半導(dǎo)體模塊焊層壽命失效的測(cè)試方法 771     

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本申請(qǐng)涉及一種半導(dǎo)體模塊焊層壽命失效的測(cè)試方法，包括：根據(jù)待測(cè)半導(dǎo)體模塊的規(guī)格確定參考溫度數(shù)據(jù)；所述參考溫度數(shù)據(jù)是同規(guī)格的半導(dǎo)體模塊所對(duì)應(yīng)的溫度標(biāo)定數(shù)據(jù)；獲取待測(cè)半導(dǎo)體模塊的初始溫度數(shù)據(jù)；所述初始溫度數(shù)據(jù)是待測(cè)半導(dǎo)體模塊在全新狀態(tài)下進(jìn)行溫度測(cè)試的數(shù)據(jù)；對(duì)待測(cè)半導(dǎo)體模塊進(jìn)行溫度測(cè)試，獲取當(dāng)前溫度數(shù)據(jù)；根據(jù)初始溫度數(shù)據(jù)、當(dāng)前溫度數(shù)據(jù)和參考溫度數(shù)據(jù)，判斷待測(cè)半導(dǎo)體模塊的焊層壽命是否失效。本申請(qǐng)的測(cè)試方法在完整功率模塊上進(jìn)行，不需要將待測(cè)半導(dǎo)體模塊從功率模塊中拆下，省時(shí)省力；也不會(huì)發(fā)生由于拆解及安裝導(dǎo)致的模塊及其它部件損壞；本方案不需要熱阻、超聲波掃描等相關(guān)設(shè)備投入，降低測(cè)試成本。

納星接管失效航天器姿態(tài)運(yùn)動(dòng)的分布式模型預(yù)測(cè)控制方法 824     

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本發(fā)明涉及一種納星接管失效航天器姿態(tài)運(yùn)動(dòng)的分布式模型預(yù)測(cè)控制方法，首先建立納星?失效航天器組合體姿態(tài)運(yùn)動(dòng)模型，其次建立有限時(shí)域的納星控制模型，最后設(shè)計(jì)納星的分布式模型預(yù)測(cè)控制器。提出的分布式模型預(yù)測(cè)控制方法能夠使各顆納星獨(dú)立進(jìn)行控制量解算，實(shí)現(xiàn)對(duì)失效航天器姿態(tài)運(yùn)動(dòng)的自主分布式接管控制，無需中央處理單元，且能夠方便地考慮納星的控制幅值約束。多納星的分布式模型預(yù)測(cè)控制方法相比集中式的控制分配，具有較好的容錯(cuò)性，且納星可根據(jù)自身的能量消耗情況調(diào)整自身局部目標(biāo)函數(shù)中的權(quán)值矩陣，以實(shí)現(xiàn)納星間能量消耗的均衡，在通過多顆納星實(shí)施失效航天器姿態(tài)運(yùn)動(dòng)接管的控制任務(wù)中具有重要應(yīng)用價(jià)值。

電感器失效模式及耐壓值的測(cè)試方法 1116     

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本發(fā)明公開了一種電感器失效模式及耐壓值的測(cè)試方法，所述電感器失效模式的測(cè)試方法包括步驟：S100、剪斷失效的電感器的任意一根引線；S200、將耐壓測(cè)試儀連接在電感器的兩個(gè)電極上，并施加電感器的耐壓值；S300、當(dāng)耐壓測(cè)試儀上顯示的兩電極間的阻值為正常值時(shí)，判定該電感器的失效不是由磁體的耐壓失效引起的；當(dāng)阻值為非正常值時(shí)，執(zhí)行步驟S400；S400、剪斷另一根引線，施加耐壓值，若阻值恢復(fù)為正常值，為縱向耐壓失效，否則為橫向耐壓失效。本發(fā)明通過剪斷電感器的引線，測(cè)試絕緣電阻的變化來確定耐壓失效模式，不需要將電感器的線圈及磁芯拆除分別對(duì)橫向或縱向耐壓失效進(jìn)行確認(rèn)，克服了測(cè)試過程中存在的偏差。

測(cè)試庫(kù)失效對(duì)象監(jiān)控方法及裝置、計(jì)算機(jī)裝置及存儲(chǔ)介質(zhì) 926     

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一種測(cè)試庫(kù)失效對(duì)象監(jiān)控方法，包括：建立與測(cè)試庫(kù)的連接，對(duì)所述測(cè)試庫(kù)進(jìn)行配置；根據(jù)對(duì)所述測(cè)試庫(kù)的配置，從所述測(cè)試庫(kù)的數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)象表中查詢處于失效狀態(tài)的數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)象，得到所述測(cè)試庫(kù)的失效對(duì)象；從所述測(cè)試庫(kù)的失效對(duì)象中剔除無關(guān)用戶的失效對(duì)象，得到篩選后的失效對(duì)象；輸出所述篩選后的失效對(duì)象。本發(fā)明還提供一種測(cè)試庫(kù)失效對(duì)象監(jiān)控裝置、計(jì)算機(jī)裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)靈活、高效的測(cè)試庫(kù)失效對(duì)象監(jiān)控。

FPC失效異常的測(cè)試方法 858     

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本發(fā)明公開了一種FPC失效異常的測(cè)試方法，包括步驟：提供一批應(yīng)用FPC的電子模組，對(duì)所述電子模組隨機(jī)抽取樣品；對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行品質(zhì)檢測(cè)；對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行電源開關(guān)沖擊測(cè)試，同時(shí)進(jìn)行高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試，所述電源開關(guān)沖擊測(cè)試是對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行多次通電斷電循環(huán)；所述電源開關(guān)沖擊測(cè)試和高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試完畢后，將所述抽取樣品取出，放置在常溫下靜置至少2個(gè)小時(shí)；對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行品質(zhì)檢測(cè)，并記錄檢測(cè)參數(shù)。通過電源開關(guān)沖擊測(cè)試搭配高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試，有效地檢測(cè)出FPC在經(jīng)過長(zhǎng)期使用后可能產(chǎn)生的問題。

熱敏電阻失效電流的自動(dòng)測(cè)試方法及裝置 681     

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本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種熱敏電阻失效電流的自動(dòng)測(cè)試方法及裝置。所述方法包括：以初始電流對(duì)測(cè)試系統(tǒng)中的熱敏電阻進(jìn)行通電測(cè)試；在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，檢測(cè)所述熱敏電阻是否失效；若否，則對(duì)所述熱敏電阻斷電；在第二預(yù)設(shè)時(shí)間后，以增加第一電流對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行通電測(cè)試；在第三預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，檢測(cè)所述熱敏電阻是否失效；若否，則重復(fù)所述在第二預(yù)設(shè)時(shí)間后，以增加第一電流對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行通電測(cè)試的步驟，直至所述熱敏電阻失效，記錄失效電流。通過測(cè)試系統(tǒng)對(duì)熱敏電阻進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，不斷增加第一電流，直至熱敏電阻失效，記錄失效電流，解決人工手動(dòng)測(cè)試熱敏電阻失效電流，導(dǎo)致耗時(shí)長(zhǎng)、浪費(fèi)人力，且存在安全隱患的問題。

磁盤失效預(yù)測(cè)方法、預(yù)測(cè)模型訓(xùn)練方法、電子設(shè)備 830     

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本發(fā)明提供了一種磁盤失效預(yù)測(cè)方法、預(yù)測(cè)模型訓(xùn)練方法、電子設(shè)備，該磁盤失效預(yù)測(cè)方法包括：獲取待預(yù)測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集，所述預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集包括預(yù)測(cè)樣本IO的IO信息和與所述預(yù)測(cè)樣本IO相對(duì)應(yīng)的SMART信息，其中，所述預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集采集于所述待預(yù)測(cè)磁盤的緩存盤加速場(chǎng)景；將所述預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集輸入至預(yù)先訓(xùn)練好的預(yù)測(cè)模型，得出所述待預(yù)測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提供的方案，能夠結(jié)合IO信息和SMART信息，對(duì)所有類型的磁盤進(jìn)行磁盤失效預(yù)測(cè)，有效降低了數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險(xiǎn)。

風(fēng)扇失效的偵測(cè)系統(tǒng)及偵測(cè)方法 729     

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本發(fā)明提供一種風(fēng)扇失效的偵測(cè)系統(tǒng)及偵測(cè)方法，該方法包括以下步驟：獲取中央處理器處的第一溫度值及進(jìn)風(fēng)口結(jié)構(gòu)處的第二溫度值；實(shí)時(shí)計(jì)算中央處理器的功率；及基于獲取的第一溫度值、第二溫度值及中央處理器的功率計(jì)算出一熱阻值；比較計(jì)算所得的熱阻值是否大于一預(yù)設(shè)的熱阻值；及當(dāng)計(jì)算所得的熱阻值大于預(yù)設(shè)的熱阻值時(shí)，產(chǎn)生一風(fēng)扇失效反饋信息。本發(fā)明的風(fēng)扇失效的偵測(cè)系統(tǒng)及偵測(cè)方法，可便于用戶快速知道當(dāng)前有風(fēng)扇已失效，以此避免在風(fēng)扇與服務(wù)器之間設(shè)置多條電線。

電動(dòng)車輛的安全失效風(fēng)險(xiǎn)預(yù)測(cè)方法以及電動(dòng)車輛 823     

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本發(fā)明涉及一種電動(dòng)車輛的安全失效風(fēng)險(xiǎn)預(yù)測(cè)方法，包括：S1、構(gòu)建安全樹，所述安全樹包括多個(gè)安全失效底層事件、安全失效中間事件、安全失效頂層事件以及所述安全失效底層事件、所述安全失效中間事件、所述安全失效頂層事件之間的邏輯因果關(guān)系和安全重要程度；S2、根據(jù)所述安全樹，預(yù)測(cè)所述電動(dòng)車輛的安全失效風(fēng)險(xiǎn)。實(shí)施本發(fā)明的所述的電動(dòng)車輛的安全失效風(fēng)險(xiǎn)預(yù)測(cè)方法、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)以及電動(dòng)車輛，可以分析車輛失效風(fēng)險(xiǎn)隨時(shí)間變化的規(guī)律，并對(duì)未來的失效風(fēng)險(xiǎn)度進(jìn)行預(yù)測(cè)，為車輛的安全運(yùn)維提供必要的定量化信息基礎(chǔ)。

基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法 697     

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一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法，包括以下步驟：步驟S1、從產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試項(xiàng)目中篩選出重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目；收集因重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)問題而被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成非正常數(shù)據(jù)集；步驟S2、根據(jù)所述被客退的產(chǎn)品的生產(chǎn)時(shí)間，獲取同一批次但未被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成正常數(shù)據(jù)集；步驟S3、基于非正常數(shù)據(jù)集和正常數(shù)據(jù)集，構(gòu)建用于根據(jù)產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)預(yù)判產(chǎn)品是否存在軟失效的軟失效預(yù)測(cè)模型；步驟S4、根據(jù)軟失效預(yù)測(cè)模型，實(shí)時(shí)分析產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而預(yù)測(cè)產(chǎn)品是否存在軟失效。本發(fā)明的軟失效預(yù)測(cè)方法設(shè)計(jì)新穎，實(shí)用性強(qiáng)。

基于工業(yè)IoT的ESD軟失效預(yù)測(cè)方法和系統(tǒng) 975     

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本發(fā)明提出了一種基于工業(yè)IoT的ESD軟失效預(yù)測(cè)方法和系統(tǒng)。所述ESD軟失效預(yù)測(cè)系統(tǒng)，包括：數(shù)據(jù)采集模塊，用于收集產(chǎn)品的客退數(shù)據(jù)、返修數(shù)據(jù)、ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)以及IoT系統(tǒng)監(jiān)控的ESD防護(hù)狀態(tài)數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊，用于對(duì)數(shù)據(jù)采集模塊所采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)；數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊，用于對(duì)數(shù)據(jù)采集模塊所采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)融合和特征數(shù)據(jù)篩選；數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊處理后的數(shù)據(jù)建立ESD軟失效預(yù)測(cè)模型；應(yīng)用模塊，用于根據(jù)ESD軟失效預(yù)測(cè)模型，實(shí)時(shí)分析產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而預(yù)測(cè)產(chǎn)品是否存在ESD軟失效。本發(fā)明的基于工業(yè)IoT的ESD軟失效預(yù)測(cè)方法和系統(tǒng)設(shè)計(jì)新穎，實(shí)用性強(qiáng)。

集群系統(tǒng)的失效預(yù)測(cè)方法及裝置 1107     

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本發(fā)明實(shí)施例提供一種集群系統(tǒng)的失效預(yù)測(cè)方法及裝置。方法包括：根據(jù)集群系統(tǒng)的失效事件集合對(duì)事件序列模式集合進(jìn)行聚類分析，獲得事件序列簇；對(duì)事件序列簇進(jìn)行因果關(guān)聯(lián)分析，獲取因果關(guān)聯(lián)路徑簇；對(duì)因果關(guān)聯(lián)路徑簇進(jìn)行失效分析，獲取集群系統(tǒng)的失效模式；根據(jù)失效模式，對(duì)集群系統(tǒng)進(jìn)行失效預(yù)測(cè)。本發(fā)明實(shí)施例提供的集群系統(tǒng)的失效預(yù)測(cè)方法及裝置對(duì)事件序列模式集合進(jìn)行聚類獲得因果關(guān)聯(lián)路徑簇，從而獲得集群系統(tǒng)的失效模式，根據(jù)獲取的失效模式對(duì)集群系統(tǒng)進(jìn)行失效預(yù)測(cè)?？梢酝ㄟ^對(duì)集群系統(tǒng)日志進(jìn)行深度的分析和挖掘，獲得用于失效預(yù)測(cè)的可靠的失效規(guī)則，進(jìn)而提高失效預(yù)測(cè)的召回率。

檢查存儲(chǔ)介質(zhì)失效的方法、裝置和固態(tài)硬盤 909     

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本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)領(lǐng)域，主要提供一種檢查存儲(chǔ)介質(zhì)失效的方法、裝置和固態(tài)硬盤，應(yīng)用于固態(tài)硬盤。通過獲取閃存介質(zhì)的操作數(shù)據(jù)，并根據(jù)操作數(shù)據(jù)獲取存儲(chǔ)介質(zhì)的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信息，然后根據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信息檢測(cè)是否觸發(fā)對(duì)存儲(chǔ)介質(zhì)的失效診斷，當(dāng)確定對(duì)存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行失效診斷時(shí)，從存儲(chǔ)介質(zhì)的若干閃存塊中獲取已經(jīng)執(zhí)行寫操作的閃存塊，并對(duì)已經(jīng)執(zhí)行了寫操作的閃存塊執(zhí)行讀操作，最后根據(jù)讀操作的結(jié)果檢查存儲(chǔ)介質(zhì)是否失效。本發(fā)明通過對(duì)已經(jīng)執(zhí)行過了寫操作的閃存塊進(jìn)行診斷，實(shí)現(xiàn)了在不影響固態(tài)硬盤性能的條件下，對(duì)閃存介質(zhì)中的存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行失效診斷，從而避免了因檢查存儲(chǔ)介質(zhì)失效不及時(shí)而導(dǎo)致的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)丟失和出現(xiàn)宕機(jī)，提高了固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性。

電子裝置失效測(cè)試裝置及測(cè)試方法 908     

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本發(fā)明提供一種電子裝置失效測(cè)試裝置，包括偵測(cè)裝置，所述電子裝置用于：控制該偵測(cè)裝置對(duì)該電子裝置所處環(huán)境的參數(shù)值進(jìn)行偵測(cè)；獲取該偵測(cè)裝置偵測(cè)到的環(huán)境參數(shù)值；確定該環(huán)境參數(shù)值是否超出預(yù)設(shè)范圍；若是，則對(duì)該電子裝置的內(nèi)部元件及運(yùn)行情況進(jìn)行測(cè)試，并取得該電子裝置的測(cè)試數(shù)據(jù)；及將該電子裝置的測(cè)試數(shù)據(jù)和該偵測(cè)裝置偵測(cè)到的環(huán)境參數(shù)值與一失效數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)從而判斷該電子裝置的失效原因，其中，該失效數(shù)據(jù)庫(kù)中包括導(dǎo)致電子裝置失效的環(huán)境參數(shù)值、電子裝置失效時(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù)以及失效原因。本發(fā)明還提供一種測(cè)試方法。本發(fā)明能夠自動(dòng)分析電子裝置失效原因且無需拆機(jī)。

核電站熱交換器傳熱管的無損檢測(cè)分析方法、裝置及系統(tǒng) 994     

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本發(fā)明適用于核電技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種核電站熱交換器傳熱管的無損檢測(cè)分析方法、裝置及系統(tǒng)。本發(fā)明通過對(duì)多個(gè)標(biāo)定管管壁外側(cè)沿標(biāo)定管的周向開設(shè)具有預(yù)設(shè)周向角度的凹槽，將測(cè)量得到的標(biāo)定管的渦流信號(hào)在電壓平面生成標(biāo)定圖，再對(duì)待測(cè)傳熱管的管腔沿其軸線方向移動(dòng)檢測(cè)至少5個(gè)位置的渦流信號(hào)并將渦流信號(hào)于標(biāo)定圖上生成缺陷瞬態(tài)響應(yīng)線以依次獲取缺陷瞬態(tài)響應(yīng)線端點(diǎn)的缺陷深度及周向角度，最后根據(jù)依次獲取周向角度及缺陷深度判定缺陷類型，由此可以直觀顯示缺陷的周向范圍，并通過周向范圍及缺陷深度等特征信號(hào)判斷缺陷的類型，實(shí)現(xiàn)定性判傷，從而準(zhǔn)確地判定熱交換器傳熱管的缺陷及其類型，減少熱交換器傳熱管的失效風(fēng)險(xiǎn)。

模型失效檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì) 925     

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本發(fā)明涉及一種模型失效檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)，所述方法包括：獲取待測(cè)模型對(duì)應(yīng)的訓(xùn)練數(shù)據(jù)的第一文本分布；獲取所述待測(cè)模型對(duì)應(yīng)的業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)的第二文本分布；獲取所述第一文本分布以及所述第二文本分布之間的偏移值；在所述偏移值大于預(yù)設(shè)的預(yù)警閾值時(shí)，執(zhí)行預(yù)設(shè)操作，例如發(fā)出報(bào)警信息；最后從公共詞集合中按照偏離量由大到小的順序?qū)卧~進(jìn)行排序。本發(fā)明的技術(shù)方案，屬基于KL散度或JS散度的數(shù)據(jù)分布差異量化方法，可實(shí)現(xiàn)針對(duì)文本數(shù)據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景的各項(xiàng)適配，保證模型在上線后性能符合預(yù)期；本發(fā)明的有益效果包括：及時(shí)對(duì)模型的退化情況進(jìn)行量化預(yù)警，避免低效率的數(shù)據(jù)收集工作，避免造成資源浪費(fèi)。

MCU輸入IO口同步硬件失效檢測(cè)電路 679     

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本實(shí)用新型公開了一種MCU輸入IO口同步硬件失效檢測(cè)電路，包括控制芯片、按鍵模塊、邏輯芯片和控制開關(guān)；按鍵模塊連接所述控制芯片；邏輯芯片連接所述控制芯片和所述按鍵模塊；控制開關(guān)連接所述邏輯芯片；所述控制開關(guān)連接所述控制芯片的復(fù)位引腳RST，通過所述控制開關(guān)的開或閉控制所述控制芯片的復(fù)位引腳RST的電位變化。本實(shí)用新型實(shí)施例通過設(shè)置邏輯芯片，且邏輯芯片分別連接按鍵模塊和控制芯片，即邏輯芯片可以同時(shí)監(jiān)測(cè)按鍵模塊的按鍵輸入和控制芯片的賦值輸出，并結(jié)合兩者的值進(jìn)行邏輯判斷，在控制芯片檢測(cè)按鍵輸入的引腳出現(xiàn)故障時(shí)，能及時(shí)控制控制芯片的復(fù)位引腳RST的電平進(jìn)行復(fù)位，進(jìn)而禁止控制芯片對(duì)外接硬件輸出，避免事故發(fā)生。

繼電器短路失效檢測(cè)方法及裝置 974     

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本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種繼電器短路失效檢測(cè)方法及裝置，包括：通過斷開第一開關(guān)和第二開關(guān)；通過驅(qū)動(dòng)模塊控制主繼電器組和從繼電器組斷開；檢測(cè)第一逆變電壓和第一電網(wǎng)電壓，若第一逆變電壓和第一電網(wǎng)電壓的第一差值絕對(duì)值小于或等于第一預(yù)設(shè)閾值，則確定主繼電器組和從繼電器組均發(fā)生故障；否則，控制主繼電器組或從繼電器組交替連接，并檢測(cè)第二逆變電壓和第二電網(wǎng)電壓，若第二差值絕對(duì)值小于或等于第一預(yù)設(shè)閾值，則確定主繼電器組或從繼電器組故障；否則，控制第一開關(guān)或第二開關(guān)交替閉合，若第一電阻或第二電阻兩端的電阻電壓大于第二預(yù)設(shè)閾值，則確定目標(biāo)繼電器發(fā)生故障。如此，能夠?qū)崿F(xiàn)精確定位故障繼電器，降低因繼電器故障造成的損失。

帶失效檢測(cè)的永磁制動(dòng)器 890     

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本實(shí)用新型公開了一種帶失效檢測(cè)的永磁制動(dòng)器，包括固定座、檢測(cè)裝置、摩擦片、釋放線圈、鐵環(huán)和永磁鐵，所述固定座為環(huán)狀結(jié)構(gòu)，所述鐵環(huán)位于固定座的內(nèi)部，鐵環(huán)的下端與固定座連接，環(huán)形腔體內(nèi)設(shè)有釋放線圈和永磁鐵，所述釋放線圈和永磁鐵均為環(huán)狀結(jié)構(gòu)，釋放線圈位于永磁鐵的上方，固定座的側(cè)壁上設(shè)有安裝孔，所述安裝孔內(nèi)設(shè)有檢測(cè)裝置，所述固定座的上方設(shè)有環(huán)狀的摩擦片。本實(shí)用新型能有效的檢測(cè)制動(dòng)器的狀態(tài)，在外部結(jié)構(gòu)動(dòng)作前先讀取傳感器的電壓值，對(duì)比傳感器打開和閉合時(shí)的電壓值，即可知道制動(dòng)器的動(dòng)作是否有效，即使是在使用過程中線圈突然失電，也能感知到變化，及時(shí)的輸出信號(hào)，使機(jī)構(gòu)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，避免其他機(jī)構(gòu)的損壞。

氣體采樣附件失效檢測(cè)和溫度、濕度補(bǔ)償裝置 1106     

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本實(shí)用新型公開了一種氣體采樣附件失效檢測(cè)和溫度、濕度補(bǔ)償裝置，包括：氣體采樣附件、濃度測(cè)量單元、主控單元、監(jiān)測(cè)單元、報(bào)警單元，氣體采樣附件與進(jìn)氣口密封連接，微處理器與無線通訊電性連接，濃度測(cè)量單元與主控單元電性連接，濕度傳感器、溫度傳感器設(shè)置在所述氣體采樣附件道中，監(jiān)測(cè)單元與主控單元電性連接，報(bào)警單元與主控單元電性連接。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，能夠更加準(zhǔn)確的判斷氣體采樣附件是否失效，避免測(cè)量核心單元的光學(xué)組件被污染而導(dǎo)致測(cè)量誤差增大或者裝置失效，實(shí)時(shí)采集被測(cè)量氣體濕度，對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)償，讓氣體濃度測(cè)量結(jié)果更加準(zhǔn)確，實(shí)時(shí)采集被測(cè)量氣體溫度，對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)償，讓氣體濃度測(cè)量結(jié)果更加準(zhǔn)確。

X電容衰減失效檢測(cè)電路 1129     

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本實(shí)用新型公開了一種X電容衰減失效檢測(cè)電路，應(yīng)用于PFC輸入電路中，所述輸入電路包括三路X電容，所述三路X電容的一端分別與三相電源的三相輸出連接，所述三路X電容的另一端共接作為電容中點(diǎn)，所述X電容衰減失效檢測(cè)電路包括用于采樣得到三路線電壓的三路線電壓采樣電路、用于采樣得到三路相電壓的三路相電壓采樣電路、用于在三路線電壓不存在偏壓時(shí)根據(jù)所述三路相電壓確定X電容是否衰減的處理電路，本實(shí)用新型可以保證X電容容量處于一個(gè)優(yōu)良的容量狀態(tài)，本實(shí)用新型實(shí)施簡(jiǎn)單、效果優(yōu)異，極大地避免了具備此電路的產(chǎn)品因X電容衰減導(dǎo)致的X電容燒壞從而產(chǎn)品失效，極大地減小了產(chǎn)品的失效率。

DC-DC電路輸出失效檢測(cè)電路裝置 1128     

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本實(shí)用新型涉及電路檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其為一種DC?DC電路輸出失效檢測(cè)電路裝置，包括外殼，所述外殼內(nèi)固定連接有檢測(cè)主體，所述外殼內(nèi)左右兩側(cè)均固定連接有檢測(cè)筆，所述檢測(cè)筆外側(cè)開設(shè)有凹槽，所述檢測(cè)筆所述凹槽內(nèi)設(shè)有定位塊，所述定位塊另一端內(nèi)滑動(dòng)連接有限位桿，所述限位桿外側(cè)設(shè)有定位彈簧，所述限位桿一端與外殼固定連接，本實(shí)用新型中，通過設(shè)置的外殼、凹槽、定位塊、限位桿和定位彈簧，可以方便的對(duì)檢測(cè)筆進(jìn)行定位，方便對(duì)檢測(cè)筆進(jìn)行收納，通過設(shè)置的推板、連接板、連接桿、復(fù)位彈簧、推塊和橡膠圈，可以方便的將檢測(cè)筆推出，方便檢測(cè)筆的使用。

動(dòng)力電池的失效檢測(cè)裝置 676     

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本實(shí)用新型提供一種動(dòng)力電池的失效檢測(cè)裝置，包括盛放待測(cè)動(dòng)力電池的箱體，所述箱體外側(cè)設(shè)有LED燈和蜂鳴器，所述箱體內(nèi)側(cè)壁上設(shè)有管體，所述管體內(nèi)設(shè)有氣體采集泵和氣敏傳感器，管體的前端設(shè)有進(jìn)氣口，管體的后端設(shè)有出氣口，氣體采集泵設(shè)在所述的進(jìn)氣口的后方，的氣敏傳感器設(shè)在氣體采集泵和出氣口之間，箱體內(nèi)還設(shè)有電源模塊、單片機(jī)、信號(hào)處理模塊、電壓檢測(cè)模塊、電流放電模塊，所述氣敏傳感器、LED燈、蜂鳴器、電壓檢測(cè)模塊、電源模塊及信號(hào)處理模塊分別與所述單片機(jī)連接，所述信號(hào)處理模塊還分別與所述電流放電模塊、電壓檢測(cè)模塊連接。本檢測(cè)裝置保證動(dòng)力電池失效檢測(cè)的有效性，降低了客戶使用過程中的安全隱患，裝置簡(jiǎn)單、有效、實(shí)用。

檢測(cè)線路板中微導(dǎo)通孔是否互聯(lián)失效的方法 1161     

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本發(fā)明涉及電路板生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種檢測(cè)線路板中微導(dǎo)通孔是否互聯(lián)失效的方法。本發(fā)明通過設(shè)計(jì)具有焊接端子的檢測(cè)環(huán)，將焊接端子與盲孔所在的獨(dú)立PAD(焊盤)焊接，然后用拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試獨(dú)立PAD與測(cè)試板分離所需的拉力值，通過拉力值并結(jié)合從盲孔切片所觀測(cè)到的現(xiàn)象判斷盲孔的孔內(nèi)鍍銅層與其相鄰的內(nèi)層銅之間的結(jié)合力是否合格，從而判斷該盲孔是否互聯(lián)失效。本發(fā)明方法簡(jiǎn)單易行，很好地解決了線路板中微導(dǎo)通孔是否互聯(lián)失效的問題，從而可控制出貨風(fēng)險(xiǎn)。

光纖耦合器及其制備方法和封裝失效的檢測(cè)方法 987     

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本發(fā)明涉及光纖耦合器的技術(shù)領(lǐng)域，公開了光纖耦合器及其制備方法和封裝失效的檢測(cè)方法，制備方法包括步驟：剝除光纜PVC外層；采用平行裝夾熔融拉錐工藝制備光纖耦合器，并通過拉力檢測(cè)光纖耦合器燒結(jié)完成后的縱向抗拉強(qiáng)度；將燒結(jié)的半成品進(jìn)行第一道封裝；接著進(jìn)行第二道封裝；將光纖終端進(jìn)行燒球處理；將半成品置于95～105℃中烘烤1.5～2.5小時(shí)并冷卻至常溫，再將半成品置于-40～85℃溫度中循環(huán)45～51小時(shí)，接著用85～95℃含氟油檢查第二道封裝的密封情況，篩選出不良品；再將良好的半成品進(jìn)行第三道封裝。本發(fā)明通過上述制備方法解決了傳統(tǒng)光纖耦合器在低溫狀態(tài)度下插入損耗增大的問題，提高了光纖耦合器的穩(wěn)定性。

網(wǎng)元失效影響業(yè)務(wù)檢測(cè)的方法和裝置 894     

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本發(fā)明提供一種網(wǎng)元失效影響業(yè)務(wù)檢測(cè)方法和裝置，該方法包括將目標(biāo)區(qū)域內(nèi)的部分網(wǎng)元設(shè)為失效網(wǎng)元；查詢所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)的經(jīng)過所述失效網(wǎng)元的業(yè)務(wù)集合，針對(duì)所述業(yè)務(wù)集合中每一條業(yè)務(wù)，判斷是否受到所述失效網(wǎng)元的影響；根據(jù)判斷結(jié)果獲取所述目標(biāo)區(qū)域中受到所述失效網(wǎng)元影響的業(yè)務(wù)。本發(fā)明實(shí)施例能夠提高網(wǎng)元失效影響業(yè)務(wù)的檢測(cè)效率。

電流采樣失效的檢測(cè)方法及裝置 842     

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本發(fā)明屬于傳感器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電流采樣失效的檢測(cè)方法及裝置，所述檢測(cè)方法包括：獲取輸出電容的電容值；輸出控制信號(hào)使所述輸出電容兩端的電壓值隨時(shí)間變化；根據(jù)所述電容值和所述電壓值計(jì)算目標(biāo)電流值；比較所述目標(biāo)電流值和電流傳感器輸出的采樣電流，若所述目標(biāo)電流值和所述采樣電流的差值小于預(yù)設(shè)值，則判斷電流傳感器電流采樣正常，若所述目標(biāo)電流值和所述采樣電流的差值大于預(yù)設(shè)值，則判斷電流傳感器電流采樣失效。通過輸出控制信號(hào)使輸出電容兩端的電壓值隨時(shí)間變化，根據(jù)電容值和電壓值計(jì)算目標(biāo)電流值；比較目標(biāo)電流值和電流傳感器輸出的采樣電流，判斷電流傳感器是否存在故障。

被動(dòng)均衡失效檢測(cè)電路 815     

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本發(fā)明公開一種被動(dòng)均衡失效檢測(cè)電路，包括均衡電路模塊和采集驅(qū)動(dòng)模塊，均衡電路模塊包括多個(gè)均衡電路單元，各均衡電路單元的一端均連接采集驅(qū)動(dòng)模塊，且另一端分別連接由多個(gè)儲(chǔ)能元件串聯(lián)組成的儲(chǔ)能模塊中對(duì)應(yīng)的儲(chǔ)能元件，均衡電路單元用于采集對(duì)應(yīng)儲(chǔ)能元件的輸出電壓并發(fā)送至采集驅(qū)動(dòng)模塊；采集驅(qū)動(dòng)模塊用于控制均衡電路單元的通斷狀態(tài)，并且根據(jù)均衡電路單元發(fā)送的輸出電壓和均衡電路單元的通斷狀態(tài)來判斷電路是否出現(xiàn)失效。通過上述被動(dòng)均衡失效檢測(cè)電路能夠在對(duì)儲(chǔ)能元件進(jìn)行均衡的同時(shí)檢測(cè)均衡電路是否失效，從而避免出現(xiàn)均衡電路失效影響儲(chǔ)能元件一致性的問題。

LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的防失效方法 781     

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本發(fā)明公開了一種LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的防失效方法，所述方法包括以下步驟：S1、自檢準(zhǔn)備，電腦控制產(chǎn)品顯示自檢畫面并控制相機(jī)拍攝自檢畫面；S2、自檢判斷，電腦接收相機(jī)拍攝的自檢畫面并進(jìn)行檢測(cè)和計(jì)算，得到自檢壞點(diǎn)的個(gè)數(shù)a；然后將自檢壞點(diǎn)和預(yù)設(shè)壞點(diǎn)進(jìn)行比對(duì)并進(jìn)行判斷；S3、自檢調(diào)整，當(dāng)步驟S2判斷LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)失效，則對(duì)LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)和調(diào)整，并重復(fù)步驟S1至步驟S2：S4、自檢結(jié)束，當(dāng)步驟S2判斷LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)正常，則LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)入壞點(diǎn)檢測(cè)流程；本發(fā)明在LCD壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)加入自檢流程，可以對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自檢，避免因系統(tǒng)失效卻無從得知而導(dǎo)致的不良品批量性流出。

小區(qū)失效檢測(cè)和補(bǔ)償方法及裝置 836     

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本發(fā)明涉及一種小區(qū)失效檢測(cè)和補(bǔ)償方法及裝置。該小區(qū)失效檢測(cè)和補(bǔ)償方法包括：基站監(jiān)測(cè)所述基站下的小區(qū)中的多個(gè)運(yùn)營(yíng)商的工作狀態(tài)信息；根據(jù)監(jiān)測(cè)到的所述工作狀態(tài)信息確定所述基站下的小區(qū)中的失效小區(qū)及所述失效小區(qū)中的失效運(yùn)營(yíng)商；針對(duì)所述失效運(yùn)營(yíng)商對(duì)失效小區(qū)進(jìn)行失效補(bǔ)償。