用于存儲(chǔ)設(shè)備的預(yù)測定時(shí)校準(zhǔn) 700     

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本發(fā)明提供了一種使用 2N位同步模式的獨(dú)特方法，從而 可在存儲(chǔ)系統(tǒng)中獲得較快且較可靠的多數(shù)據(jù)通道的校準(zhǔn)。如果 2N位同步模式是用已知的時(shí)鐘 相位關(guān)系獲得的，則可使用簡單的解碼邏輯來判定數(shù)據(jù)－時(shí)鐘 相位的對準(zhǔn)，從而從剛檢測到的m位預(yù)測下一個(gè)m位。如果 接下來的m位模式不與預(yù)測的模式匹配，則在所進(jìn)行的對準(zhǔn)的 數(shù)據(jù)通道中對特定延遲值調(diào)節(jié)，當(dāng)前的數(shù)據(jù)－時(shí)鐘對準(zhǔn)就失 敗，且在該數(shù)據(jù)通道中的延遲被調(diào)整為新值。本發(fā)明也通過強(qiáng) 行使與不想要時(shí)鐘信號(hào)沿，比如負(fù)向沿有關(guān)的所有預(yù)測的m位 模式失效從而保證了數(shù)據(jù)對準(zhǔn)將發(fā)生在時(shí)鐘信號(hào)的想要沿，比 如，正向沿上。

使用線性反饋移位寄存器在存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試環(huán)境中的故障診斷 1074     

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本發(fā)明所公開內(nèi)容為在存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試環(huán)境中對失敗的存儲(chǔ)器測試的測試響應(yīng)標(biāo)記進(jìn)行暫時(shí)壓縮的方法和器件,其目的是即使在檢測到多個(gè)與時(shí)間相關(guān)的存儲(chǔ)器測試故障時(shí)也能夠進(jìn)行存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試操作。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中,被壓縮的測試響應(yīng)標(biāo)記在自動(dòng)化測試設(shè)備器件上與存儲(chǔ)器位置信息一起給出。根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例,帶有嵌入式存儲(chǔ)器(204)的集成電路以及存儲(chǔ)器BIST控制器(206)還包括用作標(biāo)記寄存器的線性反饋結(jié)構(gòu)(410),可在存儲(chǔ)器測試的某一測試步驟中對來自嵌入式存儲(chǔ)器陣列的測試響應(yīng)標(biāo)記進(jìn)行暫時(shí)壓縮。在各種實(shí)施例申,集成電路還可能包括失效字計(jì)數(shù)器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以對失敗的測試響應(yīng)收集存儲(chǔ)器位置信息。

用于預(yù)測發(fā)動(dòng)機(jī)及其部件的剩余使用壽命的方法 954     

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一種用于預(yù)測具有部件（18、19、22、23）的發(fā)動(dòng)機(jī)（10）的剩余使用壽命的方法，所述部件由傳感器（50）檢測，該傳感器（50）產(chǎn)生指示所述部件的運(yùn)行狀況的電子數(shù)據(jù)信號(hào)，該方法包括：識(shí)別（52）一個(gè)或多個(gè)部件并識(shí)別每個(gè)部件的限制所述部件和發(fā)動(dòng)機(jī)的運(yùn)行壽命的至少一種失效模式。該方法還包括：獲得（62）并存儲(chǔ)有關(guān)所述部件的與所識(shí)別失效模式關(guān)聯(lián)的現(xiàn)有運(yùn)行狀況的數(shù)據(jù)；以及接著基于有關(guān)所述部件的現(xiàn)有運(yùn)行狀況的數(shù)據(jù)、有關(guān)與失效模式相關(guān)聯(lián)的運(yùn)行狀況的歷史數(shù)據(jù)、以及所預(yù)測的失效模式速率，確定（68）所述部件的剩余使用壽命。

監(jiān)測元件和結(jié)構(gòu)的完整性的方法和裝置 704     

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為監(jiān)測置于包含處于環(huán)境壓力下的流體(F)的環(huán)境中結(jié)構(gòu)(10)的完整性提供一種方法和裝置。結(jié)構(gòu)(10)包括外殼(12)和多個(gè)內(nèi)腔(14)。該方法包括:施加另一流體至腔體(14),施加的流體處于稍大于大氣環(huán)境壓力(F)的壓力下。監(jiān)測施加的流體的流率,來檢測流率的變化。流率的變化表明了通過結(jié)構(gòu)(10)的額外流體滲漏,從而提供了結(jié)構(gòu)(10)的完整性失效的高級(jí)報(bào)警。通過使施加的流體流過高流量阻件(28)和用轉(zhuǎn)換器(30)監(jiān)測阻件(28)兩端壓力的變化,可實(shí)現(xiàn)監(jiān)測功能。

電子鎮(zhèn)流器的燈壽命終止單點(diǎn)感測、防電弧放電和空載保護(hù) 879     

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披露了系統(tǒng)和方法,所述系統(tǒng)和方法有利于感測燈處于壽命終止(EOL)階段時(shí)或者燈經(jīng)歷例如燈與其支座之間的觸點(diǎn)受損時(shí)可能出現(xiàn)的電弧放電傳導(dǎo)情形時(shí)燈用鎮(zhèn)流器中的脈沖。通過感測脈沖,微控制器可基于檢測到的脈沖寬度區(qū)分EOL和電弧放電情形,并可起動(dòng)適當(dāng)?shù)捻憫?yīng)。例如,如果脈沖由電弧放電現(xiàn)象引起,則微控制器可在重啟燈之前短時(shí)中斷燈的工作,以減少電弧放電情形。如果脈沖由EOL情形引起,則微控制器可將燈置于預(yù)熱或重啟模式以加速燈的失效。在任一情況下,對感測脈沖的響應(yīng)均減少可破壞燈座的危險(xiǎn)高燈溫的出現(xiàn)。

用于照明元件測試的故障保護(hù)電流源 837     

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提供了一種故障保護(hù)電流源，其可以用來在可靠性測試系統(tǒng)中安全驅(qū)動(dòng)地LED。該電流源包括檢測在LED可靠性測試系統(tǒng)中發(fā)現(xiàn)的常見故障的電路和過程。在檢測到故障之后，該電流源在破壞性尖峰產(chǎn)生之前關(guān)閉驅(qū)動(dòng)器。因?yàn)閮H將真實(shí)LED失效計(jì)數(shù)，所以該故障保護(hù)電流源可以用來構(gòu)造產(chǎn)生更準(zhǔn)確的可靠性測試數(shù)據(jù)的可靠性測試系統(tǒng)。

流體狀態(tài)監(jiān)測器 961     

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本發(fā)明是一種小型設(shè)備和在工作設(shè)備中以有效方式直接監(jiān)測工作流體狀態(tài)和液面高度的方法。提供一種包括多個(gè)液體傳感器和多個(gè)蒸汽傳感器的傳感器裝置,在不同溫度下互相結(jié)合使用時(shí),可以全面評(píng)價(jià)流體的氧化降級(jí),液體污染和固體污染以檢測流體使用壽命的終結(jié)。通過在相同傳感器裝置上提供液體傳感器和蒸汽傳感器,本發(fā)明能夠以小型、有效和經(jīng)濟(jì)可行的方式監(jiān)測流體的狀態(tài)以及在其他元件損壞和最終設(shè)備失效之前檢測非正常的工作狀態(tài)。

健康監(jiān)測系統(tǒng)的幫助診斷和維護(hù)方法與機(jī)構(gòu) 821     

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本發(fā)明涉及健康監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)的系統(tǒng)和方法,其利用對動(dòng)態(tài)注冊傳感器數(shù)據(jù)流的實(shí)時(shí)故障檢查來自動(dòng)檢測故障或失效傳感器。監(jiān)測系統(tǒng)和傳感器網(wǎng)絡(luò)可以提供單觸式系統(tǒng)來在傳感器需要注意時(shí)通知用戶,而無需事先了解網(wǎng)絡(luò)中的傳感器的操作特性、安裝方法或配置。網(wǎng)絡(luò)利用決策引擎根據(jù)基于個(gè)人偏好和能力的簡檔幫助維護(hù)。

用于加熱和烹調(diào)裝置的溫度測量電路 1131     

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一種溫度測量電路,通過分支電阻將一個(gè)溫度傳感器,比如熱敏電阻,連接到一個(gè)基準(zhǔn)電壓源,比較裝置把所述傳感器連接點(diǎn)的電壓與規(guī)定的電壓作比較,以檢測所述溫度傳感器所檢測的值,經(jīng)過簡化的電路能夠檢測出所述的溫度傳感器的失效,比如傳感器的斷裂或燒斷。

測試裝置 707     

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本發(fā)明提供一種以高效率管理測試結(jié)果為目的的測試裝置,該測試裝置包括:測試被測試存儲(chǔ)器的各單元的測試部;對應(yīng)被測試存儲(chǔ)器的各單元,在失效存儲(chǔ)器中保存表示該單元好壞的失效信息的失效信息保存部;對被測試存儲(chǔ)器具有的每個(gè)塊,計(jì)數(shù)在該塊內(nèi)中被檢測出的不良單元的數(shù)目的計(jì)數(shù)部;塊接收要求讀出塊所包含的各單元的失效信息的讀出要求接收部;將讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)和預(yù)先被確定的基準(zhǔn)數(shù)進(jìn)行比較的比較部;把讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)超過基準(zhǔn)數(shù)作為條件,為了對讀出要求回信,將包含讀出目標(biāo)塊內(nèi)的各單元的失效信息的回信數(shù)據(jù)列中,連續(xù)的復(fù)數(shù)的失效信息轉(zhuǎn)換成表示品質(zhì)不良的值的變換部;以及回信數(shù)據(jù)列壓縮后回信的壓縮部。

將波束恢復(fù)測量優(yōu)先于其他測量 1132     

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根據(jù)第一實(shí)施方式，一種方法可以包括由用戶設(shè)備確定波束失效實(shí)例的數(shù)目大于或等于至少一個(gè)閾值。該方法可進(jìn)一步包括由用戶設(shè)備發(fā)起對至少一個(gè)波束候選集的至少一個(gè)測量。該方法可進(jìn)一步包括由用戶設(shè)備暫停由用戶設(shè)備執(zhí)行的非波束候選測量。

用于監(jiān)測集成電路上金屬退化的電路 1041     

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本發(fā)明涉及用于監(jiān)測集成電路上金屬退化的電路。一種集成電路(IC)，具有諸如功率MOSFET的熱發(fā)生元件、耦合到熱發(fā)生元件的載流導(dǎo)體、鄰近載流導(dǎo)體的感測導(dǎo)體以及耦合到感測導(dǎo)體的失效檢測電路。當(dāng)IC的熱循環(huán)導(dǎo)致感測導(dǎo)體的電阻變得大于依賴于溫度的閾值時(shí)，失效檢測電路生成信號(hào)，該信號(hào)指示集成電路將不久失效。由通過將電流注入到感測導(dǎo)體中以生成電壓來確定感測導(dǎo)體的電阻。依賴于溫度的閾值是通過將電流注入到被布置得遠(yuǎn)離載流和感測導(dǎo)體的參考導(dǎo)體中所生成的電壓。電壓比較器比校兩個(gè)電壓以生成輸出。替代地，失效檢測電路包括處理器，該處理器從在集成電路上采取的溫度測量計(jì)算依賴于溫度的閾值。

用于監(jiān)測硬盤的健康狀況的方法和裝置 773     

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本發(fā)明的各種實(shí)施例提供了一種用于監(jiān)測硬盤健康狀況的方法和裝置。該方法包括獲取與硬盤相關(guān)聯(lián)的全維度特征，其中全維度特征包括以下各項(xiàng)中的至少兩項(xiàng)：硬盤性能信息、數(shù)據(jù)完整性信息、輸入／輸出I／O正確性信息、以及硬盤的自動(dòng)監(jiān)視分析和報(bào)告技術(shù)S.M.A.R.T.報(bào)告。該方法還包括基于全維度特征確定硬盤的健康狀況。在本發(fā)明的實(shí)施例中，根據(jù)反映硬盤的多方面狀況的全維度特征對硬盤的健康狀況進(jìn)行評(píng)估，可以降低對硬盤的健康狀況的誤判率，從而使得硬盤更換次數(shù)降低、更換成本降低，并且還將會(huì)能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)存儲(chǔ)系統(tǒng)中實(shí)際失效的其他部件。

具有改良式壓柱的測試座及其測試系統(tǒng) 922     

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本發(fā)明公開了一種具有改良式壓柱的測試座及其測試系統(tǒng)，測試座包括：一吸測盤、一套襯座、及一基座。吸測盤具有多個(gè)壓柱，每一壓柱穿設(shè)有一通道及具有一圖樣的截面部；套襯座上具有可容納多個(gè)待測傳感器的多個(gè)容納室，多個(gè)容納室對應(yīng)多個(gè)壓柱而設(shè)置；基座上具有多個(gè)穿孔以容納多個(gè)探針。其中，吸測盤的每一壓柱分別置入套設(shè)于套襯座的每一容納室。由此，可避免在吸取移動(dòng)及壓測待測傳感器時(shí)，造成待測傳感器的感應(yīng)元件，產(chǎn)生測試失效等問題。

半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置及檢查方法 995     

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提供一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,具有可瞬時(shí)進(jìn)行涵蓋全地址空間的失效位圖的確認(rèn)的單元。具備如下強(qiáng)制控制電路中的任意一種:對由特定的地址信號(hào)所選擇的內(nèi)存單元的寫入數(shù)據(jù)或讀出數(shù)據(jù)的邏輯進(jìn)行強(qiáng)制控制的數(shù)據(jù)邏輯強(qiáng)制控制電路(21),對由特定的行地址所選擇的內(nèi)存單元的控制,強(qiáng)制進(jìn)行與通常動(dòng)作不同的控制的特定行強(qiáng)制控制電路(40),對由特定的列地址所選擇的內(nèi)存單元的控制,強(qiáng)制進(jìn)行與通常動(dòng)作不同的控制的特定列強(qiáng)制控制電路(50)。該強(qiáng)制失效動(dòng)作模式與通常動(dòng)作模式可分別選擇。

內(nèi)建自行測試系統(tǒng)及方法 792     

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外部測試裝置系被使用以仿造一內(nèi)部BIST測試,因此使獲取或產(chǎn)生詳細(xì)測試結(jié)果為可能。通過在測試時(shí)間實(shí)時(shí)仿真BIST測試序列,外部測試器可能監(jiān)控自BIST之一輸出且決定失敗發(fā)生的確實(shí)位置。外部測試器可能產(chǎn)生一位失敗映像指示是否每一內(nèi)存位置通過或未通過BIST測試。

超聲探頭換能器測試 996     

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通過在其透鏡與空氣接觸的情況下操作探頭來針對其陣列換能器的元件的失效對超聲探頭進(jìn)行測試。在該操作模式期間產(chǎn)生的回波信號(hào)被波束形成為由所述探頭產(chǎn)生的掃描線的常見集合。每條掃描線的頻率響應(yīng)被分析，并且和與測試中的所述探頭相同類型的已知好探頭的對應(yīng)掃描線的頻率響應(yīng)的參考信號(hào)進(jìn)行比較。如果比較披露方差大于預(yù)定的偏差，那么警告用戶所述探頭應(yīng)當(dāng)被更換。

機(jī)器剩余使用壽命的預(yù)測方法 1017     

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一種基于時(shí)間——特征值的數(shù)據(jù)記錄對機(jī)器的剩余使用壽命進(jìn)行預(yù)測的方法，包含以下步驟：步驟1)采用回歸分析法擬合出反映時(shí)間與特征值之間變量關(guān)系的機(jī)器壽命曲線的數(shù)學(xué)模型，并根據(jù)所述模型計(jì)算出壽命曲線到達(dá)預(yù)設(shè)的失效閾值所需的時(shí)間，即預(yù)期剩余使用壽命；以及步驟2)、以隨機(jī)缺省部分?jǐn)?shù)據(jù)的方式重復(fù)執(zhí)行上述步驟1，并根據(jù)重復(fù)執(zhí)行的結(jié)果統(tǒng)計(jì)出預(yù)期剩余使用壽命的概率分布，其中最大概率分布處所對應(yīng)的剩余使用壽命被確定為機(jī)器最有可能的預(yù)期剩余使用壽命。上述方法避免了以單一壽命曲線模型預(yù)測機(jī)器剩余使用壽命的偏執(zhí)性，能夠顯著提高機(jī)器預(yù)測的可靠性和準(zhǔn)確性。

用于遠(yuǎn)程感測等離子體的系統(tǒng)和方法 801     

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本發(fā)明提供一種用于遠(yuǎn)程監(jiān)測等離子體(3)的方法和系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括位于耦合等離子體源的近電磁場中的磁場天線(2)，其中，該磁場天線是置于該近電磁場中的磁環(huán)天線并測量從該等離子體源發(fā)射的近場信號(hào)。一種無線電系統(tǒng)(1)用于分析寬頻帶上的低功率信號(hào)電平。通過對驅(qū)動(dòng)頻率的高次諧波上所存在的諧振特征進(jìn)行擬合來評(píng)估諸如串聯(lián)或幾何諧振等離子體頻率、和電子中性碰撞頻率之類的等離子體參數(shù)，以標(biāo)識(shí)制造等離子體系統(tǒng)中常見的電弧、泵、或匹配失效事件。

用于燃料質(zhì)量的聲學(xué)監(jiān)測裝置 680     

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在本發(fā)明的框架內(nèi)發(fā)展出一種用于監(jiān)測儲(chǔ)存在燃料箱中的燃料的質(zhì)量的裝置。主要應(yīng)用領(lǐng)域是柴油驅(qū)動(dòng)的車輛。因此，燃料優(yōu)選是柴油燃料。所述裝置的特征在于，設(shè)置用于確定燃料沸點(diǎn)的器件。此外，在本發(fā)明的框架內(nèi)也發(fā)展出一種用于監(jiān)測儲(chǔ)存在燃料箱中的燃料的質(zhì)量的方法。主要應(yīng)用領(lǐng)域是柴油驅(qū)動(dòng)的車輛。因此，所述燃料優(yōu)選是柴油燃料。所述方法的特征在于，測量所述燃料的沸點(diǎn)或者該沸點(diǎn)與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差。在分析實(shí)際失效的噴射泵時(shí)看出，燃料的過低的沸點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致所述燃料的氣體析出。結(jié)果是在噴射泵中形成氣泡，在所述氣泡中局部地不再存在必需的潤滑。此外，潤滑作用依賴于，所述燃料具有確定的最小粘度。低沸點(diǎn)也與低粘度相關(guān)。因此，沸點(diǎn)(初沸點(diǎn)，IBP)總體是剛好針對燃料的帶來特別昂貴損害的標(biāo)準(zhǔn)偏差的特別好的指標(biāo)。

帶有冗余的泄放歧管的電子可控且可測試的渦輪機(jī)跳閘系統(tǒng)及方法 1008     

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一種配合例如渦輪機(jī)使用的跳閘控制系統(tǒng)，包括支撐并提供流體給兩個(gè)或多個(gè)跳閘歧管的入口歧管，每個(gè)跳閘歧管包括具有在跳閘聯(lián)箱管線和返回或切斷管線之間并聯(lián)的兩個(gè)或多個(gè)泄放閥從而將液壓流體壓力從跳閘聯(lián)箱管線泄放進(jìn)而導(dǎo)致跳閘的泄放回路。每個(gè)跳閘歧管的泄放閥由在控制器的控制下的一個(gè)或多個(gè)控制閥驅(qū)動(dòng)。跳閘控制系統(tǒng)被雙倍冗余的，其中所述跳閘控制系統(tǒng)包括并列運(yùn)行的冗余的跳閘歧管，以使得每個(gè)跳閘歧管能被用于獨(dú)立地接合渦輪機(jī)的跳閘裝置，以及每個(gè)跳閘歧管包括在跳閘歧管的一組組件中的一個(gè)出現(xiàn)失效的情況下或者在跳閘歧管的多個(gè)組件被測試時(shí)，能使跳閘歧管運(yùn)行以接合渦輪機(jī)跳閘裝置的冗余的閥組和其他跳閘組件。

入口歧管、跳閘控制系統(tǒng)、跳閘歧管系統(tǒng)及其操作方法以及測試方法 817     

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本發(fā)明提供了入口歧管、跳閘控制系統(tǒng)、跳閘歧管系統(tǒng)及其操作方法以及測試方法，其中尤其涉及配合例如渦輪機(jī)使用的跳閘控制系統(tǒng)，其包括支撐并提供流體給兩個(gè)或多個(gè)跳閘歧管的入口歧管，每個(gè)跳閘歧管包括具有在跳閘聯(lián)箱管線和返回或切斷管線之間并聯(lián)的兩個(gè)或多個(gè)泄放閥從而將液壓流體壓力從跳閘聯(lián)箱管線泄放進(jìn)而導(dǎo)致跳閘的泄放回路。每個(gè)跳閘歧管的泄放閥由在控制器的控制下的一個(gè)或多個(gè)控制閥驅(qū)動(dòng)。跳閘控制系統(tǒng)被雙倍冗余的，其中所述跳閘控制系統(tǒng)包括并列運(yùn)行的冗余的跳閘歧管，以使得每個(gè)跳閘歧管能被用于獨(dú)立地接合渦輪機(jī)的跳閘裝置，以及每個(gè)跳閘歧管包括在跳閘歧管的一組組件中的一個(gè)出現(xiàn)失效的情況下或者在跳閘歧管的多個(gè)組件被測試時(shí)，能使跳閘歧管運(yùn)行以接合渦輪機(jī)跳閘裝置的冗余的閥組和其他跳閘組件。

材料磨損壽命預(yù)測方法、設(shè)備、和材料磨損測試裝置 733     

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本發(fā)明公開一種材料磨損壽命的預(yù)測方法、設(shè)備和材料磨損測試裝置。該方法包括設(shè)定測試條件的參數(shù)；獲取材料在測試條件中的摩擦性能的數(shù)據(jù)和材料的失效臨界硬度；對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到材料的摩擦性能的變化關(guān)系；根據(jù)變化關(guān)系和失效臨界硬度，計(jì)算材料的磨損壽命。該裝置包括：基盤；磨片，磨片用于與樣品進(jìn)行摩擦，磨片被固定在基盤上；溫度控制單元，用于控制測試環(huán)境的溫度；壓力控制單元，用于對樣品施加恒定壓力；平衡臂，平衡臂的一端與樣品同軸線相連，通過調(diào)整平衡臂，改變樣品在磨片上的摩擦角度；驅(qū)動(dòng)單元，與基盤相連，用于控制基盤的轉(zhuǎn)動(dòng)速度和轉(zhuǎn)動(dòng)方向。本發(fā)明對材料磨損壽命進(jìn)行準(zhǔn)確預(yù)測，提高試驗(yàn)效率和試驗(yàn)經(jīng)濟(jì)性。

位置測量裝置和用于運(yùn)行位置測量裝置的方法 1030     

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本發(fā)明涉及位置測量裝置和用于運(yùn)行位置測量裝置的方法。所述位置測量裝置具有：分度載體，在該分度載體上布置有測量分度，至少一個(gè)位置傳感器，利用其通過掃描測量分度可生成與位置有關(guān)的測量信號(hào)，處理單元，利用所述處理單元可將與位置有關(guān)的測量信號(hào)處理成位置信號(hào)，和用于經(jīng)由至少一個(gè)數(shù)據(jù)傳輸通道與隨動(dòng)電子裝置通信的接口單元，其中所述位置測量裝置包括監(jiān)控單元，給所述監(jiān)控單元可輸送位置測量裝置的至少一個(gè)運(yùn)行條件，并且所述監(jiān)控單元包括評(píng)估單元，所述評(píng)估單元根據(jù)至少一個(gè)運(yùn)行條件來測定至少一個(gè)要監(jiān)控的部件的部件失效率，并且由此測定位置測量裝置的當(dāng)前運(yùn)行失效率。本發(fā)明進(jìn)一步涉及一種用于運(yùn)行這樣的位置測量裝置的方法。

陣列式電子接點(diǎn)可靠性的測試方法及其測試結(jié)構(gòu) 721     

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本發(fā)明提供一種陣列式電子接點(diǎn)可靠性的測試方法及其測試結(jié)構(gòu),其在一待測電子元件基板底部的第一接點(diǎn)群中,以螺旋狀方式或有規(guī)律的連續(xù)式回路設(shè)計(jì)使每二毗鄰的接點(diǎn)形成短路;并在一相對應(yīng)的測試電路板基板表面的第二接點(diǎn)群中,以反螺旋狀方式或有規(guī)律的反向連續(xù)式回路設(shè)計(jì)將其分組使每二毗鄰的接點(diǎn)形成短路,且對應(yīng)于待測電子元件第一接點(diǎn)群的短路則為開路;再利用復(fù)數(shù)導(dǎo)電接點(diǎn)導(dǎo)通第一接點(diǎn)群及第二接點(diǎn)群,進(jìn)而依該測試電路板的分組路線而將偶數(shù)個(gè)導(dǎo)電接點(diǎn)串聯(lián)成監(jiān)測回路;連續(xù)測試每一該監(jiān)測回路的電阻變化及其發(fā)生的異常事件,以據(jù)此判讀得知某一特定監(jiān)測回路的導(dǎo)電接點(diǎn)失效,達(dá)到導(dǎo)電接點(diǎn)多點(diǎn)式且為連續(xù)即時(shí)性的可靠性監(jiān)控測試的功效。

用于儲(chǔ)存真空計(jì)校準(zhǔn)參數(shù)及測量數(shù)據(jù)于真空計(jì)結(jié)構(gòu)上的方法及裝置 1009     

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一種用以借由組合離子化真空計(jì)與至少一其它的真空感測器來測量氣體壓力的方法及裝置。耦接于真空計(jì)的非依電性記憶體含有依據(jù)工廠校準(zhǔn)而定的各個(gè)個(gè)別感測器唯一的校準(zhǔn)參數(shù)。該非依電性記憶體可含有用于一熱敏真空感測器的校準(zhǔn)參數(shù),以補(bǔ)償由該離子化真空計(jì)所產(chǎn)生的溫度梯度。該等校準(zhǔn)參數(shù)是當(dāng)離子化真空計(jì)開啟及關(guān)閉時(shí)所判斷的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的函數(shù)。該非依電性記憶體可儲(chǔ)存該真空計(jì)的一視窗的測試數(shù)據(jù),該非依電性記憶體更新于預(yù)定的時(shí)間間隔及回應(yīng)于一諸如錯(cuò)誤事件的事件,以協(xié)助調(diào)查真空計(jì)故障或失效的原因。

測試模塊及測試方法 1015     

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本發(fā)明可簡單計(jì)算每個(gè)測試圖案錯(cuò)誤率。本發(fā)明提供一種測試被測試設(shè)備的測試模塊,包括:圖案生成部,基于圖案程序生成給予被測試設(shè)備的測試圖案及對應(yīng)測試圖案的期望值圖案;輸出圖案取得部,取得被給予測試圖案的被測試設(shè)備所輸出的輸出圖案;比較部,對輸出圖案與期望值圖案進(jìn)行比較;失效計(jì)數(shù)器,計(jì)數(shù)比較部的輸出圖案與期望值圖案比較為不一致時(shí)輸出的失效信息的輸出次數(shù);控制部,通過圖案程序包含的控制命令控制失效計(jì)數(shù)器的動(dòng)作。

軸承剩余壽命的監(jiān)測方法及監(jiān)測裝置 680     

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一種軸承剩余壽命的監(jiān)測方法及監(jiān)測裝置，其中監(jiān)測方法包括：在軸承運(yùn)行過程中，確定軸承的缺陷所在的位置，確定所述缺陷的大??；根據(jù)所述缺陷所在的位置和設(shè)定條件，確定所述軸承的失效模式，以及在所述失效模式下所述缺陷的擴(kuò)展速率和失效值，所述失效值為所述軸承失效時(shí)所述缺陷能夠達(dá)到的最大值；基于所述缺陷的大小、所述擴(kuò)展速率以及所述失效值，獲得所述軸承剩余壽命。本方案能夠判斷軸承的剩余使用壽命，以便維護(hù)人員提前安排維護(hù)計(jì)劃和應(yīng)對措施。

用于放大器模塊的預(yù)測性維護(hù)的方法和系統(tǒng) 673     

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本發(fā)明公開了一種用于執(zhí)行放大器模塊(12)的預(yù)測性維護(hù)的方法。經(jīng)由測量數(shù)據(jù)獲取單元(18)獲取至少一個(gè)放大器模塊(12)的至少一個(gè)參數(shù)。經(jīng)由測量數(shù)據(jù)分析單元分析所獲取的至少一個(gè)參數(shù)，以便預(yù)測至少一個(gè)放大器模塊(12)的失效概率和/或時(shí)間。此外，描述了一種系統(tǒng)(10)。

測試裝置以及測試方法 882     

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本發(fā)明提供一種對用于存儲(chǔ)附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的被測試存儲(chǔ)器(以下稱為DUT)進(jìn)行有效測試的測試裝置。該測試裝置將從DUT讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各比特與期望值相比較。該比較結(jié)果作為表示DUT的每個(gè)存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息被存儲(chǔ)在第一失效存儲(chǔ)器(以下稱為FM)中。存儲(chǔ)裝置在每一頁統(tǒng)計(jì)與期望值不一致的比特?cái)?shù),并在DUT的每一級(jí)別及每一頁,判斷與期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件。該判斷結(jié)果作為在每個(gè)級(jí)別表示各頁是否合格的頁合格/失效信息被存儲(chǔ)在第二FM中。如果包含有對應(yīng)某存儲(chǔ)單元的比特的頁滿足某級(jí)別條件的比特合格信息存儲(chǔ)在第二FM中,則測試裝置將第一FM的比特合格/失效信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。