本發(fā)明涉及一種
復(fù)合材料密封件表面粗糙度檢測(cè)用光纖型零差干涉系統(tǒng),包括待測(cè)密封件裝調(diào)定位模塊、光學(xué)干涉檢測(cè)模塊和密封件表面粗糙度信息提取模塊;所述待測(cè)密封件裝調(diào)定位模塊用于對(duì)待測(cè)密封件進(jìn)行定位和調(diào)節(jié),使得所述光學(xué)干涉檢測(cè)模塊能夠檢測(cè)到待測(cè)密封件上的各個(gè)測(cè)量點(diǎn);所述光學(xué)干涉檢測(cè)模塊用于對(duì)待測(cè)密封件上的各個(gè)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè),以得到攜帶有待測(cè)密封件表面粗糙度特征信息;所述密封件表面粗糙度信息提取模塊用于提取待測(cè)密封件表面粗糙度特征信息,以獲得待測(cè)密封件表面的粗糙度分布情況及其微觀(guān)形貌圖。本發(fā)明降低了系統(tǒng)的復(fù)雜程度和調(diào)試難度,更有利于復(fù)合材料密封件的質(zhì)量監(jiān)控。
聲明:
“復(fù)合材料密封件表面粗糙度檢測(cè)用光纖型零差干涉系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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