基于集電極漏電流的IGBT健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法 805     

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本發(fā)明提供了一種IGBT集電極漏電流健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法，包括以下步驟首先經(jīng)檢測(cè)合格的IGBT模塊，安裝調(diào)試完畢，投入使用之前，在一定條件下測(cè)試其集電極漏電流并記錄為初始值；定期測(cè)試IGBT器件的集電極漏電流并記錄為測(cè)試值；將測(cè)試值帶入集電極漏電流健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法仿真模型中，即可計(jì)算出IGBT器件的疲勞老化進(jìn)程與剩余壽命，達(dá)到監(jiān)測(cè)IGBT健康狀態(tài)的目的；當(dāng)集電極漏電流偏離程度達(dá)到失效標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，判定為器件失效，此時(shí)需對(duì)IGBT器件進(jìn)行更換，并重復(fù)上述步驟。本發(fā)明通過(guò)初始狀態(tài)標(biāo)定與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，即可對(duì)處于不同壽命階段的IGBT器件健康狀態(tài)與可靠性進(jìn)行有效評(píng)估。

核電廠埋地管風(fēng)險(xiǎn)監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 1032     

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本發(fā)明屬于核電維修技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種核電廠埋地管風(fēng)險(xiǎn)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。本公開(kāi)實(shí)施例從埋地管道的材料、管道內(nèi)液體的水質(zhì)、管道周?chē)寥赖耐临|(zhì)以及管道陰極保護(hù)狀態(tài)等多個(gè)維度確定管道失效可能性，充分考慮埋地管道失效的影響因素，使得確定的待測(cè)區(qū)域的失效可能性能夠更有效的反應(yīng)埋地管道的實(shí)際狀態(tài)，并且，本公開(kāi)實(shí)施例對(duì)埋地管道進(jìn)行分區(qū)檢測(cè)，有利于更加準(zhǔn)確的定位埋地管道的失效部位，便于埋地管管理人員及時(shí)掌握埋地管道的狀態(tài)并進(jìn)行維修。

測(cè)試策略自動(dòng)化配置的HTTP接口動(dòng)態(tài)化參數(shù)測(cè)試方法 1027     

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本發(fā)明涉及一種測(cè)試策略自動(dòng)化配置的HTTP接口動(dòng)態(tài)化參數(shù)測(cè)試方法，該方法主要步驟包括：第一步，設(shè)置測(cè)試策略配置模塊，構(gòu)建接口與代碼文件的關(guān)聯(lián)關(guān)系表；第二步，執(zhí)行測(cè)試策略配置模塊，定位本輪需要執(zhí)行測(cè)試的接口；第三步，使用隨機(jī)選擇參數(shù)的方法，循環(huán)測(cè)試待測(cè)接口列表中的每一個(gè)接口。執(zhí)行過(guò)程中，使用多線程并發(fā)機(jī)制提升測(cè)試執(zhí)行效率；并通過(guò)反復(fù)、不間斷、長(zhǎng)時(shí)間的隨機(jī)選參測(cè)試，提高臟數(shù)據(jù)容錯(cuò)性測(cè)試的覆蓋率；第四步，獲取測(cè)試結(jié)果。以此解決參數(shù)固化產(chǎn)生的測(cè)試覆蓋面不足、參數(shù)易失效、臟數(shù)據(jù)覆蓋率低，以及代碼變更時(shí)由于影響范圍評(píng)估不準(zhǔn)確引起的測(cè)試遺漏或偏差等問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)提高測(cè)試數(shù)據(jù)覆蓋率、測(cè)試效率以及準(zhǔn)確度的目的。

電遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)及電遷移測(cè)試方法 1149     

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本發(fā)明提供了一種電遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)及電遷移測(cè)試方法，所述電遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：待測(cè)金屬互連結(jié)構(gòu)；第一感測(cè)電極，與所述待測(cè)金屬互連結(jié)構(gòu)的一端電性連接；第二感測(cè)電極，與所述待測(cè)金屬互連結(jié)構(gòu)的另一端電性連接；至少一個(gè)第三感測(cè)電極，至少與所述待測(cè)金屬互連結(jié)構(gòu)的兩端之間的位置電性連接；第一加載電極，與所述第一感測(cè)電極電性連接；以及，第二加載電極，與所述第二感測(cè)電極電性連接。本發(fā)明的技術(shù)方案能夠避免影響芯片區(qū)的布線設(shè)計(jì)，且能夠進(jìn)行晶圓級(jí)的快速測(cè)試以及能夠快速判斷出電遷移失效的具體位置。

復(fù)合式飛機(jī)結(jié)冰探測(cè)器及結(jié)冰厚度測(cè)量方法 683     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種復(fù)合式飛機(jī)結(jié)冰探測(cè)器及結(jié)冰探測(cè)方法，屬于航空探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，包括雙電極復(fù)阻抗傳感機(jī)構(gòu)、多光譜光纖傳感機(jī)構(gòu)和復(fù)合式探頭外框；雙電極復(fù)阻抗傳感機(jī)構(gòu)與多光譜光纖傳感機(jī)構(gòu)的探測(cè)端面構(gòu)成敏感表面并位于傾斜端面；雙電極復(fù)阻抗傳感機(jī)構(gòu)采集待測(cè)環(huán)境中的復(fù)阻抗頻率特性數(shù)據(jù)；多光譜光纖傳感機(jī)構(gòu)采集待測(cè)環(huán)境中的光譜響應(yīng)數(shù)據(jù)，并結(jié)合復(fù)阻抗頻率特性數(shù)據(jù)以識(shí)別敏感表面的冰層及水膜，同時(shí)對(duì)冰水混合相狀態(tài)的水膜凍結(jié)、冰層融化的動(dòng)態(tài)過(guò)程進(jìn)行監(jiān)測(cè)，從而實(shí)現(xiàn)結(jié)冰探測(cè)。本發(fā)明有效避免了單一原理類(lèi)型傳感器在復(fù)雜結(jié)冰環(huán)境中失效的問(wèn)題，大幅提升了飛機(jī)結(jié)冰探測(cè)器的可靠性及精確度，對(duì)保障飛機(jī)防除冰系統(tǒng)的高效可靠運(yùn)行具有現(xiàn)實(shí)意義。

半導(dǎo)體存儲(chǔ)器老化測(cè)試設(shè)備中老化測(cè)試板卡散熱供氣裝置 795     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器老化測(cè)試設(shè)備中老化測(cè)試板卡散熱供氣裝置，包括連通至隔熱腔體的老化測(cè)試板卡側(cè)接頭組件以及氣源側(cè)接頭組件，氣源側(cè)接頭組件包括同軸設(shè)置的堵頭、壓縮彈簧、氣源密封座及氣管接口，堵頭及壓縮彈簧設(shè)置在氣源密封座中，壓縮彈簧受壓設(shè)置在堵頭與氣管接口之間，氣源密封座與氣管接口固定連接，老化測(cè)試板卡側(cè)接頭組件在連接時(shí)對(duì)堵頭施加與壓縮彈簧相反的力，老化測(cè)試板卡側(cè)接頭組件與氣源側(cè)接頭組件的接觸端面之間設(shè)置有第一密封圈。本發(fā)明采用老化測(cè)試板卡側(cè)接頭組件與氣源側(cè)接頭組件進(jìn)行插入配合并用密封圈進(jìn)行密封，確保隔熱效果；本發(fā)明采用壓縮彈簧結(jié)構(gòu)，機(jī)構(gòu)失效率較低，提升整體的結(jié)構(gòu)性能及工作壽命。

針對(duì)激光焊接壁板結(jié)構(gòu)的壓縮屈曲測(cè)試方法及設(shè)備 798     

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本發(fā)明提供了一種針對(duì)激光焊接壁板結(jié)構(gòu)的壓縮屈曲測(cè)試方法及設(shè)備，包括：構(gòu)建激光焊接壁板結(jié)構(gòu)的第一殼?實(shí)體模型；在第一殼?實(shí)體模型上劃分單元網(wǎng)格，將材料的彈塑性參數(shù)施加到相應(yīng)的單元網(wǎng)格中，得到第二殼?實(shí)體模型；對(duì)第二殼?實(shí)體模型設(shè)定位移邊界條件和載荷施加方式，求解特征值屈曲方程，計(jì)算特征值和臨界屈曲載荷，得到壓縮屈曲模態(tài)；復(fù)制第二殼?實(shí)體模型，將壓縮屈曲模態(tài)、缺陷尺寸和殘余應(yīng)力輸入第二殼?實(shí)體模型，設(shè)置RIKS分析步驟和歷史輸出變量，求解非線性屈曲方程，得到壁板結(jié)構(gòu)壓縮屈曲過(guò)程中的反作用力、應(yīng)變和位移數(shù)據(jù)信息。本發(fā)明可以對(duì)激光焊接壁板結(jié)構(gòu)壓縮失效載荷、應(yīng)變和位移作定量研究。

應(yīng)力遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)及應(yīng)力遷移測(cè)試方法 987     

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本發(fā)明提供了一種應(yīng)力遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)及應(yīng)力遷移測(cè)試方法，所述應(yīng)力遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)包括至少一個(gè)測(cè)試結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：下層通孔連接層；上層通孔連接層，位于所述下層通孔連接層的上方；導(dǎo)電插塞，所述導(dǎo)電插塞的底部和頂部分別與所述下層通孔連接層和所述上層通孔連接層連接，所述下層通孔連接層的線寬大于所述上層通孔連接層的線寬；下層電壓測(cè)試焊盤(pán)和下層電流測(cè)試焊盤(pán)，分別與所述下層通孔連接層的兩端連接；上層電壓測(cè)試焊盤(pán)和上層電流測(cè)試焊盤(pán)，分別與所述上層通孔連接層的兩端連接。本發(fā)明的技術(shù)方案能夠同時(shí)測(cè)試出導(dǎo)電插塞底部的下層通孔連接層中以及導(dǎo)電插塞中的應(yīng)力遷移失效，進(jìn)而使得對(duì)可靠性的評(píng)估更加完整。

老化測(cè)試柜 1106     

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本申請(qǐng)涉及一種老化測(cè)試柜，其包括柜體、第二加熱器、制冷系統(tǒng)和驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，柜體內(nèi)具有用于容置老化測(cè)試板的第一溫區(qū)，第一溫區(qū)內(nèi)形成有風(fēng)道，第二加熱器設(shè)于風(fēng)道內(nèi)；制冷系統(tǒng)具有一蒸發(fā)器，蒸發(fā)器設(shè)于風(fēng)道內(nèi)；驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接有葉輪，葉輪伸入風(fēng)道內(nèi)，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)用于驅(qū)動(dòng)葉輪工作，以使空氣沿風(fēng)道流動(dòng)，并流經(jīng)老化測(cè)試板。本申請(qǐng)可以避免采用液氮制冷造成噴嘴凍住、電磁閥結(jié)冰失效等問(wèn)題發(fā)生。

測(cè)試結(jié)構(gòu) 862     

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本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種測(cè)試結(jié)構(gòu)，可以包括第一金屬線、第二金屬線，以及第一金屬線和第二金屬線之間的介質(zhì)層，第一金屬線用于連接第一電壓，第二金屬線用于連接第二電壓，其中，第一金屬線通過(guò)連接入一個(gè)電編程熔絲來(lái)連接第一電壓，和/或，第二金屬線通過(guò)連接入一個(gè)電編程熔絲來(lái)連接第二電壓。第一電編程熔絲和第二電編程熔絲在正常工作時(shí)電阻較小，但是在介質(zhì)層擊穿之后整個(gè)電路回路中產(chǎn)生較大的電流，此時(shí)第一金屬接入的電編程熔絲和/或第二金屬接入的電編程熔絲的電阻驟然變大，此時(shí)的電編程熔絲由于大電阻起到分壓/降電流作用，抑制了電介質(zhì)擊穿處的電流而減弱擊穿損傷，利于后期對(duì)擊穿位置的物理失效分析。

疲勞測(cè)試裂紋監(jiān)測(cè)方法及裝置 1067     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種疲勞測(cè)試裂紋監(jiān)測(cè)方法及裝置，包括建立裂紋評(píng)估信息庫(kù)，計(jì)算出裂紋的長(zhǎng)度、數(shù)量、位置和形態(tài)之后，根據(jù)裂紋評(píng)估信息庫(kù)中的信息，綜合評(píng)估裂紋的危險(xiǎn)等級(jí)。本發(fā)明的疲勞測(cè)試裂紋監(jiān)測(cè)方法及裝置利用視覺(jué)處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)裂紋監(jiān)測(cè)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)疲勞損傷臨界點(diǎn)的精準(zhǔn)判斷，更加完整保留試件失效信息和數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性；本發(fā)明還建立了裂紋評(píng)估信息庫(kù)，計(jì)算出裂紋的長(zhǎng)度、數(shù)量、位置和形態(tài)之后，根據(jù)裂紋評(píng)估信息庫(kù)中的信息，綜合評(píng)估裂紋的危險(xiǎn)等級(jí)，綜合評(píng)估裂紋對(duì)構(gòu)件的實(shí)際危害性，滿(mǎn)足了多種構(gòu)件測(cè)試情況、應(yīng)用場(chǎng)景下實(shí)際工程的需要。

精確選擇測(cè)距周期的脈沖式激光雷達(dá)跨周期測(cè)距方法 723     

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本發(fā)明涉及精確選擇測(cè)距周期的脈沖式激光雷達(dá)跨周期測(cè)距方法，包括：調(diào)制激光脈沖發(fā)射時(shí)間，利用激光雷達(dá)發(fā)射信號(hào)，得到一組對(duì)應(yīng)不同測(cè)距周期的測(cè)距值序列的回波信號(hào)；構(gòu)建差分序列，得到測(cè)距差值序列；計(jì)算測(cè)距差值序列的均值、標(biāo)準(zhǔn)差，剔除與均值偏差大的異常值；計(jì)算剔除異常值的測(cè)距差值序列的噪聲能量，選出噪聲能量最小的信號(hào)周期作為測(cè)距周期，計(jì)算距離值；計(jì)算選出的測(cè)距周期的置信度，與閾值比較，判斷選出的測(cè)距周期是否可靠。本發(fā)明針對(duì)激光雷達(dá)掃描測(cè)距時(shí)地形突變等導(dǎo)致脈沖時(shí)間調(diào)制功能失效的問(wèn)題，采用去噪算法提高了跨周期測(cè)距中測(cè)距周期選擇的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

電遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)、系統(tǒng)、存儲(chǔ)器、制造方法及測(cè)試方法 769     

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本申請(qǐng)?zhí)峁╇娺w移測(cè)試結(jié)構(gòu)、系統(tǒng)、存儲(chǔ)器、制造方法及測(cè)試方法，測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：待測(cè)件、第一測(cè)試部、第二測(cè)試部和第三測(cè)試部；其中，待測(cè)件包括第一端和第二端，第一端與第一測(cè)試部電連接，第二端與第二測(cè)試部電連接；第三測(cè)試部與待測(cè)件電連接，且第三測(cè)試部與第一端之間的距離不等于第三測(cè)試部與第二端之間的距離；其中，第一端與第三測(cè)試部之間的待測(cè)件的電阻值能夠通過(guò)第一測(cè)試部和第三測(cè)試部獲得，第二端與第三測(cè)試部之間的待測(cè)件的電阻值能夠通過(guò)第二測(cè)試部和第三測(cè)試部獲得。通過(guò)電遷移測(cè)試結(jié)構(gòu)的第一測(cè)試部和第三測(cè)試部，以及第二測(cè)試部和第三測(cè)試部獲得的電阻值，計(jì)算得到待測(cè)件的實(shí)際橫截面積，并計(jì)算得到待測(cè)件的實(shí)際失效時(shí)間。

精確定位電遷移測(cè)試中空洞位置的方法 707     

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本發(fā)明提供一種精確定位微電子器件電遷移測(cè)試中空洞位置的方法，將聚焦離子束機(jī)臺(tái)切割以及納米探針接地的作用應(yīng)用到微電子器件電遷移測(cè)試中空洞位置的無(wú)損定位中，大大提高電遷移空洞定位的精確度，進(jìn)而提高了電遷移失效分析的成功率及效率。

帶切平面超高周拉伸疲勞試件及其設(shè)計(jì)方法、測(cè)試方法 1125     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種帶切平面超高周拉伸疲勞試件及其設(shè)計(jì)方法、以及對(duì)試件進(jìn)行疲勞測(cè)試的方法，該設(shè)計(jì)方法包括：設(shè)計(jì)呈中心對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu)且固有頻率逼近設(shè)計(jì)頻率的狗骨型試件，狗骨型試件自中間向兩側(cè)依次包括圓柱形的試驗(yàn)區(qū)段、變截面段和圓柱形的諧振區(qū)段，試驗(yàn)區(qū)段的截面半徑小于諧振區(qū)段的截面半徑；在試驗(yàn)區(qū)段的兩側(cè)切出相對(duì)的U型槽，U型槽的底面為與軸向平行的觀測(cè)平面、側(cè)面為呈θ角的傾斜側(cè)面；利用有限元軟件分析獲取帶切平面試件的軸向振型固有頻率并反向?qū)χC振長(zhǎng)度進(jìn)行修正以使其固有頻率逼近設(shè)計(jì)頻率。通過(guò)上述設(shè)計(jì)方法所得到的帶切平面的試件，在其固有頻率滿(mǎn)足要求的前提下獲得平整的觀測(cè)面，以便于觀測(cè)材料的失效機(jī)制。

封裝模塊翹曲變形及缺陷的在線監(jiān)測(cè)裝置 789     

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本實(shí)用新型屬于封裝模塊監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的在線監(jiān)測(cè)裝置，包括投影云紋模塊、紅外成像模塊、監(jiān)測(cè)分析模塊。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)封裝模塊的翹曲變形及缺陷進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)的問(wèn)題，能夠?qū)?shí)際工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)。

測(cè)試樣品的制備方法及測(cè)試樣品 681     

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本公開(kāi)實(shí)施例公開(kāi)了一種測(cè)試樣品的制備方法。所述方法包括：提供包括失效區(qū)域的待處理結(jié)構(gòu)；其中，所述待處理結(jié)構(gòu)包括：多級(jí)臺(tái)階，覆蓋所述臺(tái)階的介質(zhì)層、位于所述臺(tái)階表面上方且設(shè)置于所述介質(zhì)層中的接觸插塞、以及貫穿所述臺(tái)階的虛擬溝道柱；沿相交于所述多級(jí)臺(tái)階所在斜面的預(yù)設(shè)方向，朝向所述臺(tái)階減薄所述待處理結(jié)構(gòu)，以形成預(yù)處理樣品；其中，所述預(yù)處理樣品包括所述失效區(qū)域；沿所述預(yù)設(shè)方向，所述預(yù)處理樣品表面殘留的所述接觸插塞的厚度大于或等于第一預(yù)設(shè)厚度；去除所述預(yù)處理樣品表面殘留的所述介質(zhì)層，以顯露所述虛擬溝道柱，形成所述測(cè)試樣品。

基于多焦投影系統(tǒng)的大景深二值離焦三維測(cè)量方法 1096     

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本發(fā)明公開(kāi)了基于多焦投影系統(tǒng)的大景深二值離焦三維測(cè)量方法，包括以下步驟：構(gòu)建多焦條紋投影系統(tǒng)，該系統(tǒng)基于光學(xué)投影系統(tǒng)，通過(guò)引入柱透鏡實(shí)現(xiàn)不同軸向二值條紋聚焦面的分離；建立多焦條紋投影系統(tǒng)的各向異性濾波模型；基于各向異性濾波模型，進(jìn)行二值條紋投影方法的優(yōu)化，根據(jù)優(yōu)化后的條紋投影算法，生成并投影多幅相移二值條紋圖案；基于二值條紋圖像序列I_n分析計(jì)算其相位信息，并通過(guò)相位展開(kāi)得到連續(xù)的絕對(duì)相位；通過(guò)系統(tǒng)標(biāo)定確定多焦條紋投影系統(tǒng)的系統(tǒng)參數(shù)，基于系統(tǒng)參數(shù)，恢復(fù)出大景深物體的三維形貌。本發(fā)明能夠有效地避免傳統(tǒng)二值離焦測(cè)量方法的聚焦區(qū)失效問(wèn)題，從而大幅提高了其測(cè)量景深性能。

封裝模塊翹曲變形及缺陷立體在線監(jiān)測(cè)裝置 910     

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本實(shí)用新型屬于封裝模塊監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷立體在線監(jiān)測(cè)裝置，包括投影云紋模塊、超聲波模塊、監(jiān)測(cè)分析模塊。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)封裝模塊的翹曲變形及缺陷進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)的問(wèn)題，能夠?qū)﹄娮悠骷姆庋b模塊的失效情況進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)。

多剪切角度層間粘結(jié)性能測(cè)試裝置 880     

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本實(shí)用新型屬于道路工程領(lǐng)域，并公開(kāi)了一種多剪切角度層間粘結(jié)性能測(cè)試裝置，包括瀝青混合料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)和多剪切角度測(cè)試夾具，所述瀝青混合料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)包括試驗(yàn)機(jī)主體及共同設(shè)置在所述試驗(yàn)機(jī)主體上的位移傳感器、環(huán)境箱、移動(dòng)橫梁、壓力傳感器和數(shù)據(jù)采集儀；所述多剪切角度測(cè)試夾具位于所述環(huán)境箱內(nèi)，其包括上下設(shè)置的兩個(gè)夾具；其中一個(gè)夾具的所述支承座固定安裝在所述壓力傳感器的下端，另一個(gè)夾具的所述支承座固定安裝在所述環(huán)境箱的內(nèi)底面。本實(shí)用新型能快速測(cè)定制備試件和路面現(xiàn)場(chǎng)取芯試件的層間粘結(jié)性能，從而為路面結(jié)構(gòu)層間粘結(jié)性能的判斷和失效預(yù)測(cè)提供分析和評(píng)價(jià)依據(jù)。

封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監(jiān)測(cè)裝置 888     

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本實(shí)用新型屬于封裝模塊監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監(jiān)測(cè)裝置，包括投影云紋模塊、X射線模塊、監(jiān)測(cè)分析模塊。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)封裝模塊的翹曲變形及缺陷進(jìn)行三維在線監(jiān)測(cè)的問(wèn)題，能夠?qū)?shí)際工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進(jìn)行三維在線監(jiān)測(cè)。

基于操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測(cè)試裝置 1053     

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本發(fā)明屬于閃存芯片可靠性測(cè)試技術(shù)，尤其是涉及一種通過(guò)操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測(cè)試裝置。本發(fā)明首先通過(guò)測(cè)試裝置采集樣本閃存芯片的操作時(shí)間或電流，然后對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，建立數(shù)據(jù)與閃存芯片可靠性的對(duì)應(yīng)關(guān)系，再由測(cè)試裝置收集待測(cè)閃存芯片的操作時(shí)間和電流，最后結(jié)合可靠性的對(duì)應(yīng)關(guān)系判斷待測(cè)芯片的可靠性。本發(fā)明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比，不易受到閃存中存儲(chǔ)數(shù)據(jù)取值的干擾，同時(shí)克服了一般方法無(wú)法有效防止閃存突然失效而造成數(shù)據(jù)損失的缺點(diǎn)。

封裝模塊翹曲變形及缺陷的在線監(jiān)測(cè)方法和裝置 691     

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本發(fā)明屬于封裝模塊監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的在線監(jiān)測(cè)方法和裝置，裝置包括投影云紋模塊、紅外成像模塊、監(jiān)測(cè)分析模塊；方法包括：通過(guò)投影云紋模塊獲得待測(cè)封裝模塊樣品的第一翹曲信息；通過(guò)紅外成像模塊獲得待測(cè)封裝模塊樣品的第二翹曲信息；根據(jù)第一翹曲信息、第二翹曲信息獲得監(jiān)測(cè)結(jié)果信息。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)封裝模塊的翹曲變形及缺陷進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)的問(wèn)題，能夠?qū)?shí)際工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)。

加筋板軸壓試驗(yàn)中加強(qiáng)筋側(cè)向變形的同步測(cè)量試驗(yàn)裝置 1014     

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本實(shí)用新型涉及一種加筋板軸壓試驗(yàn)中加強(qiáng)筋側(cè)向變形的同步測(cè)量試驗(yàn)裝置，包括壓縮試驗(yàn)機(jī)和夾具，夾具安裝于壓縮試驗(yàn)機(jī)上用于夾緊加筋板的兩端，還包括激光測(cè)距儀，激光測(cè)距儀正對(duì)加筋板上的加強(qiáng)筋放置，用于同步測(cè)量試驗(yàn)過(guò)程中加強(qiáng)筋的側(cè)向位移。本實(shí)用新型在常規(guī)加筋板試驗(yàn)的基礎(chǔ)上，引入激光測(cè)距儀設(shè)備，用于準(zhǔn)確測(cè)量試驗(yàn)過(guò)程中加筋板上加強(qiáng)筋的側(cè)向位移，進(jìn)一步地，對(duì)壓縮試驗(yàn)機(jī)記錄的軸向壓力和時(shí)間的關(guān)系曲線F?t及通過(guò)激光測(cè)距儀記錄的側(cè)向位移和時(shí)間的關(guān)系曲線D?t進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到側(cè)向位移和軸向壓力的關(guān)系曲線D?F，可以更準(zhǔn)確地計(jì)算加筋板的極限承載力，為分析出加筋板承載失效的真實(shí)原因奠定基礎(chǔ)。

封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監(jiān)測(cè)方法及裝置 791     

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本發(fā)明屬于封裝模塊監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監(jiān)測(cè)方法及裝置，裝置包括投影云紋模塊、X射線模塊、監(jiān)測(cè)分析模塊；方法包括：通過(guò)投影云紋模塊獲得待測(cè)封裝模塊樣品的第一翹曲信息；通過(guò)X射線模塊獲得待測(cè)封裝模塊樣品的第二翹曲信息；根據(jù)第一翹曲信息、第二翹曲信息獲得監(jiān)測(cè)結(jié)果信息。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)封裝模塊的翹曲變形及缺陷進(jìn)行三維在線監(jiān)測(cè)的問(wèn)題，能夠?qū)?shí)際工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進(jìn)行三維在線監(jiān)測(cè)。

超高強(qiáng)鋼動(dòng)態(tài)斷裂特性的表征測(cè)試方法 1015     

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本發(fā)明涉及一種超高強(qiáng)鋼動(dòng)態(tài)斷裂特性的表征測(cè)試方法，根據(jù)現(xiàn)有設(shè)備技術(shù)參數(shù)及超高強(qiáng)鋼強(qiáng)度高、韌性相對(duì)較低的特點(diǎn)，設(shè)計(jì)拉伸條件下具有不同應(yīng)力狀態(tài)的試樣，根據(jù)應(yīng)力三軸度從小到大為剪切、拉剪、單向拉伸、單孔拉伸、及不同尺寸缺口試樣，并根據(jù)不同試樣在不同應(yīng)變速率下的斷裂特性設(shè)計(jì)相應(yīng)試驗(yàn)矩陣，完成超高強(qiáng)鋼動(dòng)態(tài)斷裂性能的試驗(yàn)表征。試驗(yàn)采用3D非接觸式高速攝像光學(xué)應(yīng)變采集系統(tǒng)，同步記錄試驗(yàn)過(guò)程中試樣變形，采集材料不同應(yīng)力狀態(tài)及速率下失效數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)經(jīng)處理可在后續(xù)數(shù)值模擬分析中對(duì)相應(yīng)模型進(jìn)行標(biāo)定，完成精準(zhǔn)化建模。本發(fā)明充分利用設(shè)備特點(diǎn)，為后續(xù)碰撞模擬分析提供數(shù)據(jù)支持，大大提高車(chē)身安全設(shè)計(jì)評(píng)估的效率，有效降低成本。

芯片測(cè)試裝置及芯片測(cè)試方法 787     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種芯片測(cè)試裝置及芯片測(cè)試方法。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的芯片測(cè)試裝置包括測(cè)試單元，用于向芯片提供測(cè)試信號(hào)，以及獲取芯片反饋的反饋信號(hào)；探針卡，用于測(cè)試單元和芯片之間的電連接，探針卡用于測(cè)試信號(hào)和反饋信號(hào)的傳遞；以及去耦單元，與測(cè)試單元電連接，其中，反饋信號(hào)包括正常芯片反饋的正常反饋信號(hào)和失效芯片反饋的異常反饋信號(hào)，當(dāng)探針卡與芯片電連接時(shí)，去耦單元過(guò)濾異常反饋信號(hào)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的芯片測(cè)試裝置及芯片測(cè)試方法，設(shè)置有過(guò)濾異常反饋信號(hào)的去耦單元，能夠防止異常反饋信號(hào)與正常反饋信號(hào)產(chǎn)生耦合效應(yīng)，從而防止在測(cè)試時(shí)出現(xiàn)將合格芯片判斷為失效芯片的情況。

半導(dǎo)體存儲(chǔ)器老化測(cè)試系統(tǒng)及方法 659     

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本發(fā)明屬于半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器老化測(cè)試系統(tǒng)及方法，其系統(tǒng)包括測(cè)試核心板和測(cè)試板；測(cè)試核心板根據(jù)上位機(jī)指令生成測(cè)試信號(hào)和電源信號(hào)進(jìn)行調(diào)整后提供給DUT，并將DUT輸出信號(hào)與預(yù)設(shè)值比較得到初步測(cè)試結(jié)果分區(qū)存儲(chǔ)，并上傳到上位機(jī)；測(cè)試板用于承載DUT，為DUT提供時(shí)鐘信號(hào)和片選信號(hào)，單塊測(cè)試板設(shè)置有多個(gè)測(cè)試位，DUT老化測(cè)試可單顆進(jìn)行或多顆DUT同時(shí)進(jìn)行；其方法通過(guò)在測(cè)試核心板上輸出各種類(lèi)型的測(cè)試信號(hào)，并對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行延時(shí)調(diào)整、加強(qiáng)驅(qū)動(dòng)、波形控制等處理，以及對(duì)電源信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償，對(duì)測(cè)試結(jié)果通過(guò)分區(qū)設(shè)置的存儲(chǔ)區(qū)分別存儲(chǔ)，實(shí)現(xiàn)老化測(cè)試中對(duì)單個(gè)DUT測(cè)試過(guò)程控制的管理和失效分析的功能，并增加了DUT同測(cè)數(shù)，減少了測(cè)試資源開(kāi)銷(xiāo)。

基于多源狀態(tài)監(jiān)測(cè)信息和可靠性特征融合的液壓設(shè)備早期故障預(yù)測(cè)方法 853     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種基于多源狀態(tài)監(jiān)測(cè)信息和可靠性特征融合的液壓設(shè)備早期故障預(yù)測(cè)方法，旨在提供一種能夠識(shí)別早期故障信號(hào)，降低預(yù)警的誤報(bào)和漏報(bào)，提高故障預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確率。其技術(shù)方案的要點(diǎn)是，挖掘液壓設(shè)備的監(jiān)測(cè)信息與狀態(tài)評(píng)價(jià)之間的關(guān)聯(lián)規(guī)則；構(gòu)建基于多源傳感器監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)融合方法，實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)降維；融合監(jiān)測(cè)信息與可靠性壽命數(shù)據(jù)，構(gòu)建參數(shù)化的失效率函數(shù)(proportional?covariate?model,簡(jiǎn)稱(chēng)PCM)，預(yù)測(cè)設(shè)備的早期故障演變過(guò)程，為液壓設(shè)備運(yùn)行維護(hù)提供有力的預(yù)警信息。相對(duì)于傳統(tǒng)的液壓故障預(yù)測(cè)方法，該方法通過(guò)在液壓設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)信息中融合可靠性特征，能夠有效提高預(yù)測(cè)精度和拓寬預(yù)測(cè)區(qū)間等優(yōu)點(diǎn)。

水質(zhì)監(jiān)測(cè)用紅外測(cè)油儀 1094     

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本申請(qǐng)涉及一種水質(zhì)監(jiān)測(cè)用紅外測(cè)油儀，涉及水質(zhì)監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，以解決操作人員使用后常常忘記手動(dòng)關(guān)閉測(cè)試窗口，導(dǎo)致干燥劑快速失效的問(wèn)題，其包括紅外測(cè)油儀主體和用于監(jiān)測(cè)水質(zhì)的測(cè)試窗口，所述測(cè)試窗口設(shè)置于紅外測(cè)油儀的頂部，所述測(cè)試窗口處活動(dòng)連接有擋板，所述擋板用于開(kāi)啟和關(guān)閉所述測(cè)試窗口，所述紅外測(cè)油儀的內(nèi)部設(shè)置有復(fù)位機(jī)構(gòu)，所述復(fù)位機(jī)構(gòu)用于使擋板自動(dòng)復(fù)位，以關(guān)閉所述測(cè)試窗口。本申請(qǐng)具有設(shè)置擋板能夠?qū)y(cè)試窗口進(jìn)行遮擋，從而減緩紅外測(cè)油儀主體內(nèi)部的干燥劑失效，同時(shí)通過(guò)設(shè)置復(fù)位機(jī)構(gòu)，使打開(kāi)的擋板自動(dòng)關(guān)閉，無(wú)需操作人員手動(dòng)關(guān)閉，避免造成忘記關(guān)閉擋板從而使干燥劑快速失效的效果。