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> 失效分析技術(shù)
一種紅外線接收芯片的測(cè)試儀,主要包括主控單元、信號(hào)產(chǎn)生模塊、信號(hào)處理模塊、測(cè)量模塊和AD轉(zhuǎn)換器、通信模塊;信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生可調(diào)的正弦波和方波信號(hào)以提供給紅外線接收芯片使用;信號(hào)處理模塊將紅外線接收芯片的輸出信號(hào)調(diào)整為主控單元可識(shí)別的信號(hào)并傳送至主控單元;測(cè)量模塊將紅外線接收芯片的電壓和電流調(diào)整后輸入至AD轉(zhuǎn)換器,AD轉(zhuǎn)換器將電壓和電流轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)后傳送至主控單元;主控單元對(duì)采集的紅外線接收芯片的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理并得出測(cè)試結(jié)果,并且能夠設(shè)定對(duì)紅外線接收芯片進(jìn)行連續(xù)失效報(bào)警和低良率報(bào)警;通信模塊將主控單元分析處理后的數(shù)據(jù)及測(cè)試結(jié)果傳送至上位機(jī)保存,并通過連接PC與主控單元以實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互操作。
本發(fā)明公開了一種基于大數(shù)據(jù)和數(shù)字孿生的電池儲(chǔ)能站監(jiān)測(cè)方法及系統(tǒng),所述方法包括:根據(jù)電池儲(chǔ)能電站的所述全要素信息和第一仿真系統(tǒng),構(gòu)建第一數(shù)字孿生模型,其中,所述第一數(shù)字孿生模型包括三維模型、數(shù)據(jù)模型和機(jī)理模型;通過對(duì)所述第一數(shù)字孿生模型進(jìn)行動(dòng)態(tài)更新,獲得第二數(shù)字孿生模型;根據(jù)所述電池儲(chǔ)能電站的失效行為數(shù)據(jù),構(gòu)建第一電站監(jiān)測(cè)模型,其中,所述第一電站監(jiān)測(cè)模型包括監(jiān)測(cè)模型、分析模型和報(bào)警模型;根據(jù)所述第二數(shù)字孿生模型和所述第一電站監(jiān)測(cè)模型對(duì)所述電池儲(chǔ)能電站進(jìn)行智能監(jiān)測(cè)。解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在電池儲(chǔ)能站的監(jiān)測(cè)不夠完善,無(wú)法準(zhǔn)確對(duì)熱失控進(jìn)行智能化數(shù)據(jù)分析,安全控制可靠性較低且效率不高的技術(shù)問題。
本申請(qǐng)涉及一種GaN器件的可靠性測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)??煽啃詼y(cè)試方法通過獲取GaN器件的瞬時(shí)電流曲線;其中,瞬時(shí)電流曲線為GaN器件經(jīng)施加脈沖信號(hào)得到;脈沖信號(hào)為脈沖寬度小于或等于1微秒的信號(hào)。基于瞬時(shí)電流曲線進(jìn)行分析,得到GaN器件的可靠性分析結(jié)果。脈沖寬度小的脈沖信號(hào)可向GaN器件施加短脈沖電應(yīng)力,GaN器件的柵極區(qū)域可以施加較大的瞬態(tài)累加電壓應(yīng)力;同時(shí),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、分析每個(gè)短脈沖電應(yīng)力后GaN器件的電流波形,可獲取器件退化、失效的動(dòng)態(tài)全過程行為。本申請(qǐng)實(shí)施例的測(cè)試方法簡(jiǎn)單、易操作,在短脈沖的條件下,可施加比傳統(tǒng)測(cè)試方法更高的電壓強(qiáng)度,能夠分析器件的可靠性,比對(duì)不同器件結(jié)構(gòu)參數(shù)之間的優(yōu)劣性。
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中DDR連接器末端熔接線強(qiáng)度較差,容易開裂的問題,本發(fā)明提供一種溢料槽、制作DDR連接器的注塑裝置及質(zhì)檢方法,包括活塞結(jié)構(gòu)和設(shè)置在所述活塞結(jié)構(gòu)上的阻尼單元,用于對(duì)活塞結(jié)構(gòu)提供線性粘性阻尼力以提升型腔內(nèi)的壓力。本發(fā)明通過設(shè)置彈簧或液壓缸對(duì)活塞施力,可以令型腔末端壓力不為零,從而令熔接線位置處以更小的空間獲得更大的保壓,實(shí)現(xiàn)了DDR連接器的多模穴穩(wěn)定生產(chǎn)功能;同時(shí),通過注塑完之后活塞的位置,獲取不同模穴所獲得的壓力,如果低于某一個(gè)閾值,則可以直接認(rèn)定為不合格品,起到品質(zhì)監(jiān)控的作用;并通過溢料槽的設(shè)置,增強(qiáng)了熔接線的強(qiáng)度,減小了產(chǎn)品失效的風(fēng)險(xiǎn)。
本申請(qǐng)涉及一種GaN功率器件的狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和介質(zhì),獲取待測(cè)器件的結(jié)溫,根據(jù)結(jié)溫對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試,獲取功率循環(huán)測(cè)試過程中的待測(cè)器件的電氣參數(shù),電氣參數(shù)包括芯片級(jí)失效參數(shù),根據(jù)電氣參數(shù)以及狀態(tài)監(jiān)測(cè)模型得到狀態(tài)監(jiān)測(cè)結(jié)果,當(dāng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)結(jié)果指示待測(cè)器件未發(fā)生失效時(shí),返回根據(jù)結(jié)溫對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試,獲取功率循環(huán)測(cè)試過程中的待測(cè)器件的電氣參數(shù)。通過監(jiān)測(cè)待測(cè)器件在多次功率循環(huán)測(cè)試中的電氣參數(shù),將待測(cè)器件芯片級(jí)失效相關(guān)的參數(shù)納入考量,通過狀態(tài)監(jiān)測(cè)模型對(duì)電氣參數(shù)進(jìn)行分析,從而能夠高效對(duì)待測(cè)器件的工作狀態(tài)作出監(jiān)測(cè),有效了提高GaN功率器件狀態(tài)監(jiān)測(cè)結(jié)果的全面性以及準(zhǔn)確性。
本申請(qǐng)公開了一種智能電表可靠性試驗(yàn)自動(dòng)監(jiān)測(cè)裝置,包括:分別與監(jiān)測(cè)終端相連的視頻監(jiān)控模塊和數(shù)據(jù)采集模塊;視頻監(jiān)控模塊設(shè)置于智能電表試驗(yàn)箱內(nèi),用于實(shí)時(shí)獲取智能電表的視頻數(shù)據(jù),并將視頻數(shù)據(jù)傳輸至監(jiān)測(cè)終端;數(shù)據(jù)采集模塊與智能電表相連,用于采集智能電表試驗(yàn)箱內(nèi)各智能電表的脈沖信號(hào)、電信號(hào)以及載波信號(hào),并將采集到的信號(hào)數(shù)據(jù)發(fā)送至監(jiān)測(cè)終端;監(jiān)測(cè)終端用于分析處理獲取的數(shù)據(jù),并對(duì)其中的故障數(shù)據(jù)進(jìn)行報(bào)警;將故障數(shù)據(jù)按照不同的故障模式進(jìn)行分類記錄,記錄不同的故障模式在對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)應(yīng)力下的失效率。本申請(qǐng)能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)智能電表可靠性試驗(yàn)過程、自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)、對(duì)失效進(jìn)行報(bào)警、自動(dòng)分析處理試驗(yàn)后的數(shù)據(jù)。
本實(shí)用新型公開了一種生物檢材采集干燥保管的裝置,它涉及生物檢材的采集與保管技術(shù)領(lǐng)域;所述蓋體蓋口處的外側(cè)壁上固定安裝有密封膠圈,所述蓋體的內(nèi)腔卡接固定有棉簽固定件,所述棉簽固定件的內(nèi)腔卡接固定有棉簽,所述蓋體與管體保持密封連接,蓋體與管體經(jīng)螺口擰緊壓縮密封膠圈,能夠達(dá)到完美的密封狀態(tài),從而保證蓋內(nèi)的可變色干燥顆粒長(zhǎng)期不失效,保證在使用時(shí),棉簽上采集的生物檢材可以迅速干燥保存。
本實(shí)用新型涉及橋梁檢查車技術(shù)領(lǐng)域,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中橋梁檢查車的行走輪在長(zhǎng)期動(dòng)載荷下零部件失效的風(fēng)險(xiǎn)較高以及橋梁檢查車沒有有效的駐車裝置的問題,提供一種橋梁檢查車的防墜落裝置,包括防墜橫梁,防墜橫梁的兩側(cè)鉸接有掛鉤,兩側(cè)的掛鉤之間形成有容置空間,容置空間用于容納軌道的下翼緣板;防墜橫梁上設(shè)有掛鉤調(diào)節(jié)部件,掛鉤調(diào)節(jié)部件用于帶動(dòng)兩側(cè)的掛鉤進(jìn)行開合;兩側(cè)的掛鉤上均鉸接有防墜墊塊和制動(dòng)墊塊,防墜墊塊能夠與軌道的下翼緣板頂面貼合或分離,制動(dòng)墊塊能夠與軌道的腹板貼合或分離。本實(shí)用新型的防墜落裝置在防墜落狀態(tài)下為車輛提供安全保障,在駐車狀態(tài)下利用制動(dòng)墊塊抱死軌道腹板達(dá)到駐車制動(dòng)的目的。
本發(fā)明提供了一種優(yōu)化繼電保護(hù)裝置檢修項(xiàng)目和周期的方法,包括:獲取繼電保護(hù)裝置的可靠性基礎(chǔ)數(shù)據(jù);依據(jù)所述可靠性基礎(chǔ)數(shù)據(jù)建立繼電保護(hù)裝置的Markov狀態(tài)空間模型;基于所述Markov狀態(tài)空間模型,計(jì)算繼電保護(hù)裝置中模塊的最優(yōu)檢修周期;結(jié)合繼電保護(hù)裝置中檢修項(xiàng)目和模塊的對(duì)應(yīng)關(guān)系,計(jì)算檢修項(xiàng)目的最優(yōu)檢修周期。本發(fā)明可以基于實(shí)際失效數(shù)據(jù)和實(shí)際結(jié)構(gòu)對(duì)繼電保護(hù)裝置的檢修項(xiàng)目和周期進(jìn)行優(yōu)化,使檢修周期的設(shè)定更加合理化,提高了供電可靠性和檢修經(jīng)濟(jì)性。
本實(shí)用新型公開了一種可檢可修的倒虹吸涵洞新型結(jié)構(gòu),包括涵洞和豎井,所述豎井位于所述涵洞兩端,所述涵洞包括內(nèi)涵洞和外涵洞,所述內(nèi)涵洞用于過水,所述外涵洞套設(shè)在所述內(nèi)涵洞外部使所述外涵洞與所述內(nèi)涵洞之間具有檢修通道,所述豎井包括被隔開的檢修豎井和過水豎井,所述檢修豎井下端設(shè)置有連通所述檢修通道的檢修孔,所述內(nèi)涵洞與兩端的所述過水豎井連通,一端的所述過水豎井連通所述進(jìn)水道,另一端的所述過水豎井連通所述出水道。本實(shí)用新型便于倒虹吸涵洞的檢查、維修與養(yǎng)護(hù),避免倒虹吸涵洞密封失效后滲水導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)。
本發(fā)明公開了一種具備開關(guān)電路的CAF測(cè)試板,包括測(cè)試基板,測(cè)試基板上設(shè)有正極測(cè)試端、負(fù)極測(cè)試端、至少兩組測(cè)試孔組、開關(guān)電路以及與測(cè)試孔組數(shù)量相等的定位焊盤組,開關(guān)電路位于相鄰測(cè)試孔組之間,各測(cè)試孔組的正極通過開關(guān)電路并聯(lián)后連接至正極測(cè)試端,各測(cè)試孔組的負(fù)極并聯(lián)后連接至負(fù)極測(cè)試端;每組測(cè)試孔組包括間隔排列的多個(gè)測(cè)試對(duì)孔,每組定位焊盤組包括沿直線間隔排列的多個(gè)失效分析定位焊盤,各失效分析定位焊盤位于測(cè)試孔組一側(cè)并與測(cè)試對(duì)孔一一對(duì)應(yīng)連接。本發(fā)明能提高CAF性能測(cè)試效率及失效分析效率。
本發(fā)明公開了一種基于探測(cè)器測(cè)量值的堆芯中子通量預(yù)測(cè)方法,在不同時(shí)間點(diǎn)從堆內(nèi)探測(cè)系統(tǒng)中讀取并記錄堆芯不同位置的堆內(nèi)探測(cè)器測(cè)量值,擬合過去時(shí)間點(diǎn)和當(dāng)前時(shí)間點(diǎn)的堆內(nèi)探測(cè)器測(cè)量值,外推堆內(nèi)探測(cè)器測(cè)量值,采用堆芯燃料管理程序模擬計(jì)算不同時(shí)間點(diǎn)的中子通量,進(jìn)行本征正交分解,計(jì)算未來(lái)時(shí)間點(diǎn)的堆芯中子通量預(yù)測(cè)值;通過堆內(nèi)探測(cè)器測(cè)量值的預(yù)測(cè),結(jié)合堆芯中子通量在線重構(gòu)方法,避免了更改原有堆芯中子通量在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的核心算法,而且對(duì)每一個(gè)位置的堆內(nèi)探測(cè)器測(cè)量值單獨(dú)進(jìn)行僅包含時(shí)間一個(gè)自變量維度的擬合外推,既保證了預(yù)測(cè)精度,也減少了由于個(gè)別或局部探測(cè)器失效所引發(fā)的預(yù)測(cè)計(jì)算整體失效,實(shí)現(xiàn)了對(duì)堆芯中子通量的準(zhǔn)確預(yù)測(cè)。
本發(fā)明公開了一種監(jiān)測(cè)螺栓松動(dòng)狀況的裝置及監(jiān)測(cè)方法,所述監(jiān)測(cè)螺栓松動(dòng)狀況的裝置包括安裝盤和設(shè)置在安裝盤上的監(jiān)測(cè)電路,所述監(jiān)測(cè)電路包括若干串聯(lián)且電阻值均不同的電阻、若干與所述電阻并聯(lián)的通斷器且單個(gè)通斷器與單個(gè)電阻形成并聯(lián)電路,以及用于測(cè)量監(jiān)測(cè)電路電阻值的測(cè)量端子,所述電阻中任意兩個(gè)或者多個(gè)電阻的阻值和也均不相同。本發(fā)明所述的監(jiān)測(cè)螺栓松動(dòng)狀況的裝置可解決現(xiàn)有的螺栓運(yùn)行工況難以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和失效螺栓排查難度大等技術(shù)難題,減少人工檢修時(shí)間和成本,還可以同時(shí)監(jiān)測(cè)多個(gè)螺栓緊固狀況,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,安裝方便,操作簡(jiǎn)便,具有可觀的應(yīng)用前景。
本發(fā)明提供了一種配電終端檢修時(shí)間預(yù)估方法及裝置,該方法包括:獲取配電終端樣本,配電終端樣本的壽命滿足威布爾分布;獲取預(yù)置的時(shí)間起點(diǎn)和時(shí)間終點(diǎn),進(jìn)行威布爾分布的積分運(yùn)算和歸一化得到配電終端樣本在當(dāng)前次檢修前后的故障率;獲取配電終端樣本在當(dāng)前次檢修前后的終端失效后果量化值,并根據(jù)終端失效后果量化值與故障率對(duì)應(yīng)進(jìn)行計(jì)算得到配電終端樣本在當(dāng)前次檢修前后的設(shè)備風(fēng)險(xiǎn);根據(jù)設(shè)備風(fēng)險(xiǎn)建立最佳檢修策略的目標(biāo)函數(shù),對(duì)目標(biāo)函數(shù)進(jìn)行求解得到最佳檢修時(shí)間。本發(fā)明解決終端定期檢修中的可靠性與經(jīng)濟(jì)性的矛盾狀態(tài)。
本實(shí)用新型公開了一種用于測(cè)量大功率白光LED結(jié)溫的測(cè)量裝置,由光譜儀、集光光纖、恒溫箱、加熱器、溫度探頭、恒溫箱溫度控制器、LED恒流電源、LED支架、熱電偶、電壓表、溫度表、擋板、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)構(gòu)成。恒溫箱內(nèi)放置有待測(cè)LED、LED支架、熱電偶、擋板、加熱器和集光光纖。在不同環(huán)境溫度和注入不同的電流情況下,測(cè)量出LED的藍(lán)光和白光的光譜功率分布,分析藍(lán)白光光譜功率分布比值與結(jié)溫的關(guān)系,從而快速確定大功率白光LED的結(jié)溫。本實(shí)用新型克服了目前所采用的正向電壓法和管腳法測(cè)量需要器件是未封裝或開封狀態(tài)所導(dǎo)致的LED器件或系統(tǒng)整體性受到破壞,將為L(zhǎng)ED的封裝和熱沉設(shè)計(jì)提供設(shè)計(jì)參數(shù)和失效檢驗(yàn),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)大功率LED進(jìn)行更有效的熱管理。
本發(fā)明提供了一種疲勞耐久性評(píng)測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),涉及機(jī)械傳動(dòng)構(gòu)件疲勞測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域,包括獲取被測(cè)對(duì)象的應(yīng)力應(yīng)變電子散斑圖像,根據(jù)應(yīng)力應(yīng)變電子散斑圖像讀取疲勞過程特征信息;從而針對(duì)所述應(yīng)力應(yīng)變電子散斑圖像采用預(yù)先訓(xùn)練好的目標(biāo)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行分析處理;得到被測(cè)構(gòu)件的數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)結(jié)果,根據(jù)數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)結(jié)果對(duì)被測(cè)構(gòu)件的耐久性進(jìn)行預(yù)估;本發(fā)明建立有效的疲勞失效預(yù)測(cè)方法、提高非接觸式檢測(cè)的精確度和實(shí)時(shí)性、擴(kuò)展疲勞耐久性評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)和專家系統(tǒng),能夠適用于相對(duì)運(yùn)動(dòng)、內(nèi)封裝特點(diǎn)的傳動(dòng)構(gòu)件場(chǎng)合,全面反映載荷歷程、強(qiáng)度退化、結(jié)構(gòu)特征等要素,較好地表征并描述工程實(shí)際中存在的不確定性因素。
本發(fā)明公開了一種絕緣測(cè)試裝置、絕緣測(cè)試方法。絕緣測(cè)試裝置用于測(cè)試電池包,電池包包括殼體和設(shè)置在殼體內(nèi)的電芯,絕緣測(cè)試裝置包括信號(hào)發(fā)生器和絕緣采樣電路。信號(hào)發(fā)生器用于產(chǎn)生阻尼振蕩波以作為檢測(cè)波,檢測(cè)波用于輸入到電芯與殼體之間。絕緣采樣電路用于采集檢測(cè)波經(jīng)過電池包時(shí)生成的檢測(cè)電信號(hào),并根據(jù)檢測(cè)電信號(hào)確定電池包是否發(fā)生了局部放電。上述絕緣測(cè)試裝置、絕緣測(cè)試方法中,可以向電池包輸入阻尼振蕩波作為檢測(cè)波,根據(jù)檢測(cè)波經(jīng)過電池包時(shí)生成的檢測(cè)電信號(hào)可以確定電池包是否發(fā)生了局部放電,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)電池包的絕緣性能測(cè)試,其中,在電池包發(fā)生了局部放電時(shí),可以認(rèn)為電池包存在絕緣失效點(diǎn)或絕緣薄弱點(diǎn)。
本發(fā)明公開了一種電致變色器件的性能測(cè)試方法,涉及電致變色器件的性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括采用SPM技術(shù)對(duì)與外接電源相連的電致變色器件的性能進(jìn)行分析測(cè)試;得到測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。該方法采用了SPM技術(shù),基于原子力顯微鏡技術(shù),耦合了電、磁、電化學(xué)和機(jī)械性能檢測(cè)的多方位材料性能檢測(cè)技術(shù)。采用多功能掃描探針顯微鏡技術(shù),綜合檢測(cè)電致變色器件的多種界面性能。可實(shí)現(xiàn)對(duì)電致變色器件多種性能在微納米尺度上的直接觀察和動(dòng)態(tài)檢測(cè),為探索電致變色器件的失效機(jī)制和改善器件性能提供一種有力的方法和工具,加速電致變色器件的大規(guī)模應(yīng)用。
本實(shí)用新型涉及狀態(tài)監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路,包括采樣模塊,用于采集所述SiC MOSFET柵極的電信號(hào);分析模塊,與所述采樣模塊連接,用于將所述電信號(hào)與預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果判斷所述SiC MOSFET是否老化失效。所述SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路通過采樣電路對(duì)所述SiC MOSFET的柵極電信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)采集處理,并將采集到的電信號(hào)與預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較,根據(jù)比較結(jié)果判斷所述SiC MOSFET是否老化失效。將本實(shí)用新型提供的所述SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路應(yīng)用在包含有SiC MOSFET器件的電路或系統(tǒng)中時(shí),可以在不中斷系統(tǒng)工作狀態(tài)的情況下實(shí)現(xiàn)對(duì)所述SiC MOSFET器件狀態(tài)的監(jiān)測(cè)和老化失效預(yù)警,監(jiān)測(cè)過程對(duì)系統(tǒng)正常工作的干擾小,且預(yù)測(cè)精度高。
本發(fā)明提供一種電纜槽盒耐火性能測(cè)試方法及裝置,其中的方法包括以下步驟:S1、在待測(cè)電纜槽盒內(nèi)鋪設(shè)電纜,電纜呈U型布置,布置測(cè)溫元件;S2、將待測(cè)電纜槽盒安裝在耐火測(cè)試爐室中;S3、電阻測(cè)量?jī)x對(duì)電纜的電纜絕緣電阻值進(jìn)行測(cè)量;溫度測(cè)量?jī)x對(duì)電纜槽盒及電纜進(jìn)行溫度檢測(cè);S4、運(yùn)行耐火測(cè)試爐室,開始測(cè)試;S5、記錄待測(cè)電纜槽盒溫度、電纜溫度及電纜絕緣電阻值,判斷電纜失效,測(cè)試結(jié)束;S6、結(jié)合待測(cè)電纜槽盒溫度、電纜溫度及電纜失效過程中的電纜絕緣電阻值的常對(duì)數(shù)值,分析待測(cè)電纜槽盒的耐火性能。本發(fā)明的測(cè)試方法安全可靠,操作簡(jiǎn)單,且成本低,有利于準(zhǔn)確分析電纜槽盒的耐火性能。
本申請(qǐng)公開了一種停電主動(dòng)上報(bào)功能可靠性測(cè)試裝置、系統(tǒng)和方法,控制器根據(jù)預(yù)設(shè)的停電主動(dòng)上報(bào)測(cè)試方案控制測(cè)試臺(tái)體為被檢智能電表的供電和掉電頻率,根據(jù)停電主動(dòng)上報(bào)測(cè)試方案模擬采集終端進(jìn)行預(yù)置周期的數(shù)據(jù)請(qǐng)求,再通過記錄可靠性測(cè)試過程中各動(dòng)作的時(shí)間,分析被檢智能電表是否正確主動(dòng)上報(bào),通過記錄被檢智能電表的動(dòng)作時(shí)間間隔和失效間隔時(shí)間,可以幫助改進(jìn)被檢智能電表的主動(dòng)上報(bào)功能,不受實(shí)驗(yàn)室環(huán)境難以模擬通訊失效的限制,也不需要人為手動(dòng)發(fā)起請(qǐng)求,解決了現(xiàn)有的停電上報(bào)功能的可靠性測(cè)試方式存在模擬通訊失效模式困難、費(fèi)時(shí)費(fèi)力和無(wú)法對(duì)引起主動(dòng)上報(bào)失效的因素進(jìn)行分析的技術(shù)問題。
本發(fā)明提供一種測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法,測(cè)試結(jié)構(gòu)包括:多條射頻鏈路,各所述射頻鏈路均包括多個(gè)焊點(diǎn)以及位于相鄰焊點(diǎn)之間與焊點(diǎn)相連接的傳輸線;不同所述射頻鏈路中至少一處對(duì)應(yīng)的所述傳輸線的長(zhǎng)度不同。對(duì)測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各射頻鏈路進(jìn)行阻抗測(cè)試,以得到各射頻鏈路的阻抗?時(shí)間曲線,根據(jù)阻抗?時(shí)間曲線和各射頻鏈路的結(jié)構(gòu)可以識(shí)別出長(zhǎng)度不同的傳輸線,從而識(shí)別出各射頻鏈路中的焊點(diǎn)和傳輸線,如果此時(shí)有射頻鏈路中存在失效點(diǎn),由于焊點(diǎn)和傳輸線已經(jīng)識(shí)別出來(lái),就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的精確定位,準(zhǔn)確分析器件失效位置,滿足新型射頻器件研制以及應(yīng)用可靠性研究需求。
本發(fā)明涉及狀態(tài)監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路及監(jiān)測(cè)方法,包括采樣模塊,用于采集所述SiC MOSFET柵極的電信號(hào);分析模塊,與所述采樣模塊連接,用于將所述電信號(hào)與預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果判斷所述SiC MOSFET是否老化失效。所述SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路通過采樣電路對(duì)所述SiC MOSFET的柵極電信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)采集處理,并將采集到的電信號(hào)與預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較,根據(jù)比較結(jié)果判斷所述SiC MOSFET是否老化失效。將本發(fā)明提供的所述SiC MOSFET監(jiān)測(cè)電路應(yīng)用在包含有SiC MOSFET器件的電路或系統(tǒng)中時(shí),可以在不中斷系統(tǒng)工作狀態(tài)的情況下實(shí)現(xiàn)對(duì)所述SiC MOSFET器件狀態(tài)的監(jiān)測(cè)和老化失效預(yù)警,監(jiān)測(cè)過程對(duì)系統(tǒng)正常工作的干擾小,且預(yù)測(cè)精度高。
本發(fā)明涉及一種基于皮爾遜秩次變量相關(guān)系數(shù)的信號(hào)檢測(cè)電路,包括一個(gè)比較器陣列、一個(gè)減法器陣列、一個(gè)平方器陣列,一個(gè)乘法器陣列,兩個(gè)加法器樹,一個(gè)開方器、一個(gè)除法器以及一個(gè)寄存器;比較器、減法器和平方器陣列分別為一個(gè)n×n的矩陣(n為信號(hào)長(zhǎng)度),矩陣上的每一個(gè)元素分別作比較運(yùn)算和減法運(yùn)算;乘法器陣列為n2個(gè)2輸入的乘法器;加法器樹為一個(gè)n2個(gè)輸入的加法器;除法器完成2輸入除法運(yùn)算;寄存器寄存相關(guān)運(yùn)算的結(jié)果。當(dāng)環(huán)境噪聲中含有脈沖噪聲成分時(shí),匹配濾波器和積矩相關(guān)系數(shù)基本失效,而皮爾遜秩次變量相關(guān)系數(shù)在含有脈沖成分的噪聲環(huán)境中表現(xiàn)出其極佳的健壯性,包括十分接近真實(shí)值的數(shù)學(xué)期望以及較小的標(biāo)準(zhǔn)差。
本發(fā)明提供一種中紅外固體激光器的壽命檢測(cè)方法,該方法包括以下步驟:根據(jù)中紅外固體激光器的整機(jī)結(jié)構(gòu)確定中紅外固體激光器的關(guān)鍵部件和可靠性結(jié)構(gòu)模型,并根據(jù)可靠性分配理論對(duì)所述關(guān)鍵部件進(jìn)行指標(biāo)分配;根據(jù)各關(guān)鍵部件的失效機(jī)理確定各關(guān)鍵部件的敏感應(yīng)力以及加速試驗(yàn)剖面;根據(jù)所述敏感應(yīng)力以及加速試驗(yàn)剖面進(jìn)行加速壽命試驗(yàn),并根據(jù)加速壽命試驗(yàn)后的單組試驗(yàn)數(shù)據(jù)確定符合單組試驗(yàn)數(shù)據(jù)分布的數(shù)學(xué)模型;根據(jù)所述數(shù)學(xué)模型確定各關(guān)鍵部件的壽命分布函數(shù),提取各關(guān)鍵部件的可靠度模型;根據(jù)各關(guān)鍵部件的可靠度模型以及所述可靠性結(jié)構(gòu)模型確定整機(jī)可靠度模型,并根據(jù)所述整機(jī)可靠度模型計(jì)算在設(shè)定可靠度條件下中紅外固體激光器的MTBF指標(biāo)。
本實(shí)用新型公開了一種ELISA檢測(cè)前用于分離蛋白質(zhì)的連管,包括多個(gè)依次相連的試管,試管之間通過連接板相互連接形成一體,在相鄰兩個(gè)試管之間的連接板上設(shè)有折斷線,以將相鄰的兩個(gè)試管分離,折斷線由間斷的貫穿孔構(gòu)成,在每個(gè)試管的外壁上均設(shè)有條碼掃描區(qū),在試管中設(shè)有包被有抗體的Dynabeads磁珠,在試管上設(shè)有可撕的密封膜。與現(xiàn)有技術(shù)相比,在連管的試管中放置包被有抗體Dynabeads磁珠,并通過可撕的密封膜進(jìn)行密封,在相鄰兩個(gè)試管之間設(shè)置折斷線,從而可根據(jù)使用需要以及使用個(gè)數(shù)減少或拿取相應(yīng)的試管,通過折斷即可分離,不僅便于使用,而且也避免Dynabeads磁珠被污染而失效的可能。
本發(fā)明公開了一種高壓輸電線路的行波故障檢測(cè)方法、設(shè)備及介質(zhì),通過利用工頻突變量啟動(dòng)元件的啟動(dòng)靈敏、不受故障類型限制、耐過渡電阻能力強(qiáng)、與故障初相角無(wú)關(guān)以及在任何情況下都能夠穩(wěn)定的啟動(dòng)的優(yōu)點(diǎn),將行波啟動(dòng)元件與工頻突變量啟動(dòng)元件進(jìn)行配合使用,能夠在行波啟動(dòng)元件失效的情況下,利用工頻突變量啟動(dòng)元件輸入的外部中斷信號(hào)重新啟動(dòng)行波啟動(dòng)元件,使得行波啟動(dòng)元件實(shí)現(xiàn)在任何條件下的可靠啟動(dòng),從而提高輸電線路行波保護(hù)的靈敏性和可靠性。
本發(fā)明公開了一種電池包及其泄漏檢測(cè)方法和車輛與存儲(chǔ)介質(zhì),其中,電池包包括隔熱密封腔體、設(shè)于隔熱密封腔體內(nèi)的電池模組和設(shè)于隔熱密封腔體上的防爆閥,方法包括以下步驟:對(duì)電池模組充電直至隔熱密封腔體內(nèi)的壓力達(dá)到預(yù)設(shè)壓力,其中,預(yù)設(shè)壓力小于或等于防爆閥的開啟壓力;靜置預(yù)設(shè)時(shí)間,并獲取靜置開始時(shí)刻和靜置結(jié)束時(shí)刻隔熱密封腔體內(nèi)的壓力;根據(jù)靜置開始時(shí)刻和靜置結(jié)束時(shí)刻隔熱密封腔體內(nèi)的壓力獲取電池包的泄漏程度。由此,通過靜置開始時(shí)刻和靜置結(jié)束時(shí)刻隔熱密封腔體內(nèi)的壓力,計(jì)算電池包的泄漏程度,從而,及時(shí)發(fā)現(xiàn)電池包密封失效,排除電池包故障,避免造成安全事故,確保用戶安全。
本實(shí)用新型公開了一種帶CAN總線的雙玻璃電極酸堿度檢測(cè)報(bào)警裝置,包括機(jī)殼和內(nèi)置電路板組成,機(jī)殼正面安裝有面板,面板上分別設(shè)置有PH顯示窗、溫度顯示窗以及操作按鈕和指示燈;電路板包括主機(jī)板、顯示板組成。該裝置功能多、測(cè)量精度高、可靠性高、造價(jià)低、智能化程度高、節(jié)能高效、有電極失效報(bào)警、可組網(wǎng),具有防死機(jī)功能,操作方便。
本實(shí)用新型公開了一種鋼絞線索滑絲的觀測(cè)檢查裝置,包括滑動(dòng)指針、彩色觀測(cè)環(huán)和刻度尺;所述彩色觀測(cè)環(huán)在預(yù)應(yīng)力施加后采用鋼棍安裝于預(yù)應(yīng)力鋼絞線固定位置上;所述刻度尺的一端安裝于錨墊板上;所述滑動(dòng)指針滑動(dòng)安裝于所述刻度尺上;將設(shè)置在所述刻度尺上的所述滑動(dòng)指針移動(dòng)至與所述彩色觀測(cè)環(huán)同一斷面位置處并讀取所述刻度尺上讀數(shù),通過每次讀數(shù)對(duì)比確定所述彩色觀測(cè)環(huán)的位置變化情況,判斷鋼絞線索是否出現(xiàn)滑絲現(xiàn)象;本實(shí)用新型可以較好地解決了鋼絞線索滑絲難以觀測(cè)的問題,在鋼絞線索出現(xiàn)滑絲的初期及時(shí)發(fā)現(xiàn)并采取相應(yīng)措施,防止鋼絞線索因滑絲失效,確保鋼絞線索的工作性能和結(jié)構(gòu)安全;從而防止鋼絞線索滑絲帶來(lái)的危害。
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