建筑體系張弦結構中預應力索失效下的防連續(xù)倒塌設計方法 838     

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本發(fā)明公開了建筑體系張弦結構中預應力索失效下的防連續(xù)倒塌設計方法，包括步驟(1)建立分析模型，獲得張弦結構的初始狀態(tài)及響應；步驟(2)選擇具體一個預應力索做失效處理，然后對整體結構進行響應分析；步驟(3)對預應力索構件逐一做失效處理并逐一對失效后的結構進行響應分析：重復步驟(2)，以得到每個預應力索處于失效狀態(tài)后的張弦結構的破壞狀態(tài)及響應；步驟(4)進行張弦結構防連續(xù)倒塌設計。該方法能夠有效防止在任意預應力索發(fā)生失效時張弦結構可能出現(xiàn)連續(xù)倒塌的情況發(fā)生，以保證張弦結構整體結構的穩(wěn)定性。

封裝器件的失效定位方法 769     

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本發(fā)明提供一種封裝器件的失效定位方法。封裝器件的失效定位方法包括：獲取未失效封裝器件的參考信號；所述參考信號包括所述未失效封裝器件的時域信號；獲取失效封裝器件的測量信號；所述測量信號包括所述失效封裝器件的時域信號；對比所述參考信號和所述測量信號，獲得所述失效封裝器件的失效位置。本發(fā)明所述的封裝器件的失效定位方法，分別獲得未失效封裝器件的參考信號和失效封裝器件的測量信號，并通過對比未失效封裝器件的參考信號和失效封裝器件的測量信號，可以快速獲得失效封裝器件的精確失效位置，極大地節(jié)省了研發(fā)人員測試失效位置的時間，幫助提升企業(yè)研發(fā)競爭力，為后續(xù)開展先進封裝器件失效分析定位工作提供參考。

靜電放電失效驗證方法 1055     

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本發(fā)明涉及一種靜電放電失效驗證方法，包括步驟：對待驗證芯片進行失效分析，記錄待驗證芯片的損傷信息；獲取與待驗證芯片同批次的良品芯片的損傷信息，良品芯片的損傷信息根據良品芯片通過靜電放電模擬損傷測試分析得到；將良品芯片的損傷信息與待驗證芯片的損傷信息進進行對比分析，判斷待驗證芯片是否發(fā)生靜電放電失效；當良品芯片的損傷信息與待驗證芯片的損傷信息一致時，則待驗證芯片發(fā)生靜電放電失效。上述靜電放電失效驗證方法，在進行靜電放電失效分析之前，對疑似靜電放電失效的芯片進行靜電放電失效驗證，避免直接采用靜電放電失效分析得到不準確的結果，提高了靜電放電失效分析的可靠性。

失效點的定位方法、裝置、計算機設備、介質和程序產品 897     

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本申請涉及一種失效點的定位方法、裝置、計算機設備、存儲介質和計算機程序產品。所述方法包括：獲取通過紅外熱成像裝置對被施加測試信號的待測試芯片進行掃描，獲得的所述待測試芯片表面的熱成像圖片，并對所述熱成像圖片進行分析，獲得所述待測試芯片表面各點的相位角；獲取通過圖像掃描裝置對所述被施加測試信號的待測試芯片進行掃描，獲得的所述待測試芯片表面的三維圖像，并對所述三維圖像進行分析，獲得所述待測試芯片表面各點的三維坐標；根據所述待測試芯片表面各點的相位角和三維坐標計算所述待測試芯片中失效點的三維坐標。采用本方法能夠提高芯片內部失效點定位精度。

獲取LED光源器件變色失效源頭的方法及裝置 762     

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本發(fā)明公開了一種獲取LED光源器件變色失效源頭的方法及裝置，其方法包括：獲取LED光源器件上LED光源變色區(qū)域中變色斑點中的斑點元素及變色失效結果成分；對LED光源器件上的燈具零部件采用X射線能譜儀對零部件中的元素進行分析，基于斑點元素確定可導致LED光源變色的燈具零部件；對確定可導致LED光源變色的燈具零部件與含銀驗證材料一體置于密封腔體內進行零部件失效反應；判斷每一零部件所對應的失效反應中的結果是否與LED光源的色變區(qū)域的變色失效結果相一致，確定所述燈具零部件為導致LED光源變色失效的源頭。通過實施本發(fā)明，能夠快速檢測LED燈光源發(fā)生變色失效的源頭，得到可能造成光源失效的源頭。

基于細觀動態(tài)復雜應力監(jiān)測的混凝土疲勞損傷分析方法 764     

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本發(fā)明公布了一種基于細觀動態(tài)復雜應力監(jiān)測的混凝土疲勞損傷分析方法，包括步驟：先制作一批試件，試件內布設9個空間應力傳感器；通過單軸疲勞加載試驗，確定SDF值最大時的傳感器陣列；通過試驗與模擬的方法，將優(yōu)化的傳感器陣列布設在試件或模型內，確定各受力模式下構件由加載到疲勞失效時的SDF—N曲線；在待測構件澆筑前將優(yōu)化過的傳感器陣列布設在構件中，通過傳感器可檢測出構件的受力模式，通過將監(jiān)測的SDF值與試驗或模擬的結果對比得出構件的疲勞損傷狀態(tài)。本發(fā)明克服了以往混凝土應力或應變監(jiān)測只能單向監(jiān)測的問題，在較小的體積上實現(xiàn)空間六向動態(tài)應力監(jiān)測，獲取真實的細觀應力狀態(tài)，更準確地分析結構的疲勞損傷狀態(tài)。

面向SoC的片上TDDB退化監(jiān)測及失效預警電路 832     

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本發(fā)明涉及一種面向SoC的片上TDDB退化監(jiān)測及失效預警電路，控制電路模塊將Q1、Q0信號轉化為開關狀態(tài)控制信號輸出至TDDB性能退化數字轉化模塊；TDDB性能退化數字轉化模塊內的第一MOS管電路的MOS管處于電源電壓的應力狀態(tài)下，第二MOS管電路的MOS管處于非應力狀態(tài)下；第一MOS管電路和第二MOS管電路在開關狀態(tài)控制信號的控制下，分別輸出第一頻率值和第二頻率值至輸出選擇模塊；輸出選擇模塊將TDDB性能退化數字轉化模塊輸出的第一頻率值輸出至計數器B中進行記錄，或者將第二頻率值輸出至計數器A中進行記錄；計數器模塊通過比較第一頻率值與第二頻率值確定TDDB性能的退化量。本發(fā)明的結構簡單，輸出可監(jiān)測TDDB性能退化過程，能夠對TDDB性能進行準確預警。

試驗箱及監(jiān)測試驗箱內燈具是否失效的方法 1098     

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本發(fā)明公開了一種監(jiān)測試驗箱內燈具是否失效的方法，包括如下步驟：采集試驗箱內圖像；獲取采集到的所述圖像；根據所述圖像判斷試驗箱內的燈具失效狀況。它是通過采集試驗箱內的燈具圖像，然后對所采集的圖像進行處理，判斷是燈具失效的狀況。該方法能取代人工觀察，節(jié)省人力物力，而且獲得的結果將更加準確及時。

測控保護裝置的失效評估方法、裝置、設備及存儲介質 872     

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本發(fā)明公開了一種測控保護裝置的失效評估方法，在確定出待測試的測控保護裝置的初始電氣參數和經加速試驗后的當前電氣參數之后，就對加速實驗后測得的測控保護裝置的當前電氣參數的準確性進行了判斷，目的是得出符合要求的目標電氣參數，剔除不符合要求的當前電氣參數，考慮了采集測控保護裝置數據時的隨機誤差；最后，依據初始電氣參數和符合要求的目標電氣參數實現(xiàn)對測控保護裝置的失效性評估。因此，應用本評估方法，可以對實驗后測得的電氣參數的準確性進行判斷，與傳統(tǒng)的評估方式相比，提高了測控保護裝置的失效評估準確性。另外，本發(fā)明還公開了一種測控保護裝置的失效評估裝置、設備及存儲介質，效果如上。

電遷移失效的剩余壽命預測方法和裝置 703     

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本發(fā)明提出一種電遷移失效的剩余壽命預測方法，包括步驟：建立MOS器件的電遷移壽命模型；根據預設的正常工作條件下的電流密度和第一環(huán)境溫度，以及電遷移壽命模型，獲取正常電遷移失效的壽命T1；根據目標預兆點T2和第二環(huán)境溫度，以及電遷移壽命模型，獲取電流密度應力；將電流密度應力輸入基于預兆單元的MOS器件電遷移失效預警電路；若基于預兆單元的MOS器件電遷移失效預警電路經過時間T3后輸出高電平，則根據T1、T2以及T3，獲取對應T2的電遷移失效的剩余壽命。本發(fā)明還提出一種電遷移失效的剩余壽命預測裝置，可以提高預測MOS器件電遷移失效剩余壽命的可靠性，提高預測效率，降低成本。

高分子材料蠕變失效時間的預測方法 785     

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本發(fā)明公開了一種高分子材料蠕變失效時間的預測方法，屬于高分子材料領域。本發(fā)明所述高分子材料蠕變失效時間的預測方法針對聚丙烯、聚乙烯等應用在塑料制品上的半結晶高分子材料，無需進行具體結晶和結構參數的測量便可實現(xiàn)在不同溫度和壓力條件下高效、準確的蠕變失效時間預測。本發(fā)明還公開了所述高分子材料蠕變失效時間的預測方法在預測塑料制品使用壽命上的應用，其對于塑料制品的生產、使用、更換及補強時機等方面均具有重大意義。

預測復合材料層合板失效強度的方法 1145     

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本發(fā)明公開的一種預測復合材料層合板失效強度的方法，包含以下順序的步驟：步驟一、建立復合材料層合板有限元模型；步驟二、建立復合材料損傷本構模型；步驟三、基于ABAQUS?VUMAT有限元用戶動態(tài)子程序模塊，使用FORTRAN語言編寫用戶自定義子程序實現(xiàn)提出的損傷本構模型，以求解應力、應變和損傷；步驟四、對有限元模型進行計算，預測復合材料層合板的失效強度。本發(fā)明利用ABAQUS?VUMAT用戶自定義子程序來數值實現(xiàn)所建立的三維損傷本構模型，該模型同時考慮了剪切非線性和損傷累積導致材料性能退化的影響，能準則預測復合材料的失效強度。

基于BGA菊花鏈式的BGA失效監(jiān)測儀的保護裝置 747     

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本實用新型屬于BGA失效監(jiān)測儀領域，尤其是一種基于BGA菊花鏈式的BGA失效監(jiān)測儀的保護裝置，針對現(xiàn)有BGA失效監(jiān)測儀使用位置固定，不便于移動，且BGA失效監(jiān)測儀的減震性較差，得不到較好的保護的問題，現(xiàn)提出如下方案，其包括監(jiān)測儀本體，所述監(jiān)測儀本體的底部開設有兩個固定槽，兩個固定槽內均滑動安裝有移動板，兩個移動板的底部均安裝有兩個剎車萬向輪，所述固定槽的兩側內壁上均開設有凹槽，移動板的兩側均固定安裝有移動座，移動座滑動安裝在對應的凹槽內。本實用新型結構合理，操作方便，該BGA失效監(jiān)測儀使用位置靈活，便于移動位置，且BGA失效監(jiān)測儀的減震性較好，可以得到較好的保護。

基于數字孿生技術的水土流失防治責任范圍失效預測方法 953     

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本發(fā)明公開了一種基于數字孿生技術的水土流失防治責任范圍失效預測方法及系統(tǒng)，步驟包括：從預設的數據庫中讀取水土流失防治責任范圍矢量數據；基于數字孿生技術的思路，建立可在生產建設項目水土保持監(jiān)督管理全生命周期內實現(xiàn)動態(tài)映射的數字孿生模型；基于所述數字孿生模型預測水土流失防治責任范圍的失效概率；判斷所述水土流失防治責任范圍失效的概率值是否大于預設的報警閾值；若所述失效概率值大于預設的報警閾值，則執(zhí)行對應的報警提示操作。本發(fā)明根據數學孿生技術的思路，建立數字孿生模型，并計算水土流失防治責任范圍失效的概率，基于失效概率進行失效警報，提高遙感監(jiān)管工作中對于生產建設項目“未批先建”事件判別的準確率。

實際運行工況環(huán)境下電器元件腐蝕失效預測方法 639     

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本發(fā)明公開了一種實際運行工況環(huán)境下電器元件腐蝕失效預測方法，包括：步驟一、獲取所述服役環(huán)境對腐蝕所述電器元件有影響的關鍵環(huán)境參數；步驟二、測量得到表面腐蝕產物膜總厚度平均值步驟三、構建加速試驗環(huán)境；步驟四、將所述電器元件和n片銅測試片放置在所述加速試驗環(huán)境中進行加速腐蝕試驗，分n次測量所述電器元件受環(huán)境腐蝕影響的關鍵性能P和所述銅測試片的表面腐蝕產物膜總厚度T_總；步驟五、擬合得到P＝K₁ln(t′)+B₁，T_總＝K₂ln(t′)+B₂；步驟六、當P＝P′時，T_總的取值T_總′；并且，計算得到所述電器元件在服役環(huán)境運行的腐蝕失效時間預測值D_失。本發(fā)明具有精確度高的優(yōu)點，能夠幫忙使用者精準的對電器元件進行腐蝕失效預測以及指導運維。

測試樁與注漿土體接觸面失效機理的試驗裝置 892     

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本實用新型提供一種測試樁與注漿土體接觸面失效機理的試驗裝置，包括加載裝置及管樁模型試驗箱；所述加載裝置包括反力架、設置在所述反力架上給管樁模型試驗箱提供壓力的加載機構；安裝在所述反力架上的管樁模型試驗箱，所述加載機構設置在所述反力架的頂部內側；所述管樁模型試驗箱可拆卸地設置在所述反力架的內部；所述加載機構位于所述管樁模型試驗箱的管樁模型安裝位的上方；所述反力架的頂部內側設有用于檢測所述管樁模型的縱向移動位置的位移檢測裝置。通過上述結構，本實用新型拆裝方便，可移動，加載準確且強度和剛度滿足試驗要求的樁基模型試驗系統(tǒng)來保證試驗的順利進行。

測試樁與注漿土體接觸面失效機理的試驗裝置及方法 820     

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本發(fā)明提供一種測試樁與注漿土體接觸面失效機理的試驗裝置，包括加載裝置及管樁模型試驗箱；所述加載裝置包括反力架、設置在所述反力架上給管樁模型試驗箱提供壓力的加載機構；安裝在所述反力架上的管樁模型試驗箱，所述加載機構設置在所述反力架的頂部內側；所述管樁模型試驗箱可拆卸地設置在所述反力架的內部；所述加載機構位于所述管樁模型試驗箱的管樁模型安裝位的上方；所述反力架的頂部內側設有用于檢測所述管樁模型的縱向移動位置的位移檢測裝置。本發(fā)明還提供一種使用所述的試驗裝置進行的測試管樁與注漿土體接觸面失效機理的試驗試驗方法。通過上述結構及步驟，本發(fā)明拆裝方便，可移動，加載準確且強度和剛度滿足試驗要求的樁基模型試驗系統(tǒng)來保證試驗的順利進行。

電能表可靠性試驗顯示失效自動測試裝置 866     

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本實用新型涉及電能計量設備檢測技術領域，公開了一種電能表可靠性試驗顯示失效自動測試裝置。本實用新型的裝置包括按鍵模塊、傳感模塊和監(jiān)控模塊，其中按鍵模塊包括多個模擬按鍵端子，每個模擬按鍵端子設置于與被測電能表的一按鍵對應的按壓位置，傳感模塊包括用于在按鍵被按壓后，對被測電能表的對應顯示模塊進行光電信號檢測的傳感器；該監(jiān)控模塊用于控制所述模擬按鍵端子按壓對應按鍵，以及根據傳感器傳遞的數據判斷對應顯示模塊是否故障。本實用新型能夠模擬人工按鍵操作，實現(xiàn)對電能表的顯示功能的自動檢測，可以有效節(jié)省人力成本，提高效率，智能性高。

陽離子交換樹脂失效特性曲線測定設備 1070     

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上述的陽離子交換樹脂失效特性曲線測定設備包括：水樣接口閥、原水流通池、第一測量電極、陽離子交換柱、離子交換水流通池、第二測量電極及電導率儀。電導率儀可同步檢測原水樣及陽離子交換柱出水的電導率，通過對比原水樣電導率與陽離子交換柱出水電導率，能夠確定陽離子交換柱內陽離子交換樹脂狀態(tài)，從而確定陽離子時效樹脂失效特性曲線。上述的陽離子交換樹脂失效特性曲線測定設備可以測量不同水樣對同種陽離子交換樹脂的失效特性曲線，或者相同水樣對不同陽離子交換樹脂的失效特性曲線，以滿足實際生產中的監(jiān)測需求。

芯片失效類型測試系統(tǒng) 954     

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本申請?zhí)峁┝艘环N芯片失效類型測試系統(tǒng)，包括：檢測裝置，用于輸出檢測信號至待測芯片；處理裝置，與檢測裝置通信連接，且與待測芯片通信電連接，處理裝置用于至少控制檢測信號的測試頻率和測試功率以對待測芯片進行測試，并根據待測芯片在測試過程中的輸出信號確定到待測芯片是否失效以及在失效情況下確定失效類型。該系統(tǒng)將處理裝置與檢測裝置連接，通過處理裝置至少控制檢測信號的測試頻率和測試功率以對待測芯片進行測試，并根據待測芯片在測試過程中的輸出信號確定到待測芯片是否失效以及在失效情況下確定失效類型，實現(xiàn)芯片測試的自動化控制，進而解決了現(xiàn)有技術中無法自動識別區(qū)分芯片失效類型的問題。

電磁屏蔽層失效監(jiān)測方法、裝置及系統(tǒng) 1117     

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本發(fā)明實施例公開了一種電磁屏蔽層失效監(jiān)測方法、裝置及系統(tǒng)，電磁屏蔽層設置于變壓器的外殼內壁，變壓器的外殼內部設置有渦流檢測裝置，變壓器的外殼外部設置有漏磁檢測裝置；方法包括：獲取變壓器三側開關的電流值，并根據電流值判斷變壓器是否帶電；若變壓器帶電，則啟動漏磁檢測裝置，并通過漏磁檢測裝置檢測電磁屏蔽層是否失效；若變壓器不帶電，則啟動渦流檢測裝置，并通過渦流檢測裝置檢測電磁屏蔽層是否失效。本發(fā)明實施例提供的技術方案采用內部和外部檢測相結合的方法，持續(xù)在線監(jiān)測電磁屏蔽層運行狀態(tài)，實現(xiàn)了對電磁屏蔽層運行狀態(tài)進行在線監(jiān)測，以及對維護相關人員人身健康和安全的防護，降低了工作人員的安全隱患。

晶閘管電壓監(jiān)測板的污穢失效測試方法 1072     

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本發(fā)明公開了一種晶閘管電壓監(jiān)測板的污穢失效測試方法，包括：模擬換流站閥廳電氣設備的實際污穢程度，對待測晶閘管電壓監(jiān)測板的表面進行涂污。調整當前的環(huán)境相對濕度為預設的初始環(huán)境相對濕度，并對所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板進行加壓測試，記錄所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板發(fā)出回報信號時刻的脈沖寬度和對應的電源電壓幅值。判斷所述脈沖寬度和電源電壓值是否均滿足標準范圍值；若是，則根據預設調整量調整所述初始環(huán)境相對濕度，再次進行加壓測試；若否，則判定所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板在當前的環(huán)境相對濕度下已失效，并結束污穢失效測試。本發(fā)明實施例能在預設污穢程度下確定晶閘管電壓監(jiān)測板的失效濕度，為其污穢失效機理提供實驗依據。

純錫鍍層元器件錫須生長失效預測方法與系統(tǒng) 809     

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本發(fā)明提供一種純錫鍍層元器件錫須生長失效預測方法與系統(tǒng)，獲取純錫鍍層元器件中錫須生長長度對數均值、對數標準差、錫須生長面密度均值以及面密度標準差數據，擬合出多項式擬合公式，計算錫須面密度均值、標準差、錫須生長長度對數均值以及對數標準差，分別進行第一次和第二次蒙特卡羅運算分析，得到錫須長度數據，根據錫須長度數據和預設失效判據，計數每組面密度中引起短路失效的錫須根數，計算待預測純錫鍍層元器件中引腳對的錫須生長失效率。整個過程中，從失效物理的角度，分別考慮錫須生長的面密度和長度值，并基于蒙特卡羅算法，分別進行迭代運算，兼顧錫須生長的失效物理因素，能對各類純錫鍍層元器件中錫須生長失效進行快速、準確預測。

鐵路提速道岔岔枕失效螺栓重錨的檢修方法 1007     

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本發(fā)明涉及鐵路器件檢修技術領域，且公開了一種鐵路提速道岔岔枕失效螺栓重錨的檢修方法，包括以下步驟：S1：加熱，用加熱搶對準檢修設備的棱錐、開槽條和固定柱，對其進行加熱，加熱到220?250攝氏度；S2：開槽，把加熱后的檢修設備插入螺栓套管中，勻速按壓按壓盤，此時導向盤起到導向作用；S3：降溫，用水對螺栓套管和檢修設備進行降溫；S4：取出檢修，把檢修設備再次插入螺栓套管中，然后將轉動桿插入插接孔中，把螺栓套管取出，進行檢修。本發(fā)明整個操作過程比較簡單，而且通過棱錐的設置能夠起到很好的開槽效果，不用重復開槽，按壓盤的設置也方便按壓和取出，省時省力。

用于快速預測高溫金屬部件受熱面失效趨勢的手持式探頭 1104     

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一種快速預測高溫金屬部件受熱面失效趨勢的手持式探頭：探頭形如手槍狀，槍身內前部從上往下設有等離子體光譜收光透鏡(3)和脈沖激光聚焦透鏡(2)，兩者焦點重合于一點，脈沖激光聚焦透鏡后設有激光頭(1)，激光頭的開關(6)設在手柄(5)上，等離子體光譜收光透鏡后的焦點處設有帶光纖(4)的光纖頭，光纖頭的收光方向與激光頭的出光方向之間成一定角度，光纖和電源線(8)套有保護套管(9)后外接處理分析模塊和電源。本探頭利用激光誘導擊穿光譜技術預測分析受熱面材料的失效趨勢，避免了傳統(tǒng)割管檢測造成的損傷，實現(xiàn)了對受熱面材料的無損、快速預測，該探頭結構簡單，操作靈活，攜帶方便。

用于發(fā)光器件加工過程中的防失效定位檢驗方法及系統(tǒng) 777     

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本發(fā)明提供了一種用于發(fā)光器件加工過程中的防失效定位檢驗方法及系統(tǒng)，主要用于在發(fā)光器件制程中對倒裝發(fā)光芯片位置在可能發(fā)生變化的工序后進行檢測，其中包括：在倒裝發(fā)光芯片轉移至基板上后對倒裝發(fā)光芯片進行檢測、在倒裝發(fā)光芯片進行回流焊后對倒裝發(fā)光芯片進行檢測；為了滿足精確監(jiān)控的條件，還在發(fā)光器件的制程中增設部分特殊工藝以及對結構進行調整，具有位置檢測精度高等優(yōu)點。

紅外溫度計及紅外溫度計的失效檢驗方法 1010     

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本發(fā)明公開了一種紅外溫度計，包括熱電偶冷端、熱電偶熱端、紅外窗口、參照發(fā)射體以及檢測電路；參照發(fā)射體與熱電偶冷端接觸，參照發(fā)射體可移動至紅外窗口的接收面前方；熱電偶熱端置于紅外窗口的出射面前方；檢測電路根據熱電偶冷端的溫度以及預先存儲的參照發(fā)射體的能量數據庫判斷熱電偶熱端接收到的紅外輻射能量是否合理，當熱電偶熱端接收到的紅外輻射能量合理時，判定紅外溫度計失效。相應地，本發(fā)明還公開了一種紅外溫度計的失效檢驗方法。本發(fā)明可以判斷紅外溫度計是否失效，避免測量不準確，且這種方式無需等待，也不需要增加功耗。

電梯光幕失效自檢裝置 1033     

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本實用新型公開了一種電梯光幕失效自檢裝置，所述裝置包括電梯控制系統(tǒng)、光幕發(fā)射端、光幕接收端、轎廂通訊板和光幕檢測開關元件，所述電梯控制系統(tǒng)與轎廂通訊板連接，所述轎廂通訊板與光幕接收端連接，所述光幕檢測開關元件分別與轎廂通訊板和光幕發(fā)射端連接；所述電梯控制系統(tǒng)，用于檢測當前電梯的狀態(tài)，以及判斷是否有光幕阻擋信號；所述光幕發(fā)射端發(fā)射光束至光幕接收端，用于檢測電梯轎門之間是否有阻擋物；所述轎廂通訊板，用于根據電梯控制系統(tǒng)的命令斷開或復位光幕檢測開關元件，以及傳輸光幕狀態(tài)信號；所述光幕檢測開關元件，用于檢測光幕是否失效。本實用新型通過預檢測的方式，能及時得知光幕的工作情況。

電梯光幕失效自檢方法及裝置 1013     

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本發(fā)明公開了一種電梯光幕失效自檢方法及裝置，所述方法包括：通過電梯控制系統(tǒng)檢測當前電梯的狀態(tài)，當檢測到電梯在?？繝顟B(tài)、電梯門在關門狀態(tài)、電梯無召喚信號時，判斷在關門狀態(tài)下是否有光幕阻擋信號，當確認無光幕阻擋信號后，發(fā)送命令至轎廂通訊板斷開光幕檢測開關元件，光幕檢測開關元件斷開光幕發(fā)射端的電源；此時，光幕接收端輸出光幕狀態(tài)信號至轎廂通訊板，轎廂通訊板將接收到的光幕狀態(tài)信號發(fā)送至電梯控制系統(tǒng)，當電梯控制系統(tǒng)接收到的光幕狀態(tài)信號為光幕阻擋信號時，判斷本次光幕測試正常，然后發(fā)送命令至轎廂通訊板復位光幕檢測開關元件，使電梯控制系統(tǒng)接收到光幕正常的信號。本發(fā)明通過預檢測的方式，能及時得知光幕的工作情況。

基于視頻序列影像特征分析的云臺移動與復位檢測算法 802     

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本發(fā)明公開了一種基于視頻序列影像特征分析的云臺移動與復位檢測算法，主要采用模板匹配準則，即如果云臺發(fā)生移動或變焦，則在一段時間內模板匹配必然會失效，同理，如果云臺復位，則在一段時間內模板會重新匹配成功；包括兩大步驟：1)在背景圖像中搜索定位合適的模板，選擇匹配準則并計算偏移度；2)判斷云臺移動與復位。本發(fā)明算法可以較準確的檢驗出云臺移動的情況，從而提高在云臺移動攝像機條件下系統(tǒng)的識別率和穩(wěn)定性。