啟動(dòng)溫度檢測(cè)模塊檢測(cè)主減震器外殼的溫度，并在溫度檢測(cè)模塊所檢測(cè)的溫度值低于預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí)，控制模塊關(guān)閉主減震器同時(shí)開啟備用減震器，而且向報(bào)警模塊傳送開啟信號(hào)以及時(shí)告知車主。

制備15CrMo過熱器管失效分析樣品的方法 1074     

 0

本發(fā)明提供一種制備15CrMo鋼過熱器管的失效分析樣品的方法，所述方法包括：（1）切取待分析的鋼件，在切取過程中，保持所述待分析的鋼件溫度不超過60℃；（2）提供一平坦基板，將所述待分析的鋼件粘附于所述基板，其中，所述鋼件的待分析表面朝向所述基板；（3）以所述基板為底部，構(gòu)建圍繞所述待分析的鋼件的空腔，在該空腔中注入可固化鑲嵌料將所述待分析的鋼件嵌入所述空腔中；（4）去除通過步驟（3）固化鑲嵌后的鋼件表面的基板，使待分析表面露出，并對(duì)所述待分析表面進(jìn)行表面處理，使其符合后續(xù)分析的要求。通過本發(fā)明的方法制備的失效分析樣品可以保證樣品的切割和鑲嵌在失效現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行，能夠完好保存樣品原始失效狀態(tài)，樣品制作效率高，消耗少，能夠滿足后續(xù)觀測(cè)分析的需要。

汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng) 783     

 0

本發(fā)明公開了一種汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng)，包括：位于汽車懸架系統(tǒng)上的主減震器和備用減震器，以及運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊、距離記錄模塊、溫度檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和控制模塊；運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊用于感測(cè)汽車是否運(yùn)動(dòng)，并在汽車運(yùn)動(dòng)時(shí)將運(yùn)動(dòng)信號(hào)傳送至距離記錄模塊，當(dāng)距離記錄模塊接收到運(yùn)動(dòng)信號(hào)時(shí)自動(dòng)清零并開始記錄，當(dāng)距離記錄模塊連續(xù)記錄的距離值高于距離閾值時(shí)，距離記錄模塊向控制模塊傳送開啟信號(hào)；控制模塊在接收到開啟信號(hào)后，啟動(dòng)溫度檢測(cè)模塊檢測(cè)主減震器外殼的溫度，并在溫度檢測(cè)模塊所檢測(cè)的溫度值低于預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí)，控制模塊關(guān)閉主減震器同時(shí)開啟備用減震器，而且向報(bào)警模塊傳送開啟信號(hào)以及時(shí)告知車主。

汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng) 872     

 0

本發(fā)明公開了一種汽車減震器失效檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng)，包括：位于汽車懸架系統(tǒng)上的主減震器和備用減震器，以及運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊、距離記錄模塊、溫度檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和控制模塊；運(yùn)動(dòng)感測(cè)模塊用于感測(cè)汽車是否運(yùn)動(dòng)，并在汽車運(yùn)動(dòng)時(shí)將運(yùn)動(dòng)信號(hào)傳送至距離記錄模塊，當(dāng)距離記錄模塊接收到運(yùn)動(dòng)信號(hào)時(shí)自動(dòng)清零并開始記錄，當(dāng)距離記錄模塊連續(xù)記錄的距離值高于距離閾值時(shí)，距離記錄模塊向控制模塊傳送開啟信號(hào)；控制模塊在接收到開啟信號(hào)后，啟動(dòng)溫度檢測(cè)模塊檢測(cè)主減震器外殼的溫度，并在溫度檢測(cè)模塊所檢測(cè)的溫度值低于預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí)，控制模塊關(guān)閉主減震器同時(shí)開啟備用減震器，而且向報(bào)警模塊傳送開啟信號(hào)以及時(shí)告知車主。

供熱管道失效因素分析裝置 1276     

 0

本實(shí)用新型涉及一種供熱管道失效因素分析裝置，包括平移底座、靠近設(shè)置在平移底座一端側(cè)邊的支撐底座Ⅰ，另一側(cè)端側(cè)邊的支撐底座Ⅱ，所述平移底座上設(shè)置橫向平行滑軌，且平移底座在橫向平行滑軌之間設(shè)置一側(cè)端為齒形面的齒板，所述平行滑軌上滑動(dòng)連接表面探測(cè)板座，所述表面探測(cè)板座上端面固定橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)轉(zhuǎn)軸穿過表面探測(cè)板座且在轉(zhuǎn)軸端部固定驅(qū)動(dòng)齒輪，所述驅(qū)動(dòng)齒輪與齒板側(cè)端的齒形面嚙合，所述支撐底座Ⅰ和支撐底座Ⅱ上端面設(shè)置縱向平行滑軌。本實(shí)用新型可同時(shí)進(jìn)行供熱管道表面的裂紋探傷檢測(cè)以及管道內(nèi)容壓力疲勞檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了供熱管道內(nèi)外部影響因素全面檢測(cè)，檢測(cè)裝置使用方便，檢測(cè)效率高。

半導(dǎo)體激光器失效分析樣品制備的中間夾具及其方法 1051     

 0

本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體激光器失效分析樣品制備的中間夾具及其方法，中間夾具包括第一夾持件和第二夾持件；第一夾持件用于夾持TO激光器，夾持有TO激光器的第一夾持件注塑后能得到冷鑲嵌樣品，第二夾持件用于固定冷鑲嵌樣品并控制其研磨厚度；第一夾持件包括第一殼體和柱形載塊；第二夾持件包括第二殼體、調(diào)節(jié)件和墊件；墊件能在調(diào)節(jié)件的作用下實(shí)現(xiàn)上下移動(dòng)，同時(shí)調(diào)節(jié)冷鑲嵌樣品露出樣品槽部分的大小。本發(fā)明的制備過程無高溫操作，有效保護(hù)芯片；同時(shí)無需昂貴的微納加工設(shè)備，制樣過程簡(jiǎn)易，易于操作；制備得到的樣品可直接用于電致發(fā)光、光致發(fā)光和電子束誘導(dǎo)電流的失效分析與缺陷檢測(cè)。

基于程序失效聚類分析的錯(cuò)誤定位方法 916     

 0

本發(fā)明提出的一種基于程序失效聚類分析的錯(cuò)誤定位方法，從同一個(gè)錯(cuò)誤引起的失效具有相似性觸發(fā)，首先獲取每次失效測(cè)試的執(zhí)行切片，根據(jù)杰卡德距離公式計(jì)算執(zhí)行切片之間的距離；根據(jù)K‐Means聚類算法對(duì)程序失效執(zhí)行切片進(jìn)行聚類,得到失效執(zhí)行切片簇；然后根據(jù)跳轉(zhuǎn)指令的運(yùn)行時(shí)程序狀態(tài)劃分方法得到失效執(zhí)行切片的程序狀態(tài)序列圖；根據(jù)程序狀態(tài)序列圖中函數(shù)嵌套調(diào)用次數(shù)的多少分別建立以基本塊/行為單位的執(zhí)行路徑覆蓋向量和覆蓋矩陣；最后分別計(jì)算出各基本塊/行的可疑度并降序排列、求出以基本塊/行為單位的頻繁集，根據(jù)基本塊/行可疑度的大小以及其對(duì)應(yīng)的頻繁依次檢查各基本塊/行是否含有錯(cuò)誤。

厚膜電阻保護(hù)層溶解液以及厚膜電阻的開封方法和失效分析方法 1163     

 0

一種厚膜電阻保護(hù)層溶解液以及厚膜電阻的開封方法和失效分析方法，涉及電子元器件失效分析技術(shù)領(lǐng)域，該厚膜電阻保護(hù)層溶解液包括溶解劑和稀釋劑。通過稀釋后的DY711硅膠溶解劑對(duì)厚膜電阻進(jìn)行浸泡溶解，能夠有效去除厚膜電阻表面的二次保護(hù)層，并且不會(huì)對(duì)其內(nèi)部的一次保護(hù)層和內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成損傷，從而可以更好地對(duì)厚膜電阻的失效原因進(jìn)行檢測(cè)和分析。

客車?yán)鋮s系統(tǒng)失效分析方法及系統(tǒng) 955     

 0

本發(fā)明提供了一種客車?yán)鋮s系統(tǒng)失效分析方法及系統(tǒng)，屬于客車技術(shù)領(lǐng)域，客車?yán)鋮s系統(tǒng)失效分析方法，S1:通過流量檢測(cè)裝置和溫度檢測(cè)裝置，檢測(cè)預(yù)設(shè)流量檢測(cè)點(diǎn)冷卻液的流量、預(yù)設(shè)溫度檢測(cè)點(diǎn)冷卻液的溫度；S2：將冷卻液的流量與預(yù)設(shè)流量范圍比較，將冷卻液的溫度與預(yù)設(shè)溫度范圍比較，分析冷卻系統(tǒng)的失效方式。本發(fā)明具有檢測(cè)方法簡(jiǎn)單合理，有效確保冷卻系統(tǒng)正常工作，提高工作部件的使用壽命的優(yōu)點(diǎn)。

軸承失效分析方法 866     

 0

本發(fā)明涉及一種軸承失效分析方法，包括以下步驟：步驟1、查看和分析失效軸承或?qū)嶒?yàn)后的樣品軸承；步驟2、對(duì)軸承精度進(jìn)行檢測(cè)；步驟3、查看和分析軸承內(nèi)部油脂的狀況；步驟4、查看和分析失效軸承或?qū)嶒?yàn)后的樣品軸承內(nèi)外圈溝道、鋼球、保持架的表面狀況；步驟5、測(cè)試和分析失效軸承或?qū)嶒?yàn)后的樣品軸承內(nèi)外圈溝道圓度；步驟6、材料分析；步驟7、匯總整理并下結(jié)論。本發(fā)明根據(jù)軸承逆向分析流程，通過這一流程進(jìn)行分析，掌握分析要點(diǎn)，直達(dá)根本原因所在，找到軸承失效的根本原因。

空調(diào)進(jìn)線端電容失效存儲(chǔ)裝置及電容失效分析方法 977     

 0

本發(fā)明提供了一種空調(diào)進(jìn)線端電容失效存儲(chǔ)裝置及電容失效分析方法，空調(diào)進(jìn)線端電容失效存儲(chǔ)裝置，與設(shè)置在空調(diào)進(jìn)線端的電容連接，其包括：電壓檢測(cè)電路，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述電容的電壓值；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，與所述電壓檢測(cè)電路連接，存儲(chǔ)所述電容的電壓值；所述電容失效分析方法基于所述空調(diào)進(jìn)線端電容失效存儲(chǔ)裝置。這樣，通過數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)電容的電壓值，一旦發(fā)生電容失效的情況，就可以讀取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器中的電壓值，進(jìn)而可以根據(jù)電壓值很容易確定是否是過壓導(dǎo)致所述電容失效；可以在較短的時(shí)間內(nèi)清楚判斷電容失效原因，判斷方便，且準(zhǔn)確度高。