本實(shí)用新型公開了一種失效檢測電路及電子設(shè)備,失效檢測電路包括檢測模塊和開關(guān)控制模塊,開關(guān)控制模塊分別與檢測模塊和待檢測元件電連接;開關(guān)控制模塊用于控制檢測模塊與待檢測元件的通斷,檢測模塊用于檢測待檢測元件是否失效。本實(shí)用新型公開的失效檢測電路結(jié)構(gòu)簡單,成本低,改善了失效檢測電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本較高的問題,且失效檢測電路利用開關(guān)控制模塊進(jìn)行了隔離電路的設(shè)計,在能夠有效檢測待檢測元件是否失效的同時,避免了引入寄生參數(shù)影響失效檢測電路的電氣性能的問題。
聲明:
“失效檢測電路及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)