本發(fā)明公開了一種可靠性同測裝置及其控制方法,用于微控制器
芯片內(nèi)置大容量存儲(chǔ)器可靠性測試,可實(shí)現(xiàn)多芯片并行測試。同時(shí)以測試區(qū)間可配置的形式,可選擇全部覆蓋存儲(chǔ)空間,也可以選擇以不同芯片不同區(qū)間的等效方式以覆蓋全面,從同測數(shù)與測試空間配置兩方面兼顧測試效率、優(yōu)化測試時(shí)間。記錄測試結(jié)果的同時(shí),保存所有在測芯片的失效現(xiàn)場信息,便于對任何一個(gè)失效芯片進(jìn)行分析。該方法基于測試硬件主控制板、上位機(jī)控制,還包括被測微控制器存儲(chǔ)器測試程序。以較小的成本實(shí)現(xiàn)批量微控制器的存儲(chǔ)器測試,廣泛應(yīng)用于各類微控制器芯片耐久力等可靠性自驗(yàn)證中。
聲明:
“可靠性同測裝置及其控制方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)